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Author : Alain Peyrard
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 250 pages
Book Rating : 4.:/5 (495 download)
Download or read book Test de circuits intégrés logiques written by Alain Peyrard and published by . This book was released on 1986 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Jacques Caillat
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 134 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)
Download or read book Contribution au test des circuits intégrés logiques written by Jacques Caillat and published by . This book was released on 1976 with total page 134 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Raoul Velazco
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 250 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)
Download or read book Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables written by Raoul Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author :
Publisher : Ed. Techniques Ingénieur
ISBN 13 :
Total Pages : 14 pages
Book Rating : 4./5 ( download)
Download or read book Test des circuits intégrés numériques written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 14 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Ahmed Elleuch
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 348 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Contribution au test des circuits intégrés written by Ahmed Elleuch and published by . This book was released on 1989 with total page 348 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'APPROCHE PSEUDO-ALEATOIRE ET L'APPROCHE PREDETERMINEE, MAJORITAIREMENT UTILISEES POUR LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES LOGIQUES, ONT RECOURS A UNE LISTE DE FAUTES HYPOTHETIQUES. UNE FAUTE HYPOTHETIQUE EST ENTIEREMENT DEFINIE PAR LA DONNEE D'UN MODELE LOGIQUE DE FAUTE ASSOCIE A UNE LOCALISATION DANS LE CIRCUIT. LE BUT DE CE TRAVAIL EST D'AFFINER LA LISTE DE FAUTES PRISES EN COMPTE, TANT AU NIVEAU DE LA MODELISATION QU'AU NIVEAU DE LA LOCALISATION. EN CE QUI CONCERNE LA LOCALISATION, UNE METHODOLOGIE BASEE SUR LA PRISE EN COMPTE DE LA DESCRIPTION TOPOLOGIQUE EST PRESENTEE. UN OUTIL LOGICIEL PERMET L'EXTRACTION AUTOMATIQUE DE LA DESCRIPTION DU CIRCUIT ET DE LA LISTE DE FAUTES A PARTIR DU DESSIN DES MASQUES. EN CE QUI CONCERNE LA MODELISATION DES FAUTES, DES CIRCUITS INTEGRES CONTENANT DES TRANSISTORS EN CONFIGURATION DE GRILLE FLOTTANTE ONT ETE REALISES ET CARACTERISES. CETTE ETUDE A PERMIS D'ETABLIR DE NOUVEAUX MODELES LOGIQUES DE FAUTES POUR CE TYPE DE DEFAILLANCE. DE PLUS, UNE METHODOLOGIE GENERALE POUR LA MODELISATION DES FAUTES DEPENDANTES DE LA TOPOLOGIE ET DE LA TECHNOLOGIE A ETE ETABLIE
Author : Xavier Maldague
Publisher : Presses de l'Université Laval
ISBN 13 : 2766302964
Total Pages : 450 pages
Book Rating : 4.7/5 (663 download)
Download or read book Circuits logiques written by Xavier Maldague and published by Presses de l'Université Laval. This book was released on 2023-07-20T00:00:00-04:00 with total page 450 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette troisième édition de Circuits logiques aborde tous les aspects de l’arithmétique binaire de base aux circuits séquentiels complexes (avec un soupçon de microprogrammation) et est destinée à la clientèle universitaire de premier cycle de génie électrique, de génie informatique, de génie logiciel ou de génie physique qui a dans son programme scolaire un cours de base sur les circuits de base logiques, c’est-à-dire des circuits combinatoires jusqu’aux circuits séquentiels. Elle peut aussi servir à l’enseignement collégial, sans doute en excluant la partie séquentielle et en y ajoutant des notions d’électronique non couvertes ici. D’un format compact, elle sera aisément couverte en un trimestre. Une foule d’exposés théoriques magistraux et d’expériences pratiques semble être la combinaison pédagogique idéale. Ce livre a été pensé en conséquence. C’est ainsi que chaque partie est très détaillée. L’ajout de problèmes et de démonstrations (par exemple, des simulations) réalisés en classe complétera judicieusement le contenu de ce volume. On favorise d’ailleurs cette approche d’apprentissage par l’exemple dans ce livre où les notions sont très souvent présentées à même les exemples résolus.
