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Author : Florence Azais
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes written by Florence Azais and published by . This book was released on 1996 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Florence Azais (physicienne).)
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes written by Florence Azais (physicienne).) and published by . This book was released on 1996 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Vladimir Kolarik
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 122 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book Techniques avancées de test de circuits analogiques et mixtes analogiques/numériques written by Vladimir Kolarik and published by . This book was released on 1994 with total page 122 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES DEVIENT DE PLUS EN PLUS COMPLIQUE AVEC LE NIVEAU CROISSANT D'INTEGRATION. LES TECHNIQUES DE CONCEPTION EN VUE DE LA TESTABILITE DOIVENT ETRE ADOPTEES TRES TOT DANS LE CYCLE DE LA CONCEPTION DE CIRCUITS NUMERIQUES. DES PROBLEMES SIMILAIRES EXISTENT DANS LE DOMAINE DE CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUES-NUMERIQUES. LE DEVELOPPEMENT DE SYSTEMES TESTABLES DOIT ETRE EFFECTUE AVEC DES PRECAUTIONS VIS-A-VIS DES PROBLEMES DE TEST. LA PREMIERE PARTIE DE CE DOCUMENT PORTE SUR LES METHODES DE TEST HORS LIGNE POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUES-NUMERIQUES. UN RESUME DES METHODES DE TEST ET DES TECHNIQUES DE CONCEPTION EN VUE DE LA TESTABILITE SONT PRESENTES. UNE METHODE PARTICULIERE POUR LA PROPAGATION DE SIGNAL A TRAVERS DES CIRCUITS ANALOGIQUES A ETE MISE EN UVRE. LA DEUXIEME PARTIE DE LA THESE EST CONSACREE AUX METHODES DE TEST EN LIGNE. APRES UNE PRESENTATION DE LA THEORIE DES CIRCUITS AUTO-TESTABLES EN LIGNE, UNE METHODE DE CONCEPTION EST PROPOSEE POUR DES CIRCUITS EQUILIBRES TESTABLES EN LIGNE. DEUX EXEMPLES DE CONCEPTION CONCLUENT LA DEUXIEME PARTIE: UN ECHANTILLONNEUR-BLOQUEUR TESTABLE EN LIGNE ET DES CONTROLEURS AUTO-VERIFIES
Author : Corinne Daujan
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 158 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie written by Corinne Daujan and published by . This book was released on 1997 with total page 158 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.
Author : JAIME.. VELASCO MEDINA
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 207 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES written by JAIME.. VELASCO MEDINA and published by . This book was released on 1999 with total page 207 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.
Author : ABDELHAKIM.. KHOUAS
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ISBN 13 :
Total Pages : 166 pages
Book Rating : 4.:/5 (793 download)
