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Author :
Publisher : Ed. Techniques Ingénieur
ISBN 13 :
Total Pages : 9 pages
Book Rating : 4./5 ( download)
Download or read book Imagerie de Surface de Polymeres: Microscope a Force Atomique written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 9 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : G. Julius Vancso
Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 3642012310
Total Pages : 258 pages
Book Rating : 4.6/5 (42 download)
Download or read book Scanning Force Microscopy of Polymers written by G. Julius Vancso and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2010-08-02 with total page 258 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Scope of the Book Synthetic and natural polymers exhibit a complex structural and morphological hierarchy on multiple length scales [1], which determines their performance. Thus, research aiming at visualizing structure and morphology using a multitude of microscopy techniques has received considerable attention since the early days of polymer science and technology. Various well-developed techniques such as optical microscopy and different forms of electron microscopy (Scanning Electron Micr- copy, SEM; Transmission Electron Microscopy, TEM; Environmental Scanning Electron Microscopy, ESEM) allow one to view polymeric structure at different levels of magni?cation. These classical techniques, and their applications to po- mers, are well documented in the literature [2, 3]. The invention of Scanning Tunneling Microscopy (STM) inspired the devel- ment of Atomic Force Microscopy (AFM) and other forms of scanning proximity microscopes in the late 1980s [4, 5]. AFM, unlike STM, can be used to image n- conducting specimens such as polymers. In addition, AFM imaging is feasible in liquids, which has several advantages. Using liquid imaging cells the forces between specimen and AFM probe are drastically reduced, thus sample damage is prevented. In addition, the use of water as imaging medium opened up new applications aiming at imaging, characterizing, and analyzing biologically important systems.
Author : Victor J Morris
Publisher : World Scientific
ISBN 13 : 190897821X
Total Pages : 423 pages
Book Rating : 4.9/5 (89 download)
Download or read book Atomic Force Microscopy For Biologists (2nd Edition) written by Victor J Morris and published by World Scientific. This book was released on 2009-08-11 with total page 423 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Atomic force microscopy (AFM) is part of a range of emerging microscopic methods for biologists which offer the magnification range of both the light and electron microscope, but allow imaging under the 'natural' conditions usually associated with the light microscope. To biologists, AFM offers the prospect of high resolution images of biological material, images of molecules and their interactions even under physiological conditions, and the study of molecular processes in living systems. This book provides a realistic appreciation of the advantages and limitations of the technique and the present and future potential for improving the understanding of biological systems.The second edition of this bestseller has been updated to describe the latest developments in this exciting field, including a brand new chapter on force spectroscopy. The dramatic developments of AFM over the past ten years from a simple imaging tool to the multi-faceted, nano-manipulating technique that it is today are conveyed in a lively and informative narrative, which provides essential reading for students and experienced researchers alike./a
Author : PIERRE-EMMANUEL.. MAZERAN
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 159 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)
Download or read book MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE ET IMAGERIE MECANIQUE written by PIERRE-EMMANUEL.. MAZERAN and published by . This book was released on 1998 with total page 159 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES MICROSCOPES A FORCE ATOMIQUE (AFM) ET A FORCE LATERALE (LFM) PERMETTENT DE REALISER DES IMAGES TOPOGRAPHIQUES ET EN FORCE DE FROTTEMENT DE MATERIAUX DE NATURE TRES VARIEE, AVEC DES RESOLUTIONS NANOMETRIQUES. CETTE THESE A DEUX OBJECTIFS. LE PREMIER CONSISTE A ETENDRE LES CAPACITES DE L'APPAREIL A L'IMAGERIE MECANIQUE QUANTITATIVE DES RAIDEURS DU CONTACT POINTE/SURFACE. LE SECOND CONSISTE A DETERMINER LES PROPRIETES ELASTO-PLASTIQUES D'UNE SURFACE A PARTIR DES VALEURS DES RAIDEURS DU CONTACT POINTE/SURFACE EN UTILISANT LES THEORIES DU CONTACT ELASTIQUES OU PLASTIQUE. DANS UN PREMIER TEMPS, NOUS AVONS CARACTERISE LES PROPRIETES MECANIQUES ET GEOMETRIQUES DU MICROLEVIER AFM. LA RAIDEUR EN FLEXION DU MICROLEVIER EST DETERMINEE A PARTIR DE SA FREQUENCE DE RESONANCE. LA COURBURE DE L'EXTREMITE DE LA POINTE EST EXTRAITE D'IMAGES TOPOGRAPHIQUES