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Observation Par Microscopie Electronique En Transmission Des Defauts Etendus Introduits Par Deformation A Haute Temperature Dans Le Nitrure Daluminium
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Book Synopsis Observation par microscopie électronique en transmission des défauts étendus introduits par déformation à haute température dans le nitrure d'aluminium by : Virginia Feregotto
Download or read book Observation par microscopie électronique en transmission des défauts étendus introduits par déformation à haute température dans le nitrure d'aluminium written by Virginia Feregotto and published by . This book was released on 1996 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Nous avons déformé par compression, jusqu'à 10%, des polycristaux de nitrure d'aluminium (AlN) et nous avons étudié les défauts étendus introduits. Les essais mécaniques ont été effectués entre 1550 et 1650°C sous atmosphère neutre, soit par fluage sous des contraintes de 150 à 250 MPa soit à vitesse de déformation constante ([Epsilon] = 5.10-6 s-1). Les courbes de fluage sont constituées d'un stade transitoire et d'un stade quasi-stationnaire tandis que les courbes à [Epsilon] constant présentent un léger crochet de traction suivi d'un stade à faible durcissement. La principale conséquence de la déformation est la création aux joints de grains de cavités qui coalescent créant de longs vides responsables de la ruine du matériau. Les résultats les plus originaux concernent l'observation des défauts intragranulaires étendus, notamment les dislocations, les boucles de dislocations, les fautes d'empilement et les parois de domaines d'inversion (IDBs). La densité de dislocation, initialement très faible, croit avec la déformation jusqu'à atteindre localement 1010cm-2. Le mouvement des dislocations se produit selon la valeur de la contrainte, par glissement dans le plan de base et dans d'autres plans (surtout {1010}), ou par montée. Des sous-joints de flexion et de torsion ont été observés. La plupart des dislocations sont de type a mais quelques empilements de dislocations c+a ont été vus dans (0001). De larges fautes d'empilements, situées dans (0001) et bordées de dislocations partielles de Shockley ou de Frank-Shockley, ont été observées sur des échantillons déformés à faible [Sigma]. Simultanément à ces fautes, on note la présence des boucles, dont la nature et la densité dépend très fortement des conditions de déformation: il s'agit de boucles de Frank, de Frank-Shockley et de quelques boucles de Shockley. La caractérisation des boucles de Frank (R = ± c/2), montre qu'elles résultent de la précipitation d'atomes interstitiels, ce qui suggère une diffusion couplée des atomes d'aluminium et d'azote. Les IDBs constituent souvent des obstacles au mouvement des dislocations. Dans certains IDBs plans nous avons mis en évidence la formation de réseaux constitués de dislocations des trois vecteurs de burgers a, dissociées, avec nœuds alternativement étendus et constrictes, configurations qui n'avaient jamais été observées
Book Synopsis Caractérisation par microscopie électronique à transmission conventionnelle et haute résolution des défauts de réseau d'une phase C16:Al2Cu (0) by : Chokri Hadj Belgacem
Download or read book Caractérisation par microscopie électronique à transmission conventionnelle et haute résolution des défauts de réseau d'une phase C16:Al2Cu (0) written by Chokri Hadj Belgacem and published by . This book was released on 2004 with total page 106 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les défauts cristallins de la phase AbCu(0) ont été étudiés par trois techniques différentes de microscopie électronique à transmission (MET). En MET à deux ondes, des difficultés d'interprétation des images des dislocations ont surgi en utilisant les critères classiques d'extinction du contraste. Elles ont été levées en construisant un nouveau programme de calcul tenant compte de l'effet de relaxation élastique de la dislocation près des surfaces libres de la lame mince. En MET in situ, les observations de AbCu(0) monocristallin chauffé à 370ʿC ont démontré qu'à cette température les contraintes thermiques étaient relâchées de deux façons: par glissement dévié et par émission de défauts plans. En MET à haute résolution, l'observation indique la présence de dislocations ayant un vecteur b = 001 ou (1/2)111 ; la stabilité mécanique d'un groupement de trois dislocations en fortes interactions élastiques a pu être expliquée en tenant compte de l'anisotropie élastique de AI2Cu(0), même si celle-ci s'avère être faible.
