Etude des surfaces par sonde et microscope électronique

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Book Synopsis Etude des surfaces par sonde et microscope électronique by : Jean-François Gautheron

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Etude des surfaces par sonde et microscope électronique

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Book Synopsis Etude des surfaces par sonde et microscope électronique by : Jean-François Gautheron

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Etude des surfaces par sonde et microscopie électronique

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Book Synopsis Etude des surfaces par sonde et microscopie électronique by : Jean-François Gautheron

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Electrical Properties of Solids

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Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 1468462075
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Book Synopsis Electrical Properties of Solids by : T. F. Connolly

Download or read book Electrical Properties of Solids written by T. F. Connolly and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2012-12-06 with total page 115 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Since 1963 the Research Materials Information Center has been answering inquiries on the availability, preparation, and properties of ultrapure inorganic research specimens. It has been possible to do this with reasonable efficiency by searching an automated coded microfilm collection of the report and open literature and of data sheets and question naires provided by commercial and research producers of pure materials. With the growth of the collection to over 70,000 documents and the increase in the demand for more general background information, it has been necessary to compile bibliographies on an increasing variety of subjects. These have been used as indexes to the microfilmed documents for more efficient searching, and in the past distributed in response to individual requests. However, their size and number no longer permit so casual and uneconomic a method of distribution. The "ORNL Solid State Physics Literature Guides" is a practical alternative. Organization The subject organization of the bibliography is given by the Table of Contents. Each section is preceded by a collection of reviews, bibliographies, and "general" papers (i.e., those dealing with methods or equipment rather than single materials, or with such a wide variety of materials that no subsection was appropriate). Coverage is generally from 1960 to mid-1970. Emphasis is on inorganic materials.

Étude des surfaces par soude et microscope électronique

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Book Synopsis Étude des surfaces par soude et microscope électronique by : Jean François Gautheron

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ETUDE D'INTERACTIONS GAZ/SURFACE ET PLASMA/SURFACE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR, SPECTROSCOPIE AUGER ET DIFFRACTION D'ELECTRONS LENTS

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Book Synopsis ETUDE D'INTERACTIONS GAZ/SURFACE ET PLASMA/SURFACE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR, SPECTROSCOPIE AUGER ET DIFFRACTION D'ELECTRONS LENTS by : Roland Pantel

Download or read book ETUDE D'INTERACTIONS GAZ/SURFACE ET PLASMA/SURFACE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR, SPECTROSCOPIE AUGER ET DIFFRACTION D'ELECTRONS LENTS written by Roland Pantel and published by . This book was released on 1977 with total page 141 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DONNEES SUR L'ENSEMBLE EXPERIMENTAL ET LE MODE OPERATOIRE PERMETTANT D'ETUDIER L'OXYDATION, A FROID, DES DIFFERENTES FACES MONOCRISTALLINES DE NB, AINSI QUE L'OXYDATION DES FACES VICINALES DE RE PROCHES DU PLAN (0001). ETUDE DES PHENOMENES DE SURFACE SUR LES SONDES ELECTROSTATIQUES (ANALYSE DU PHENOMENE D'HYSTERESIS INTRODUIT PAR LA CONTAMINATION; INFLUENCE DU COEFFICIENT DE REFLEXION DES ELECTRONS SUR LES MESURES DES SONDES). DEDUCTION DE CRITERES POUR LE CHOIX DE MATERIAUX POUR LA FABRICATION DES SONDES DE LANGMUIR

Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde locale - Lignes directrices pour la détermination des modules d'élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique

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Book Synopsis Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde locale - Lignes directrices pour la détermination des modules d'élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique by : Organización Internacional de Normalización

Download or read book Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde locale - Lignes directrices pour la détermination des modules d'élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique written by Organización Internacional de Normalización and published by . This book was released on 2020 with total page 17 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

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Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 1461595371
Total Pages : 321 pages
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Book Synopsis Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods by : Ugo Valdre

Download or read book Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods written by Ugo Valdre and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2013-03-09 with total page 321 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident. To join the expertise of the tradi tional surface scientist with that of the electron microscopist has however been a slow and difficult process. In the past few years remarkable progress has been achieved, including the development of new techniques of scanning transmission and reflection imaging as well as low energy microscopy, all carried out in greatly improved vacuum conditions. Most astonishing of all has been the advent of the scanning tunneling electron microscope providing atomic resolution in a manner readily compatible with most surface science diagnostic procedures. The problem of beam damage, though often serious, is increasingly well understood so that we can assess the reliability and usefulness of the results which can now be obtained in catalysis studies and a wide range of surface science applications. These new developments and many others in more established surface techniques are all described in this book, based on lectures given at a NATO Advanced Study Institute held in Erice, Sicily, at Easter 1987. It is regretted that a few lectures on low energy electron diffraction and channeling effects could not be included. Fifteen lecturers from seven different Countries and 67 students from 23 Countries and a wide variety of backgrounds attended the school.