Download or read book SIMULATION DE FAUTES ET OPTIMISATION DES TESTS DE PRODUCTION POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES AVEC PRISE EN COMPTE DES TOLERANCES written by ABDELHAKIM.. KHOUAS and published by . This book was released on 2000 with total page 166 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: FACE AUX PROGRES ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE L'INTEGRATION DES CIRCUITS INTEGRES VLSI, LES CIRCUITS ANALOGIQUES DEVIENNENT PLUS COMPLEXES ET PLUS DIFFICILES A TESTER. CETTE THESE PRESENTE UNE NOUVELLE METHODOLOGIE POUR LA SIMULATION DE FAUTES ET L'OPTIMISATION AUTOMATIQUE DES TESTS DE PRODUCTION POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES EN TENANT COMPTE DES VARIATIONS DU PROCESSUS DE FABRICATION DES CIRCUITS INTEGRES. LE SIMULATEUR DE FAUTES EST UN OUTIL INDISPENSABLE AU DEVELOPPEMENT DE TOUTE STRATEGIE DE TEST, IL PERMET DE VALIDER LES TECHNIQUES DE CONCEPTION EN VUE DU TEST (DFT), ET DE REDUIRE LES COUTS DES TESTS DE PRODUCTION. LES DEUX CARACTERISTIQUES IMPORTANTES D'UN SIMULATEUR DE FAUTES SONT : PRECISION ET RAPIDITE. POUR REPONDRE A L'EXIGENCE DE PRECISION DANS LE MONDE ANALOGIQUE OU LES VALEURS SONT IMPRECISES ET AVEC TOLERANCES, NOUS AVONS DEFINI UNE FONCTION DE PROBABILITE DE DETECTION DE FAUTES (PDF) QUI PERMET DE QUANTIFIER LE DEGRE DE DETECTION POSSIBLE D'UNE FAUTE DONNEE. POUR LA RAPIDITE, NOUS AVONS PROPOSE UN NOUVEAU ALGORITHME QUI UTILISE DES TESTS D'ARRET POUR REDUIRE LE TEMPS DE SIMULATION DE FAUTES. POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES, LES TESTS DEPENDENT DE LA NATURE DU CIRCUIT A TESTER. IL EST DONC IMPOSSIBLE DE DEVELOPPER UN GENERATEUR AUTOMATIQUE DE VECTEURS DE TEST POUR TOUS LES TYPES DE CIRCUITS. C'EST POURQUOI NOUS AVONS ATTAQUE LE PROBLEME DE L'OPTIMISATION AUTOMATIQUE D'ENSEMBLES DE TESTS PRE-EXISTANTS. AFIN DE TENIR COMPTE DES FLUCTUATIONS DU PROCESSUS DE FABRICATION, UNE METHODE D'OPTIMISATION DES TESTS DE PRODUCTION BASEE SUR LA FONCTION DE PROBABILITE DE DETECTION DE FAUTES A ETE PRESENTEE. UN PROTOTYPE D'OUTIL DE SIMULATION DE FAUTES ET D'OPTIMISATION AUTOMATIQUE DES TESTS DE PRODUCTION A ETE DEVELOPPE POUR VALIDER NOTRE APPROCHE. CE PROTOTYPE NOUS A PERMIS DE VALIDER, SUR PLUSIEURS CIRCUITS, NOTRE METHODE BASEE SUR LES PROBABILITES DE DETECTION DE FAUTES, ET LES RESULTATS DE PERFORMANCE OBTENUS SONT TRES ENCOURAGEANTS.
Author : Hassan Ihs
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 163 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes written by Hassan Ihs and published by . This book was released on 1997 with total page 163 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE PROPOSE DES TECHNIQUES DE TEST INTEGRE EN DOMAINE STATIQUE (DC) DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE. LE PREMIER CHAPITRE PRESENTE UNE VUE GLOBALE DES PROBLEMES LIES AU TEST DES CIRCUITS MIXTES. ENSUITE, UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART EN MATIERE DE TEST INTEGRE DE CES CIRCUITS EST PRESENTEE. LE DEUXIEME CHAPITRE TRAITE DE LA TESTABILITE EN COURANT ET EN TENSION DES CELLULES ANALOGIQUES ELEMENTAIRES. UNE ETUDE SUR LA TESTABILITE EN COURANT DE CELLULES DE TYPE AMPLIFICATEUR OPERATIONNEL NOUS A CONDUIT A DEGAGER UNE TECHNIQUE GENERALE DE TEST POUR CE TYPE DE CELLULES. CETTE TECHNIQUE CONSISTE A SATURER LA CELLULE SOUS TEST (PAR LE CONTROLE DE CES TENSIONS D'ENTREES) ET A OBSERVER LE NUD DE TENSION INTERNE CORRESPONDANT A LA SORTIE DE SON ETAGE DIFFERENTIEL. DES TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES PROCHES DE 100% SONT ALORS OBTENUES. ENSUITE, NOUS AVONS MIS AU POINT UN CAPTEUR DE TENSION ORIGINAL PERMETTANT L'ANALYSE COMPLETE DE LA SIGNATURE ISSUE DU NUD SOUS TEST. CE CAPTEUR OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISATION DE L'ANALYSE DE SIGNATURE A TRES FAIBLE COUT EN SURFACE DE SILICIUM AJOUTEE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AU TEST INTEGRE DES CIRCUITS A CAPACITE COMMUTEES. APRES UN BREF RAPPEL DE LA TECHNIQUE DES CAPACITES COMMUTEES, DEUX TECHNIQUES DE TEST DE CES CIRCUITS TIRANT PROFIT DE LEUR NATURE PARTICULIERE ONT ETE PROPOSEES. LES DEUX TECHNIQUES UTILISENT LA POSSIBILITE DE RECONFIGURATION DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUNAUTEES PAR DES MOYENS DE CVT POUR REALISER DES CIRCUITS FACILEMENT TESTABLES EN DC. LA PREMIERE PERMET DE MESURER DIRECTEMENT IN-SITU LES RAPPORTS CAPACITIFS INTERVENANT DANS LA FONCTION DE TRANSFERT D'UN CIRCUIT A CAPACITE COMMUTEES. LES PERFORMANCES DE CE CIRCUIT SONT ENSUITE EVALUEES PERMETTANT AINSI DE S'AFFRANCHIR DU PROBLEME DELICAT DE LA MODELISATION DE FAUTES ANALOGIQUES. LA DEUXIEME TECHNIQUE OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISER L'INTEGRATION COMPLETE DES RESSOURCES DE TEST DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUTEES. DEUX ALGORITHMES DE SYNTHESE HAUT NIVEAU DES RESSOURCES DE TESTABILITE MIS EN UVRE PAR LES DEUX TECHNIQUES ONT ETE PROPOSES. IL A AUSSI ETE MONTRE QU'UN DIMENSIONNEMENT ADEQUAT DES COMPOSANTS DE CVT PERMET DE MINIMISER LEUR INFLUENCE SUR LE FONCTIONNEMENT NORMAL DU CIRCUIT POUR UNE LARGE GAMME DE FREQUENCES. ENFIN, LES VALIDATIONS REALISEES MONTRENT LA VIABILITE DE CES DEUX TECHNIQUES.
Author : Ramy Iskander
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 274 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Connaissance Et Synthèse en Vue de la Conception Et la Réutilisation de Circuits Analogiques Intégrés written by Ramy Iskander and published by . This book was released on 2008 with total page 274 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les concepteurs des circuits intégrés VLSI ont inventé des méthodes permettant d'exploiter la complexité croissante des circuits intégrés à haute densité d'intégration. L'une d'elles consiste à concevoir des systèmes embarqués sur puce (SoC) à l'aide de blocs pré-existants et déjà validés (appelés IP, comme Intellectual Property), qu'ils aient été élaborés en interne à l'entreprise réalisant le SoC ou issus d'une tierce partie. S'il existe un flot descendant bien établi pour concevoir les blocs intégrés numériques, la conception de circuits analogiques reste toujours une opération sur mesure. Dans cette thèse, nous proposons une méthode pour automatiser le dimensionnement et la polarisation d'un circuit analogique dans le cas général, conduisant ainsi à une définition possible d'un IP analogique. Cette méthode permet de générer automatiquement une procédure pour calculer les dimensions d'une topologie électrique connue et son point de fonctionnement en se fondant sur l'expression de la connaissance du concepteur.