REALISEES SUR UNE SURFACE MODELE. DANS UN SECOND TEMPS, NOUS AVONS COMPARE ET ANALYSE LES TECHNIQUES DE MODULATION DE FORCE (FM) DIRECTE ET INDIRECTE. CES TECHNIQUES PERMETTENT DE MESURER DE MANIERE QUALITATIVE LES PROPRIETES MECANIQUES DE LA SURFACE. ELLES CONSISTENT A MESURER LA VARIATION D'INDENTATION DE LA SURFACE PROVOQUEE PAR UNE VARIATION DE LA FORCE NORMALE. EN UTILISANT UN MODELE BIDIMENSIONNEL, NOUS MONTRONS QUE LE CONTRASTE DANS LES IMAGES FM EST ESSENTIELLEMENT DU A LA FORCE LATERALE APPLIQUEE SUR LA POINTE. ON PEUT NEANMOINS MESURER DE MANIERE APPROCHEE LE MODULE D'ELASTICITE DE LA SURFACE EN UTILISANT DES LEVIERS DE GRANDES RAIDEURS, COMPTE TENU DE LA NATURE ELASTO-PLASTIQUE DU CONTACT. DANS UN TROISIEME TEMPS, NOUS AVONS DEVELOPPE UNE METHODE DYNAMIQUE D'ACQUISITION DU SIGNAL LFM POUR REALISER DES IMAGES EN FROTTEMENT ET DES IMAGES EN RAIDEUR LATERALE DU CONTACT. APRES AVOIR ETALONNE LE SIGNAL LFM EN TERME DE FORCE LATERALE, NOUS POUVONS OBTENIR UNE IMAGE QUANTITATIVE EN RAIDEUR LATERALE DU CONTACT POINTE/SURFACE. LA QUANTIFICATION DU MODULE D'ELASTICITE DE LA SURFACE DONNE DES RESULTATS SATISFAISANTS.
Author : M.T. Bray
Publisher : Springer Science & Business Media
ISBN 13 : 1475793227
Total Pages : 431 pages
Book Rating : 4.4/5 (757 download)
Download or read book Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy written by M.T. Bray and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2013-11-11 with total page 431 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The first U. S. Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium was held on lune 8-10, 1993 in Natick, Massachusetts. This book represents the compilation of the papers presented at the meeting. The purpose ofthis symposium was to provide a forum where scientists from a number of diverse fields could interact with one another and exchange ideas. The various topics inc1uded application of AFM/STM in material sciences, polymers, physics, biology and biotechnology, along with recent developments inc1uding new probe microscopies and frontiers in this exciting area. The meeting's format was designed to encourage communication between members of the general scientific community and those individuals who are at the cutting edge of AFM, STM and other probe microscopies. It immediately became clear that this conference enabled interdisciplinary interactions among researchers from academia, industry and government, and set the tone for future collaborations. Expert scientists from diverse scientific areas including physics, chemistry, biology, materials science and electronics were invited to participate in the symposium. The agenda of the meeting was divided into three major sessions. In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.
Author : Eléonore Lambert
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (11 download)
Download or read book Apports de la Microscopie à Force Atomique à l'étude de phénomènes dynamiques en biologie et développement instrumental associé written by Eléonore Lambert and published by . This book was released on 2018 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le Laboratoire de Recherche en Nanosciences EA 4682 s'est récemment équipé de la microscopie à force atomique haute-vitesse (HS-AFM) permettant la visualisation en temps réel des dynamiques d'interactions d'un panel infini d'échantillons biologiques à l'échelle nanométrique. De nombreux champ de recherche nécessite la mise au point de techniques permettant à la fois une imagerie dynamique (vidéomicroscopie) mais également de plus en plus une imagerie haute résolution (microscopie champ proche). Ce couplage a été récemment obtenu grâce au développement de la microscopie à force atomique ultra-rapide. La limitation actuelle de ce microscope ultra-rapide, à savoir l'acquisition d'informations en relation uniquement avec la surface de l'objet biologique étudié, crée un rempart à l'obtention de connaissances nouvelles sur les dynamiques sous-jacentes que renferment certains systèmes biomoléculaires. Pour s'affranchir de cette contrainte, nous nous proposons dans ce projet de faire évoluer notre outil de nanocaractérisation en lui ajoutant des fonctionnalités optiques et des fonctionnalités permettant de faire de la spectroscopie de force. La conduite de ce projet se fera selon un travail de développement instrumental scindé en deux grandes étapes : - l'apport d'outils de microscopie optique conventionnels : FRAP - FRET - FLIM - Fluorescence - TIRFM. Nous couplons ainsi la nanocaractérisation hautement résolue spatialement et temporellement avec des informations intrinsèques de nos échantillons. Cette complémentarité apparaît de plus en plus comme fondamentale dans les demandes des biologistes. - la mise au point de protocoles de fonctionnalisation de leviers AFM afin de réaliser de la spectroscopie de force et ainsi obtenir des informations sur les