Microscopie électronique à balayage et microanalyses

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Publisher : EDP Sciences
ISBN 13 : 2759803481
Total Pages : 930 pages
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Book Synopsis Microscopie électronique à balayage et microanalyses by : François Brisset

Download or read book Microscopie électronique à balayage et microanalyses written by François Brisset and published by EDP Sciences. This book was released on 2012-12-04 with total page 930 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.

Application de la microscopie à sonde locale à l'étude de la surface de GaN(0001)

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Book Synopsis Application de la microscopie à sonde locale à l'étude de la surface de GaN(0001) by : Stéphane Vézian

Download or read book Application de la microscopie à sonde locale à l'étude de la surface de GaN(0001) written by Stéphane Vézian and published by . This book was released on 2000 with total page 163 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail concerne la surface (0001) du nitrure de gallium (GaN) selon la polarité gallium. Cette orientation particulière est en effet celle utilisée pour les applications technologiques récentes de ce semi-conducteur à grande bande interdite. L'étude expérimentale de cette surface est principalement basée sur l'utilisation de deux types de microscopie à sondes locales : la microscopie à force atomique (AFM) et la microscopie à effet tunnel (STM). Le matériau GaN est obtenu par épitaxie sous jets moléculaires (EJM) essentiellement sur substrat Si(111). L'approche expérimentale développée s'appuie en particulier sur le couplage sous ultra-vide d'un réacteur EJM et d'un microscope STM. Le potentiel de cet ensemble expérimental est illustré au chapitre 1 par l'obtention d'images en résolution atomique de surfaces de semi-conducteurs de référence tels que Si, SiC et GaAs. Les résultats expérimentaux concernant la surface GaN(0001) sont présentés selon l'échelle d'observation : au delà du micromètre au chapitre 2, dans la gamme sub-micronique au chapitre 3 et finalement dans celle du nanomètre au chapitre 4. L'étude par AFM ex situ de la morphologie de la surface a permis de mettre en évidence un phénomène de rugosité cinétique. L'utilisation de surfaces vicinales est proposée pour éliminer l'apparition d'une telle rugosité (chapitre 2). L'observation in situ par STM apporte des informations détaillées sur les marches présentes à la surface mais aussi sur la terminaison des dislocations à la surface et finalement sur l'interaction entre dislocations et marches (chapitre 3). La résolution atomique est obtenue pour deux reconstructions (2x2 et 4x4) correspondant à une terminaison Ga de la surface. Nous montrons que l'obtention de ces deux reconstructions est liée à la présence d'arsenic.

Index bibliographique du vide

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Book Synopsis Index bibliographique du vide by :

Download or read book Index bibliographique du vide written by and published by . This book was released on 1969 with total page 880 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante

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Book Synopsis Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante by : Hervé Wioland