Author : ARNAUD.. RIAUDEL
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 160 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE written by ARNAUD.. RIAUDEL and published by . This book was released on 1995 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE S'INSERE DANS LE CADRE DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES UTILISES DANS LE DOMAINE DES TELECOMMUNICATIONS. LE HAUT DEGRE DE FIABILITE EXIGE POUR LEUR FONCTIONNEMENT ENTRAINE UNE EVOLUTION DES METHODES DE TEST VERS UNE EFFICACITE PLUS GRANDE. LES TRAVAUX MENES ONT POUR BUT DE DEFINIR UNE METHODOLOGIE DE TEST PERMETTANT D'OPTIMISER ET DE SIMPLIFIER LE DEVELOPPEMENT DES PROGRAMMES DE TEST POUR LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE COMPLEXES ET SPECIFIQUES AU RESEAU DE TELECOMMUNICATIONS. DANS UNE PREMIERE PARTIE, NOUS PRESENTONS UN CIRCUIT INTEGRE MIXTE ANALOGIQUE-NUMERIQUE-L'INTERFACE U CODE 2B/1Q-. NOUS FAISONS L'ETAT DE L'ART DES DIFFERENTES TECHNIQUES DE TESTABILITE ET MONTRONS QU'UNE ASSOCIATION COHERENTE DES METHODES DE TEST DOIT ACCROITRE L'ASSURANCE DE LA CONFORMITE DU COMPOSANT AUX SPECIFICATIONS. LA SECONDE PARTIE PRESENTE LE TRAVAIL QUI A ETE MENE POUR TESTER LA CONFORMITE DE L'INTERFACE U AUX SPECIFICATIONS FONCTIONNELLES ET PARAMETRIQUES. NOUS PROPOSONS UNE METHODOLOGIE DE TEST BASEE SUR L'UTILISATION D'INSTRUMENTATION ANALOGIQUE COUPLEE A UN TESTEUR NUMERIQUE POUR TESTER LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES DE L'INTERFACE U
Author : Faouzi Chaahoub
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (125 download)
Download or read book Etude des méthodes de conception et des outils de C.A.O. pour la synthèse des circuits intégrés analogiques written by Faouzi Chaahoub and published by . This book was released on 2007 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La realisation des circuits integres analogiques a hautes performances souffre de difficultes principalement dues a la reduction de la tension d'alimentation et a la reduction de la consommation, qui sont conduites par la proliferation des systemes portables alimentes par des batteries, mais patit aussi du manque d'outils de c.a.o permettant d'automatiser la phase de layout qui est assez laborieuse et prend beaucoup de temps. Cette these se situe dans ce contexte. Elle traite de deux domaines assez distincts mais complementaires, a savoir la conception de circuits integres analogiques a faible tension d'alimentation, et la generation automatique (ou assistee) du layout de ces circuits a l'aide d'algorithmes et de logiciels appropries. L'aboutissement de cette these est, premierement, la creation d'une nouvelle methode de conception des circuits integres analogiques, plus precisement la generation d'une technique de conception de nouvelle structure, plus adaptee aux basses tensions d'alimentation et aux faibles consommations, deuxiemement, notre contribution a l'automatisation de la phase du layout des circuits integres analogiques, a savoir l'etude detaillee des contraintes analogiques a prendre en compte dans tout outil d'automatisation du layout (generateur, placeur, routeur, compacteur), ainsi que notre participation au developpement de chrvan (outils d'automatisation des masques des circuits integres analogiques et mixtes, developpes au cnet grenoble) en aidant a sa mise au point, en l'utilisant, en proposant des ameliorations, et surtout en consacrant tous nos efforts a developpe un algorithme de placement des cellules analogiques qui prend en compte toutes ces contraintes analogiques.
