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Etude Par Microscopie Electronique Et Diffraction Des Rayons X Des Configurations Et Densites De Dislocations Des Probabilites Et Energies De Defauts Dempilement Dalliages A Base De Cuivre
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Book Synopsis Etude par microscopie électronique et diffraction des rayons X, des configurations et densités de dislocations, des probabilités et énergies de défauts d'empilement d'alliages à base de cuivre by : Daniel Rondot
Download or read book Etude par microscopie électronique et diffraction des rayons X, des configurations et densités de dislocations, des probabilités et énergies de défauts d'empilement d'alliages à base de cuivre written by Daniel Rondot and published by . This book was released on 1970 with total page 118 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Etude par diffraction des rayons X et microscopie électronique en transmission de couches GaInAs déposées sur substrat {111} vicinal by : Hélène Varlet
Download or read book Etude par diffraction des rayons X et microscopie électronique en transmission de couches GaInAs déposées sur substrat {111} vicinal written by Hélène Varlet and published by . This book was released on 2006 with total page 138 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le travail présenté dans ce mémoire vise à mieux comprendre les mécanismes mis en jeu lors de la relaxation de couches épitaxiées GaInAs déposées sur substrat GaAs vicinal {111}. L'angle de coupe, nécessaire pour garantir une croissance bidimensionnelle de la couche, est à l'origine d'une forte anisotropie de relaxation. Une méthode de caractérisation par diffraction des rayons X, ne nécessitant aucune hypothèse préalable sur l'état de contrainte, a été développée pour déterminer précisément la composition chimique et l'état de relaxation des couches. Elle a permis de montrer, pour des couches d'épaisseur de l'ordre du micromètre, qu'il existe une importante rotation des plans cristallins de la couche et que la relaxation se produit très majoritairement suivant la direction de l'angle de coupe. Les observations fournies par la microscopie électronique viennent confirmer ce résultat. La relaxation plastique se produit par génération de fautes d'empilement intrinsèques bordées par des dislocations partielles. Pour expliquer les mécanismes ayant conduit à cette anisotropie, l'effet des bords de marches et la nature des défauts sont considérés.
Book Synopsis Analyse structurale et chimique des matériaux by : Jean-Pierre Eberhart
Download or read book Analyse structurale et chimique des matériaux written by Jean-Pierre Eberhart and published by Bordas Editions. This book was released on 1989 with total page 614 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides by : Jean-Pierre Eberhart
Download or read book Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides written by Jean-Pierre Eberhart and published by . This book was released on 1976 with total page 532 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Etude par microscopie électronique et diffraction de rayons X des mécanismes de formation de l'oxyde dans les alliages argent-magnésium by : Alice Becquart-Gallissian
Download or read book Etude par microscopie électronique et diffraction de rayons X des mécanismes de formation de l'oxyde dans les alliages argent-magnésium written by Alice Becquart-Gallissian and published by . This book was released on 2000 with total page 112 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'oxydation interne est un moyen idéal pour suivre une réaction de précipitation à partir des premiers stades Jusqu'à a phase oxyde. Nous avons ainsi étudié les mécanismes de formation et la morphologie de l' oxyde, précipités de MgO ou bandes d'oxydes parallèles à la surface lors de cette reaction dans les alliages Ag-Mg. Les techniques principales d'investigations ont été la microscopie electronique en Transmission Conventionnelle (METC) et Haute Résolution (METHR), Spectrométrie de pertes d'énergie des électrons (EELS), la Diffraction de rayons X la Microscope électronique à balayage (MEB) et la Spectrométrie de rayons X en dispersion d énergie (EDS). Nous avons mis en évidence, pour la première fois, l'existence de deux types de précipitation : inter et intragranulaire dans ce système. De plus, nous avons montré que le meilleur moyen d obtenir des interfaces métal/oxyde bien définies, passe par la formation de précipités cohérents et leur croissance. On obtient ainsi des précipités de forme octaédrique présentant des plans d' accolement (111) avec la matrice. L'analyse chimique par EELS montre l' existence des liaisons de type Ag-O-Mg à l'interface...
Book Synopsis Microscopie électronique à balayage et microanalyses by : François Brisset
Download or read book Microscopie électronique à balayage et microanalyses written by François Brisset and published by EDP Sciences. This book was released on 2012-12-04 with total page 930 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Book Synopsis Étude de dislocations décorées et de "défauts d'empilement décorés" dans des structures cubiques, par microscopie électronique en transmission et à l'aide de calculs de simulation by : Frank Montheillet
Download or read book Étude de dislocations décorées et de "défauts d'empilement décorés" dans des structures cubiques, par microscopie électronique en transmission et à l'aide de calculs de simulation written by Frank Montheillet and published by . This book was released on 1976 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis CONTRIBUTION A L'ETUDE DES CONTRASTES DE DIFFRACTION EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSION. APPLICATION AUX CONTOURS D'EXTINCTION ET AUX DEFAUTS D'EMPILEMENT by : C.. PRUNIER MORY
Download or read book CONTRIBUTION A L'ETUDE DES CONTRASTES DE DIFFRACTION EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSION. APPLICATION AUX CONTOURS D'EXTINCTION ET AUX DEFAUTS D'EMPILEMENT written by C.. PRUNIER MORY and published by . This book was released on 1973 with total page 31 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: INTRODUCTION, GRACE A LA THEORIE DYNAMIQUE, D'EQUATIONS PERMETTANT DE RENDRE COMPTE DU TRAJET DES ELECTRONS DANS LE CRISTAL PARFAIT ET DES INFORMATIONS RECUEILLIES A LA SORTIE DE CELUI-CI. REGLES DE CONTRASTE DES DEFAUTS D'EMPILEMENT EN HAUTE TENSION
Book Synopsis Contribution à l'étude par diffraction des rayons x et microscopie électronique des défauts de réseau dans les alliages [alpha] Cu-Sn après déformation plastique by : Jean Mignot
Download or read book Contribution à l'étude par diffraction des rayons x et microscopie électronique des défauts de réseau dans les alliages [alpha] Cu-Sn après déformation plastique written by Jean Mignot and published by . This book was released on 1975 with total page 125 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
![Download Contribution à l'étude par diffraction des rayons x et microscopie électronique des défauts de réseau dans les alliages [alpha] Cu-Sn après déformation plastique PDF Online Free](https://books.google.com/books/content/images/frontcover/rI25HAAACAAJ?fife=w200-h370)