Book Synopsis Etude Des Metaux par Microscopie Electronique En Transmission by :
Download or read book Etude Des Metaux par Microscopie Electronique En Transmission written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 13 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Microstructures d'oxydes supraconducteurs à haute température critique à base de mercure ; modification par déformation plastique by : Dominique Eyidi
Download or read book Microstructures d'oxydes supraconducteurs à haute température critique à base de mercure ; modification par déformation plastique written by Dominique Eyidi and published by . This book was released on 1999 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES MICROSTRUCTURES DE DEFAUTS DANS LES MATERIAUX SUPRACONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE (HG, M)BA 2CA N 1CU NO 2 N + 2 + . LE MATERIAU HG 0 . 8 2RE 0 . 1 8BA 2CA 2CU 3O 8 + (T C = 135 K) BRUT DE SYNTHESE RENFERME UNE GRANDE VARIETE DE PHASES SECONDAIRES (OXYDES) ET DE FORTES DENSITES DE FAUTES D'INTERCROISSANCES (HG, RE)-1212 DANS LE PLAN BASAL. LES SYSTEMES DE GLISSEMENT SONT (001)100 ET (001)110. DES DISLOCATIONS PARFAITES ET DES FAUTES D'INTERCROISSANCES SONT EGALEMENT PRESENTES DANS LES MATERIAUX NON SUBSTITUES HG-1212 ET HG-1223. LA DEFORMATION D'ECHANTILLONS (HG, RE)-1223 A TEMPERATURE AMBIANTE PAR COMPRESSION UNIAXIALE SOUS PRESSION DE CONFINEMENT PROVOQUE L'ACTIVATION SUBSTANTIELLE DES SYSTEMES DE GLISSEMENT (001)100 ET (110)110, EN MEME TEMPS QU'UNE AUGMENTATION SENSIBLE DE LA DENSITE DE DISLOCATIONS ET DE MICROFISSURES. LES DISLOCATIONS NUCLEEES AU COURS DE LA DEFORMATION PRESENTENT DE LONGS SEGMENTS VIS RECTILIGNES QUI SUGGERENT L'EXISTENCE DE FORTES CONTRAINTES DE PEIERLS LE LONG DES DIRECTIONS 100 ET 110. LES DISLOCATIONS DE VECTEUR DE BURGERS 110 SONT SUJETTES A DES DISSOCIATIONS PAR MONTEE ET A DES EVENEMENTS DE GLISSEMENT DEVIE VERS (001). LA DEFORMATION PLASTIQUE ENTRAINE UNE DIMINUTION DU VOLUME SUPRACONDUCTEUR PAR REDUCTION DE LA TAILLE DES GRAINS. DES MESURES D'AIMANTATION ET DE SUSCEPTIBILITE ALTERNATIVE MONTRENT QUE POUR DES TAUX INFERIEURS A 20%, LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE DECROIT LEGEREMENT, ALORS QU'ON NOTE UNE AMELIORATION NETTE POUR LES ECHANTILLONS DEFORMES A 63%. CETTE HAUSSE DU COURANT CRITIQUE A ETE ATTRIBUEE A L'ACCROISSEMENT DE LA DENSITE DE DISLOCATIONS, ET EN PARTICULIER A CELLE DES SEGMENTS COINS DES DISLOCATIONS DE VECTEURS DE BURGERS 100. CES SEGMENTS SONT SUSCEPTIBLES D'ANCRER EFFICACEMENT LES VORTEX PAR UN EFFET DE TAILLE.
Book Synopsis Etude par miscroscopie [i.e. microscopie] électronique en transmission des mécanismes de déformation d'un superalliage à base de nickel en fatigue oligocyclique à haute température by : Valérie Brien
Download or read book Etude par miscroscopie [i.e. microscopie] électronique en transmission des mécanismes de déformation d'un superalliage à base de nickel en fatigue oligocyclique à haute température written by Valérie Brien and published by . This book was released on 1995 with total page 205 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission by : Armand Béché
Download or read book Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission written by Armand Béché and published by . This book was released on 2009 with total page 188 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maîtrise des phénomènes de déformation à une telle échelle. La demande de caractérisation se trouve donc en forte croissance, avec des contraintes de plus en plus forte en termes de résolution spatiale et de sensibilité en déformation. La mise au point et/ou l'amélioration de techniques repondant à ces critères est donc nécessaire. Le microscope électronique en transmission étant l'un des seuls instruments capables de mesurer quantitativement des déformations à l'échelle nanométrique, quatre différentes techniques liées à cet appareil ont été étudiées : la technique des moirés, la diffraction en faisceau convergent, la nanodiffraction et l'holographie en champ sombre. La disponibilité du microscope de dernière génération FEI Titan a permis d'obtenir des résultats marquants pour chacune de ces techniques. Les quatre techniques étudiées font l'objet d'une étude poussée sur leur résolution, leur sensibilité en déformation, leurs limites d'utilisation, leur mode d'acquisition et les contraintes qu'elles imposent dans la préparation d'échantillons. Ainsi, la technique des moirés possède une résolution de l'ordre de la vingtaine de nanomètre avec une sensibilité de 4.10^-4 mais nécessite des échantillons particuliers. La diffraction en faisceau convergent est la technique possédant la meilleure résolution spatiale (1 à 2 nm) combinée à une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Cependant, l'inhomogénéité du champ de déplacement dans l'épaisseur de l'échantillon, phénomène très présent dans les lames minces, rend cette méthode difficile à utiliser de façon courante. La nanodiffraction est probablement la technique la plus facile à mettre en place et s'applique à la plus grande partie des matériaux ou objets. Elle possède une résolution intéressante (jusqu'à 3 nm) mais une sensibilité en déformation limitée à 6.10^-4 dans le meilleur des cas. Pour finir, l'holographie en champ sombre, technique très récente, offre une bonne résolution (autour de 4 ou 5 nm) avec une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Ces quatre techniques sont comparées entre elles sur des échantillons le permettant.