Author : Faouzi Chaahoub
Publisher :
ISBN 13 : 9782913329379
Total Pages : 181 pages
Book Rating : 4.3/5 (293 download)
Download or read book Etude des méthodes de conception et des outils de C.A.O. pour la synthèse des circuits intégrés analogiques written by Faouzi Chaahoub and published by . This book was released on 1999 with total page 181 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA REALISATION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A HAUTES PERFORMANCES SOUFFRE DE DIFFICULTES PRINCIPALEMENT DUES A LA REDUCTION DE LA TENSION D'ALIMENTATION ET A LA REDUCTION DE LA CONSOMMATION, QUI SONT CONDUITES PAR LA PROLIFERATION DES SYSTEMES PORTABLES ALIMENTES PAR DES BATTERIES, MAIS PATIT AUSSI DU MANQUE D'OUTILS DE C.A.O PERMETTANT D'AUTOMATISER LA PHASE DE LAYOUT QUI EST ASSEZ LABORIEUSE ET PREND BEAUCOUP DE TEMPS. CETTE THESE SE SITUE DANS CE CONTEXTE. ELLE TRAITE DE DEUX DOMAINES ASSEZ DISTINCTS MAIS COMPLEMENTAIRES, A SAVOIR LA CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A FAIBLE TENSION D'ALIMENTATION, ET LA GENERATION AUTOMATIQUE (OU ASSISTEE) DU LAYOUT DE CES CIRCUITS A L'AIDE D'ALGORITHMES ET DE LOGICIELS APPROPRIES. L'ABOUTISSEMENT DE CETTE THESE EST, PREMIEREMENT, LA CREATION D'UNE NOUVELLE METHODE DE CONCEPTION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, PLUS PRECISEMENT LA GENERATION D'UNE TECHNIQUE DE CONCEPTION DE NOUVELLE STRUCTURE, PLUS ADAPTEE AUX BASSES TENSIONS D'ALIMENTATION ET AUX FAIBLES CONSOMMATIONS, DEUXIEMEMENT, NOTRE CONTRIBUTION A L'AUTOMATISATION DE LA PHASE DU LAYOUT DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, A SAVOIR L'ETUDE DETAILLEE DES CONTRAINTES ANALOGIQUES A PRENDRE EN COMPTE DANS TOUT OUTIL D'AUTOMATISATION DU LAYOUT (GENERATEUR, PLACEUR, ROUTEUR, COMPACTEUR), AINSI QUE NOTRE PARTICIPATION AU DEVELOPPEMENT DE CHRVAN (OUTILS D'AUTOMATISATION DES MASQUES DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, DEVELOPPES AU CNET GRENOBLE) EN AIDANT A SA MISE AU POINT, EN L'UTILISANT, EN PROPOSANT DES AMELIORATIONS, ET SURTOUT EN CONSACRANT TOUS NOS EFFORTS A DEVELOPPE UN ALGORITHME DE PLACEMENT DES CELLULES ANALOGIQUES QUI PREND EN COMPTE TOUTES CES CONTRAINTES ANALOGIQUES.
Author : Jose Luis Huertas Díaz
Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 0387235213
Total Pages : 310 pages
Book Rating : 4.3/5 (872 download)
Download or read book Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits written by Jose Luis Huertas Díaz and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2010-02-23 with total page 310 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits deals with test and design for test of analog and mixed-signal integrated circuits. Especially in System-on-Chip (SoC), where different technologies are intertwined (analog, digital, sensors, RF); test is becoming a true bottleneck of present and future IC projects. Linking design and test in these heterogeneous systems will have a tremendous impact in terms of test time, cost and proficiency. Although it is recognized as a key issue for developing complex ICs, there is still a lack of structured references presenting the major topics in this area. The aim of this book is to present basic concepts and new ideas in a manner understandable for both professionals and students. Since this is an active research field, a comprehensive state-of-the-art overview is very valuable, introducing the main problems as well as the ways of solution that seem promising, emphasizing their basis, strengths and weaknesses. In essence, several topics are presented in detail. First of all, techniques for the efficient use of DSP-based test and CAD test tools. Standardization is another topic considered in the book, with focus on the IEEE 1149.4. Also addressed in depth is the connecting design and test by means of using high-level (behavioural) description techniques, specific examples are given. Another issue is related to test techniques for well-defined classes of integrated blocks, like data converters and phase-locked-loops. Besides these specification-driven testing techniques, fault-driven approaches are described as they offer potential solutions which are more similar to digital test methods. Finally, in Design-for-Testability and Built-In-Self-Test, two other concepts that were taken from digital design, are introduced in an analog context and illustrated for the case of integrated filters. In summary, the purpose of this book is to provide a glimpse on recent research results in the area of testing mixed-signal integrated circuits, specifically in the topics mentioned above. Much of the work reported herein has been performed within cooperative European Research Projects, in which the authors of the different chapters have actively collaborated. It is a representative snapshot of the current state-of-the-art in this emergent field.