Author : R. Damaye
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 496 pages
Book Rating : 4.:/5 (89 download)
Download or read book Logique électronique et circuits intégrés numériques written by R. Damaye and published by . This book was released on 1970 with total page 496 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : François Marc
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 190 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book Elaboration d'une méthodologie de localisation de défauts sur circuits intégrés logiques par test sous faisceau d'électrons ; application à différentes fonctions électroniques written by François Marc and published by . This book was released on 1994 with total page 190 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE METHODOLOGIE ANALYTIQUE DE LOCALISATION DE DEFAUT PAR TEST SOUS FAISCEAU D'ELECTRONS POUR LES CIRCUITS INTEGRES LOGIQUES, APPLICABLE DANS LES SITUATIONS DE CONNAISSANCE MINIMALE DU CIRCUIT, A ETE DEVELOPPEE. CETTE METHODOLOGIE CONSISTE EN UNE DECOMPOSITION DE CHAQUE OBJECTIF EN OBJECTIFS PLUS SIMPLES, ASSOCIEE A UN CHOIX RIGOUREUX DES TECHNIQUES D'OBSERVATION ET DES SEQUENCES DE TEST EN FONCTION DU CIRCUIT TESTE, DU TESTEUR UTILISE, DES PHENOMENES PHYSIQUES LIMITANT LES PERFORMANCES, ET SURTOUT DE L'OBJECTIF. L'INTERET D'UNE TECHNIQUE DE LOCALISATION RAPIDE DE FONCTIONS INTERNES QUELCONQUES A CONDUIT AU DEVELOPPEMENT DE LA SELECTION DE SIGNAUX, PARTICULIEREMENT PERFORMANTE DANS CE DOMAINE. L'APPLICATION DE LA METHODOLOGIE A DES FAMILLES FONCTIONNELLES COURANTES A ENTRAINE LA CONSTRUCTION DE METHODOLOGIES SPECIFIQUES EXPLOITANT LES PARTICULARITES DE CES CIRCUITS. L'EFFICACITE ET LA RAPIDITE DE LA METHODOLOGIE SONT DEMONTREES PAR DES CAS REELS D'ANALYSES
Author : Ghassan Al-Hayek
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 146 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL written by Ghassan Al-Hayek and published by . This book was released on 1999 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE A POUR OBJECTIF D'ELABORER UNE APPROCHE UNIFIEE POUR LA VALIDATION ET LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES SPECIFIES AU NIVEAU FONCTIONNEL. DEUX MOTIVATIONS PRINCIPALES SONT A LA BASE DE CE TRAVAIL. D'UN COTE, LA COMPLEXITE CROISSANTE DES CIRCUITS D'ECHELLE TRES LARGE D'INTEGRATION (VLSI) REND LA GENERATION DES TESTS EN SE BASANT SUR DES MODELES DE FAUTES DE BAS NIVEAU (PAR EXEMPLE, LE NIVEAU LOGIQUE) TRES COUTEUSE. D'UN AUTRE COTE, LES PROGRES IMPORTANTS ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE LA CONCEPTION ASSISTEE PAR ORDINATEUR (CAO) PERMETTENT ACTUELLEMENT DE SPECIFIER LES CIRCUITS AU NIVEAU FONCTIONNEL EN UTILISANT DES LANGAGES DEDIES TRES EVOLUES (PAR EXEMPLE, VHDL). L'APPROCHE PROPOSEE SE DEMARQUE DES METHODES DE GENERATION TRADITIONNELLES PUISQU'ELLE CONSIDERE QUE LES FAUTES ADAPTEES AU NIVEAU FONCTIONNEL SONT DES FAUTES LOGICIELLES. AINSI, CETTE THESE DEMONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION, JUSQU'A PRESENT APPLIQUE UNIQUEMENT AU LOGICIEL, EST EGALEMENT EFFICACE AU NIVEAU MATERIEL. AU NIVEAU FONCTIONNEL, LE TEST PAR MUTATION CONSTITUE UNE METHODE DE VALIDATION EFFICACE ET SYSTEMATIQUE POUR DETECTER LES FAUTES DE CONCEPTION. IL GARANTIT UN ENSEMBLE DE CRITERES STANDARDS (PAR EXEMPLE, LA NORME IEEE-1008) TELS QUE LA COUVERTURE D'INSTRUCTIONS, DE BRANCHES, DE PREDICATS ET DE VALEURS EXTREMES. AU NIVEAU LOGIQUE, IL A ETE MONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION (AVEC UNE BONNE ADAPTATION AU MATERIEL) EST EGALEMENT EFFICACE POUR DETECTER LES FAUTES MATERIEL. SUR UN ENSEMBLE DE CIRCUITS REPRESENTATIFS (COMBINATOIRES ET SEQUENTIELS), UNE COUVERTURE SUPERIEURE A 99% (EN MOYENNE) A ETE ASSURE SUR LES FAUTES LOGIQUES DE COLLAGE. AINSI, LE TEST PAR MUTATION PEUT ETRE A LA BASE D'UNE SOLUTION UNIQUE POUR TESTER LES CIRCUITS ELECTRONIQUES TOUT AU LONG DE LA CYCLE DE CONCEPTION.