Book Synopsis High Speed Transmission Electron Microscopy of Instabilities in Laser Pulse Produced Melts in Metal Films by : Tobias Nink
Download or read book High Speed Transmission Electron Microscopy of Instabilities in Laser Pulse Produced Melts in Metal Films written by Tobias Nink and published by . This book was released on 2000 with total page 77 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Microscopie électronique à balayage et microanalyses by : François Brisset
Download or read book Microscopie électronique à balayage et microanalyses written by François Brisset and published by EDP Sciences. This book was released on 2012-12-04 with total page 930 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Book Synopsis Mesures de déformations dans des dispositifs de la microélectronique par microscopie électronique en transmission en haute résolution et holographie en champ sombre by : Florian Hüe
Download or read book Mesures de déformations dans des dispositifs de la microélectronique par microscopie électronique en transmission en haute résolution et holographie en champ sombre written by Florian Hüe and published by . This book was released on 2008 with total page 162 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les matériaux cristallins sous contrainte font aujourd'hui partie intégrante des dispositifs de la microélectronique car ils offrent une amélioration considérable de la mobilité des porteurs dans les zones actives. Dans un premier temps, nous avons développé l'analyse de phases géométriques (GPA) d'images en haute résolution (HREM), en étudiant des couches minces de silicium en contrainte biaxiale sur des pseudo-substrats de SiGe. Les résultats obtenus pour différentes gammes de Si1-xGex et différentes épaisseurs de films minces, comparés à des simulations par éléments finis (FEM), ont permis d'optimiser cette méthode. La précision sur la mesure des déformations atteint 0,2% et le champ de vue 200 nm x 200 nm. Mesures expérimentales et simulations FEM ont également permis de quantifier l'effet de relaxation des lames minces de microscopie. L'étude d'un système plus complexe, un p-MOSFET, a montré la possibilité de cartographier pour la première fois les champs de déformations en deux dimensions avec une résolution spatiale pouvant atteindre 2 nm. Cette thèse présente également, dans un second temps, une nouvelle méthode développée au sein du CEMES-CNRS : l'holographie en champ sombre. Cette technique, nécessitant un canon à émission de champ et un biprisme électrostatique, permet de réaliser des franges d'interférences, entre une onde diffractée par un réseau cristallin parfait et une onde diffractée par un réseau déformé. Ainsi, il devient possible de cartographier les déformations sur un très large champ de vue (500 nm x 2 μm) avec une meilleure précision qu'en haute résolution : 0,02%.
Book Synopsis Contrôle dynamique et optimisation des observations en microscopie électronique en transmission by : Julien Dupuy
Download or read book Contrôle dynamique et optimisation des observations en microscopie électronique en transmission written by Julien Dupuy and published by . This book was released on 2021 with total page 273 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le microscope électronique en transmission est un outil puissant et versatile qui permet de sonder la matière à des échelles atomiques. En fonction de la façon dont on l'aligne, différents aspects de celle-ci se révèlent, et l'on peut observer sa structure, sa composition, et bien plus encore. Cependant, l'outil reste très manuel et difficile à prendre en main, et utiliser la machine à son plein potentiel n'est pas tâche aisée pour des mains humaines. Dans cette thèse, nous développons deux nouveaux types d'outils permettant de faciliter l'opération du microscope par un humain. Le premier est la boucle de contre-réaction, un outil provenant de l'automatique qui permet d'asservir des paramètres de l'acquisition qui échapperaient autrement au contrôle de l'utilisateur. Nous montrons ici comment l'usage de telles boucles nous permet désormais d'augmenter notre rapport signal-sur-bruit en augmentant le temps d'exposition images plus long temps d'exposition, sans perte de résolution, dans le cadre de l'holographie électronique -- cadre qui pourra être étendu à l'avenir. Le second est une simulation du microscope permettant à l'utilisateur d'avoir une meilleure compréhension de l'outil qu'il manipule. De telles simulations existent, et sont utilisées par les constructeurs, mais restent cantonnées aux phases de conceptions de l'instrument. Nous proposons ici d'introduire ce type de logiciel dans un contexte différent, celui de l'utilisation du microscope dans le cadre d'une expérience. Nous proposons l'idée qu'un tel outil permettrait de penser différemment la manipulation au microscope. La généralisation de ces deux types d'outils permettrait à terme de fluidifier les expérimentations de microscopie, ce qui entraînerait une réduction des temps et des coûts de manipulation, et permettrait le développement de nouvelles expériences innovantes.