Download or read book Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante written by Hervé Wioland and published by . This book was released on 2000 with total page 174 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE CONFIGURATION ORIGINALE DE MICROSCOPE OPTIQUE EN CHAMP PROCHE A SONDE PERTURBATIVE EN MODE TRANSMISSION A ETE DEVELOPPEE. ELLE ASSOCIE UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE COMMERCIAL TRAVAILLANT EN MODE RESONANT ET UN MICROSCOPE OPTIQUE INVERSE ASSURANT L'ECLAIRAGE DE L'ECHANTILLON ET LA COLLECTION D'UNE PARTIE DU SIGNAL DIFFUSE. LA POINTE AFM JOUE UN DOUBLE ROLE: ELLE PERMET NON SEULEMENT LA DETECTION DES FORCES INTER-ATOMIQUES PRESENTES ENTRE L'EXTREMITE DE LA POINTE ET LA SURFACE MAIS ELLE AGIT COMME UNE PARTICULE DIFFUSANTE DE RAYLEIGH POUR PERTURBER LE CHAMP PROCHE OPTIQUE PRESENT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON. CETTE CONFIGURATION PERMET L'ACQUISITION SIMULTANEE DE L'IMAGE AFM (TOPOGRAPHIE) ET DE L'IMAGE SNOM (OPTIQUE). LES PREMIERS RESULTATS OBTENUS SUR UN RESEAU DE PLOTS D'ALUMINIUM (PAS DE 400 NM) DEPOSE SUR UN SUBSTRAT DE VERRE NOUS ONT AMENE A NOUS INTERROGER SUR LES ARTEFACTS QUE CETTE ARCHITECTURE ENGENDRE DANS LA FORMATION DE L'IMAGE OPTIQUE, EN PARTICULIER, LA PRESENCE DU LEVIER AFM A UNE FAIBLE DISTANCE DE LA SURFACE ET LES VARIATIONS DE DISTANCE SONDE-SURFACE INDUITES PAR LES INSTABILITES DE L'OSCILLATEUR (LE LEVIER AFM). L'APPLICATION CONCERNE L'ETUDE D'ECHANTILLONS MAGNETIQUES (GRENATS SUBSTITUES) PAR DES EFFETS MAGNETO-OPTIQUES EN CHAMP PROCHE (FARADAY ET DICHROIQUE CIRCULAIRE MAGNETIQUE). LES IMAGES OBTENUES MONTRENT D'UNE PART, UN DECOUPLAGE ENTRE L'INFORMATION TOPOGRAPHIQUE ET LA DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON ET D'AUTRE PART UNE DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION EN SURFACE PLUS COMPLEXE QUE CELLE DE VOLUME.

ETUDE D'UN MICROSCOPE OPTIQUE A SONDE LOCALE EN REFLEXION. REALISATION ET CARACTERISATION DES SONDES UTILISEES

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Book Synopsis ETUDE D'UN MICROSCOPE OPTIQUE A SONDE LOCALE EN REFLEXION. REALISATION ET CARACTERISATION DES SONDES UTILISEES by : ALAIN.. JALOCHA

Download or read book ETUDE D'UN MICROSCOPE OPTIQUE A SONDE LOCALE EN REFLEXION. REALISATION ET CARACTERISATION DES SONDES UTILISEES written by ALAIN.. JALOCHA and published by . This book was released on 1993 with total page 193 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE BUT DE NOTRE ETUDE EST LA REALISATION D'UN SYSTEME EN REFLEXION APPELE SCANING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, OU LA SONDE UTILISEE JOUE SIMULTANEMENT LE ROLE DE SOURCE ET DE DETECTEUR. LES ONDES EVANESCENTES ISSUES DE LA DIFFRACTION DE L'ONDE INCIDENTE PAR LES DETAILS DE DIMENSION INFERIEURE A LA DEMI-LONGUEUR D'ONDE INTERAGISSENT AVEC UN STYLET DIELECTRIQUE PLACE AUX ABORDS DE LA SURFACE ET SONT CONVERTIES EN ONDES PROPAGATIVES. NOUS PRESENTONS UNE METHODE DE FABRICATION DE CE TYPE DE DETECTEURS DONT LA FORME ET LES DIMENSIONS INFLUENT CONSIDERABLEMENT SUR LA RESOLUTION. UNE METHODE DE SIMULATION BASEE SUR LA THEORIE DU COUPLAGE DE MODE, NOUS PERMET DE FAIRE UNE PREMIERE ESTIMATION DE L'INTENSITE GUIDEE A L'INTERIEUR DE DIEDRES. LES RESULTATS EXPERIMENTAUX ATTESTENT DE DEUX MODES DE FONCTIONNEMENT DE NOTRE SYSTEME, QUI SONT FONCTION DE LA DISTANCE SEPARANT L'OBJET DE LA SONDE. SI CETTE QUANTITE EST INFERIEURE TYPIQUEMENT A /4, LE SNOM S'APPARENTE A UN MICROSCOPE SUPERRESOLVANT, SINON IL PEUT ETRE CONSIDERE COMME UNE ALTERNATIVE AUX PROFILOMETRES CONVENTIONNELS