Author : T. F. Leedy
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 52 pages
Book Rating : 4.:/5 (31 download)
Download or read book Large Scale Integration Digital Testing written by T. F. Leedy and published by . This book was released on 1979 with total page 52 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Francis Jouaville
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 144 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book Etude et réalisation d'un banc de test de circuits intégrés utilisant un faisceau laser written by Francis Jouaville and published by . This book was released on 1987 with total page 144 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Laurent FAURE-BEAULANDE
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Outil graphique d'aide au diagnostic des circuits intégrés logiques défectueux written by Laurent FAURE-BEAULANDE and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Ian A. Grout
Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 9781846280238
Total Pages : 396 pages
Book Rating : 4.2/5 (82 download)
Download or read book Integrated Circuit Test Engineering written by Ian A. Grout and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2005-08-22 with total page 396 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Using the book and the software provided with it, the reader can build his/her own tester arrangement to investigate key aspects of analog-, digital- and mixed system circuits Plan of attack based on traditional testing, circuit design and circuit manufacture allows the reader to appreciate a testing regime from the point of view of all the participating interests Worked examples based on theoretical bookwork, practical experimentation and simulation exercises teach the reader how to test circuits thoroughly and effectively
Author : Marc Laffitte
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES written by Marc Laffitte and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA COMPLEXITE DES CIRCUITS INTEGRES S'ACCROIT SANS CESSE, RENDANT LEUR TEST TOUJOURS PLUS DIFFICILE. DES CONSEQUENCES DIRECTES SONT DES TEMPS DE GENERATION DES VECTEURS DE TEST PLUS LONG, UN NOMBRE DE METHODES DE TEST POSSIBLES CROISSANT, ETC.; MAIS AUSSI LE CARACTERE HETEROGENE DES CIRCUITS OU PEUVENT SE COTOYER DES BLOCS DE NATURE DIFFERENTE (MEMOIRES, LOGIQUE ALEATOIRE, ETC.). IL FAUT DONC RECOURIR A PLUSIEURS METHODES DE TEST, C'EST-A-DIRE A UN TEST HIERARCHISE. CECI IMPLIQUE LA DEFINITION DE STRATEGIES DE TESTS SPECIFIQUES A CHAQUE CIRCUIT. LE BUT DU TRAVAIL PRESENTE EST DONC DE DECRIRE FORMELLEMENT L'ACTIVITE D'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST. UNE CLASSIFICATION DES METHODES DE TEST SERT DE BASE DE DONNEES A UN MODELE DE STRATEGIES DE TEST PROPOSE. GRACE AUX NOUVEAUX CONCEPTS D'UNITE D'INFORMATION POUR LE TEST ET DE PROPRIETE DE TRANSPORT, CE MODELE OFFRE POUR LA PREMIERE FOIS UN CADRE GENERAL, NON RESTRICTIF, DANS L'ELABORATION D'UNE STRATEGIE OPTIMALE POUR UN CIRCUIT DONNE. IL PERMET LA RECHERCHE DE NOUVELLES METHODES DE PLANIFICATION POUR L'ELABORATION DES STRATEGIES. ENFIN, IL A PERMIS LA REALISATION D'UN PREMIER PROTOTYPE DE SYSTEME A BASE DE CONNAISSANCES, NOMME ITSELF, QUI PERMET A L'UTILISATEUR D'EXPLORER TOUTES LES STRATEGIES POSSIBLES POUR SES CIRCUITS
Author :
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 52 pages
Book Rating : 4.:/5 (2 download)
Download or read book NBS Technical Note written by and published by . This book was released on 1979-08 with total page 52 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Gérard Félétou
Publisher :
ISBN 13 : 9782709106665
Total Pages : 144 pages
Book Rating : 4.1/5 (66 download)
Download or read book Liste d'équivalences circuits intégrés written by Gérard Félétou and published by . This book was released on 1976 with total page 144 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Barry Woollard
Publisher : Bordas Editions
ISBN 13 : 9782040106652
Total Pages : 206 pages
Book Rating : 4.1/5 (66 download)
Download or read book Conquérir la logique written by Barry Woollard and published by Bordas Editions. This book was released on 1980 with total page 206 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Technologie, portes logiques de base, circuits intégrés numériques, logigrammes, bistables, registres, compteurs, applications.