Book Synopsis Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy by : Rolf Erni
Download or read book Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy written by Rolf Erni and published by . This book was released on 2010 with total page 348 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Etude par microscopie électronique en transmission des interfaces dans les hétérostructures GaAs/Si et GaSb/GaAs by : Joon-Mo Kang
Download or read book Etude par microscopie électronique en transmission des interfaces dans les hétérostructures GaAs/Si et GaSb/GaAs written by Joon-Mo Kang and published by . This book was released on 1993 with total page 272 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE DE LA RELAXATION PAR LES DISLOCATIONS D'INTERFACE DANS LES HETEROSTRUCTURES SEMICONDUCTRICES A FORT DESACCORD PARAMETRIQUE. DES CALCULS UTILISANT L'ELASTICITE ANISOTROPE MONTRENT QUE LES DISLOCATIONS D'INTERFACE DE TYPE 90 SONT PLUS EFFICACES POUR LA RELAXATION QUE CELLES DE TYPE 60. LA DIFFERENCE D'EFFICACITE ENTRE LES DEUX AUGMENTE AVEC LE DESACCORD PARAMETRIQUE. CES CALCULS PREVOIENT QU'UN ETAT RELAXE PARTIELLEMENT EST ENERGETIQUEMENT PLUS STABLE QUE CELUI PARFAITEMENT RELAXE. AFIN D'INTERPRETER LES IMAGES DE DISLOCATIONS OBTENUES PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET), DES SIMULATIONS ONT ETE EFFECTUEES. CES SIMULATIONS MONTRENT QUE LES FRANGES DE MOIRE MASQUENT D'AUTANT PLUS LE RESEAU DE DISLOCATIONS QUE LE DESACCORD PARAMETRIQUE EST IMPORTANT. LA VISUALISATION SIMULTANEE DE DEUX RESEAUX ORTHOGONAUX DE DISLOCATIONS PAR UNE EXCITATION DU FAISCEAU NON-SYSTEMATIQUE EST CONFIRMEE COMME UNE TECHNIQUE EFFICACE POUR ETUDIER L'ORIGINE DES DEFAUTS. LES CARACTERISATIONS PAR MET EFFECTUEES SUR LES HETEROSTRUCTURES GAAS/SI ET GASB/GAAS MONTRENT QUE LES DEFAUTS DE VOLUME SONT DIRECTEMENT LIES AUX IMPERFECTIONS DU RESEAU DE DISLOCATIONS D'INTERFACE. DES OBSERVATIONS EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN HAUTE RESOLUTION MONTRENT PAR AILLEURS DES RELAXATIONS PARTIELLES DANS LES DEUX SYSTEMES
Book Synopsis Flexoelectricity in Liquid Crystals by : Agnes Buka
Download or read book Flexoelectricity in Liquid Crystals written by Agnes Buka and published by World Scientific. This book was released on 2013 with total page 299 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The book intends to give a state-of-the-art overview of flexoelectricity, a linear physical coupling between mechanical (orientational) deformations and electric polarization, which is specific to systems with orientational order, such as liquid crystals. Chapters written by experts in the field shed light on theoretical as well as experimental aspects of research carried out since the discovery of flexoelectricity. Besides a common macroscopic (continuum) description the microscopic theory of flexoelectricity is also addressed. Electro-optic effects due to or modified by flexoelectricity as well as various (direct and indirect) measurement methods are discussed. Special emphasis is given to the role of flexoelectricity in pattern-forming instabilities. While the main focus of the book lies in flexoelectricity in nematic liquid crystals, peculiarities of other mesophases (bent-core systems, cholesterics, and smectics) are also reviewed. Flexoelectricity has relevance to biological (living) systems and can also offer possibilities for technical applications. The basics of these two interdisciplinary fields are also summarized.
Book Synopsis Nonlinear Optical Materials by : Jerome V. Moloney
Download or read book Nonlinear Optical Materials written by Jerome V. Moloney and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 1998-08-13 with total page 270 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Mathematical methods play a significant role in the rapidly growing field of nonlinear optical materials. This volume discusses a number of successful or promising contributions. The overall theme of this volume is twofold: (1) the challenges faced in computing and optimizing nonlinear optical material properties; and (2) the exploitation of these properties in important areas of application. These include the design of optical amplifiers and lasers, as well as novel optical switches. Research topics in this volume include how to exploit the magnetooptic effect, how to work with the nonlinear optical response of materials, how to predict laser-induced breakdown in efficient optical devices, and how to handle electron cloud distortion in femtosecond processes.
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