Microscopie optique en champ proche utilisant une sonde diffusante

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Book Synopsis Microscopie optique en champ proche utilisant une sonde diffusante by : Fekhra H'Dhili

Download or read book Microscopie optique en champ proche utilisant une sonde diffusante written by Fekhra H'Dhili and published by . This book was released on 2002 with total page 169 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail de thèse traite l'interaction d'un champ lumineux incident avec l'extrémité d'une sonde SNOM sans ouverture. Dans des conditions d'éclairage appropriées, une exaltation localisée du champ electromagnétique a lieu au voisinage immédiat de la pointe éclairée. Ce phénomène, connu sous l'effet de pointe optique, génère une source lumineuse très intense et fortement confinée spatialement à l'extrémité de la sonde. Une idée originale a été proposée pour mettre en évidence expérimentalement en champ proche cet effet de pointe et permettre d'entreprendre une étude paramétrique relativement complète d'un tel phénomène. Une modélisation numérique de ce dernier a été aussi effectuée et confrontée aux résultats expérimentaux obtenus. Cette étude a permis en définitive de dégager les conditions optimales d'excitation de la nanosource optique et de définir un protocole de lithographie optique avec une résolution manométrique

Méthodes et techniques générales d'observation en microscopie électronique

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Book Synopsis Méthodes et techniques générales d'observation en microscopie électronique by :

Download or read book Méthodes et techniques générales d'observation en microscopie électronique written by and published by . This book was released on 1970 with total page 716 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

CBM

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Book Synopsis CBM by :

Download or read book CBM written by and published by . This book was released on 1998 with total page 444 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Etude de rugosité de surface par microscopie à sonde locale

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Book Synopsis Etude de rugosité de surface par microscopie à sonde locale by : Olivier Vatel

Download or read book Etude de rugosité de surface par microscopie à sonde locale written by Olivier Vatel and published by . This book was released on 1993 with total page 212 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MINIATURISATION DES CIRCUITS INTEGRES IMPOSE UNE DIMINUTION CONSTANTE DE LA TAILLE DES COMPOSANTS ET DE L'EPAISSEUR DES DIFFERENTES COUCHES. CECI EXIGE UN CONTROLE ET UNE ANALYSE FINE DE LA RUGOSITE DE SURFACE. DANS LE DOMAINE NANOMETRIQUE, LES MICROSCOPIES A EFFET TUNNEL (STM) ET A FORCE ATOMIQUE (AFM) SONT DES OUTILS TOUT A FAIT ADAPTES A CE TYPE DE CARACTERISATION DANS UN ENVIRONNEMENT DE RECHERCHE ET DE DEVELOPPEMENT. DES ETUDES STATISTIQUES ONT ETE MENEES, LA MORPHOLOGIE DE SURFACE A ETE DETERMINEE EN DEVELOPPANT DES PROGRAMMES PERMETTANT D'ACCEDER A LA DENSITE SPECTRALE DE PUISSANCE. CETTE TECHNIQUE A ETE UTILISEE POUR CARACTERISER DIFFERENTES SURFACES: 1) DEPOT DE POLYSILICIUM A 620C: DIFFERENTS TEMPS DE DEPOT ONT ETE ETUDIES DANS UNE GAMME DE TEMPS COMPRISE ENTRE 10S ET 45MN. NOUS AVONS MIS EN EVIDENCE DEUX REGIMES DIFFERENTS CORRESPONDANTS A LA CROISSANCE DE GRAINS ISOLES ET LA CROISSANCE PAR COALESCENCE. POUR LE SECOND MODE CROISSANCE, LE CARACTERE AUTO-SIMILAIRE DE LA SURFACE NOUS A PERMIS DE DEDUIRE UNE LOI D'ECHELLE DYNAMIQUE. 2) ATTAQUE PAR PLASMA DE SF6 DE SILICIUM (100): NOUS AVONS ETUDIE LES MODIFICATIONS STRUCTURELLES DE LA SURFACE D'UN SUBSTRAT DE SILICIUM EXPOSE A UN PLASMA SF6. NOUS AVONS ANALYSE L'INFLUENCE DES DIFFERENTS PARAMETRES DE L'ATTAQUE PLASMA (PRESSION, PUISSANCE, FLUX, ENERGIE DES IONS OU ENCORE, TEMPS DE GRAVURE)