Author : Hassan Ihs
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Test integre autonome des circuits analogiques et mixtes written by Hassan Ihs and published by . This book was released on 1997 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 225 pages
Book Rating : 4.:/5 (113 download)
Download or read book Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité written by École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique and published by . This book was released on 1994 with total page 225 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Christophe ECOLAN
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 123 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Etude des différentes techniques de conception de test pour les circuits intégrés written by Christophe ECOLAN and published by . This book was released on 1993 with total page 123 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Nourredine Akkouche
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (8 download)
Download or read book Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique written by Nourredine Akkouche and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de croître, d'où la nécessité d'optimiser cette étape devenue incontournable. Dans cette thèse, de nouvelles méthodes d'ordonnancement et de réduction du nombre de tests à effectuer sont proposées. La solution est un ordre des tests permettant de détecter au plus tôt les circuits défectueux, qui pourra aussi être utilisé pour éliminer les tests redondants. Ces méthodes de test sont basées sur la modélisation statistique du circuit sous test. Cette modélisation inclus plusieurs modèles paramétriques et non paramétrique permettant de s'adapté à tous les types de circuit. Une fois le modèle validé, les méthodes de test proposées génèrent un grand échantillon contenant des circuits défectueux. Ces derniers permettent une meilleure estimation des métriques de test, en particulier le taux de défauts. Sur la base de cette erreur, un ordonnancement des tests est construit en maximisant la détection des circuits défectueux au plus tôt. Avec peu de tests, la méthode de sélection et d'évaluation est utilisée pour obtenir l'ordre optimal des tests. Toutefois, avec des circuits contenant un grand nombre de tests, des heuristiques comme la méthode de décomposition, les algorithmes génétiques ou les méthodes de la recherche flottante sont utilisées pour approcher la solution optimale.
Author : Matthieu Dubois
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (8 download)
Download or read book Méthodologie d'estimation des métriques de test appliquée à une nouvelle technique de BIST de convertisseur SIGMA written by Matthieu Dubois and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité de créer de nouvelles applications grâce à l'intégration de plus en plus de fonctionnalités sur une surface de plus en plus faible. Pour chaque entreprise, la compétitivité dépend du coût de fabrication mais aussi de la fiabilité du produit. Ainsi, la phase de test d'un circuit intégré, et plus particulièrement des circuits analogiques et mixtes, est le facteur prédominant dans les choix d'un compromis entre ces deux critères antagonistes, car son coût est désormais proche du coût de production. Cette tendance contraint les acteurs du marché à mettre en place de nouvelles solutions moins onéreuses. Parmi les recherches dans ce domaine, la conception en vue du test (DfT) consiste à intégrer pendant le développement de la puce, une circuiterie additionnelle susceptible d'en faciliter le test, voire d'effectuer un auto-test (BIST). Mais la sélection d'une de ces techniques nécessite une évaluation de leur capacité de différencier les circuits fonctionnels des circuits défaillants. Ces travaux de recherche introduisent une méthodologie d'estimation de la qualité d'une DfT ou d'un BIST dans le flot de conception de circuits analogiques et mixtes. Basée sur la génération d'un large échantillon prenant en compte l'impact des variations d'un procédé technologique sur les performances et les mesures de test du circuit, cette méthodologie calcule les métriques de test exprimant la capacité de chaque technique de détecter les circuits défaillants sans rejeter des circuits fonctionnels et d'accepter les circuits fonctionnels en rejetant les circuits défaillant. Ensuite, le fonctionnement d'un auto-test numérique adapté aux convertisseurs sigma-delta est présenté ainsi qu'une nouvelle méthode de génération et d'injection du stimulus de test. La qualité de ces techniques d'auto-test est démontrée en utilisant la méthodologie d'estimation des métriques de test. Enfin, un démonstrateur développé sur un circuit programmable démontre la possibilité d'employer une technique d'auto-test dans un système de calibrage intégré.