propriétés mécaniques des échantillons biologiques. Ce projet de recherche sera réalisé au Laboratoire de Recherche en Nanosciences EA 4682, Université de Reims Champagne Ardenne sous la direction du Pr. Michael Molinari et du Dr. Maxime Ewald récemment recruté en tant que maître de conférences (sept. 2013) et qui pu démarrer la thématique de la microscopie AFM haute-vitesse au sein de l'équipe. Il s'effectuera en collaboration avec le Pr. T. Ando du Biophysics Lab' de l'Université de Kanazawa (Japon) pour la partie instrumentation, et avec le Dr. Gabriel Paës pour l'étude des échantillons biologiques. Les objets étudiés lors de cette thèse seront liés au projet ANR Lignoprog qui vient de démarrer au 1er novembre 2014 porté par Dr. Gabriel Paës (INRA UMR FARE, Reims). Dans ce projet, des échantillons biologiques se doivent d'être caractériser en dynamique. Ils concernent la biomasse lignocellulosique (BL), réseau complexe de polymères constituant les parois végétales (PV). La complexité architecturale et chimique de la BL est un frein à sa conversion industrielle. Pour atteindre ce but, non seulement la fraction cellulosique mais aussi les fractions hémicellulosiques et ligneuses doivent être valorisées, sinon les bio-raffineries ne seront pas compétitives. Le principal challenge à relever est celui du coût élevé et de la relative faible efficacité de l'étape de déconstruction enzymatique de la BL. Avec les fonctionnalités d'imagerie développées dans ce projet, nous espérons apporter des éléments de réponses sur la déconstruction enzymatique. Par ailleurs, même si les objets étudiés seront principalement ceux du projet Lignoprog, une validation du dispositif pourra être réalisée en parallèle sur d'autres échantillons biologiques tels que des cellules vivantes seront envisagées : caractérisation, mise en évidence leur réactivité vis-à-vis des divers paramètres physiologiques du milieu (pH, concentration, composition), corrélation de ces résultats avec leurs propriétés mécaniques.
Author : Peter Eaton
Publisher : Oxford University Press
ISBN 13 : 9780191576676
Total Pages : 256 pages
Book Rating : 4.5/5 (766 download)
Download or read book Atomic Force Microscopy written by Peter Eaton and published by Oxford University Press. This book was released on 2010-03-25 with total page 256 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique.
Author : Buddy D. Ratner
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 392 pages
Book Rating : 4.3/5 (91 download)
Download or read book Scanning Probe Microscopy of Polymers written by Buddy D. Ratner and published by . This book was released on 1998 with total page 392 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The highlights of this book include an examination of the use of scanning probe microscopy to characterize a variety of polymeric materials, from polymer single crystals and molecular films to composites and biopolymers. The volume provides a synthesis of critical overviews and important new developments, including applications in atomic resolution, chemical force microscopy, and recognition/nanolithography. It includes a review of basic principles and operational modes, terminology, trends, and a discussion of key industrial applications, such as polymer fibers, polymer composites, and filled polymers. It also includes chapters on biopolymers and living cells and on methods for probing micromechanical properties.
Author : Fabien Castanié
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 180 pages
Book Rating : 4.:/5 (867 download)
Download or read book Approches numérique et théorique du microscope à force atomique written by Fabien Castanié and published by . This book was released on 2012 with total page 180 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La microscopie à force atomique (AFM) est un outil puissant et polyvalent capable de réaliser des images avec une résolution sub-nanométrique d'un grand type d'échantillons, comme des surfaces de matériaux inorganiques avec ou sans molécules adsorbées, et d'opérer dans des environnements allant de l'ultra-haut vide (UHV) à l'interface solide/liquide. Parmi les différents modes existants, l'AFM en mode modulation de fréquence (FM-AFM) donne des résultats remarquables grâce à deux boucles de contrôle et une d'asservissement qui s'influencent mutuellement. En contrepartie, la compréhension du fonctionnement de la machine ainsi que l'optimisation de ses réglages s'avèrent délicates. De plus, cette difficulté est accentuée par l'interprétation souvent complexe liée aux phénomènes spécifiques à l'échelle nanométrique. Pour pallier ces difficultés, le travail de thèse a consisté en l'élaboration d'un AFM numérique (n-AFM) à partir d'un code de calcul conçu par L. Nony en langage C. Après une phase d'implémentation en Fortran 90 pour assurer portabilité et compatibilité avec d'autres programmes scientifiques, de nouvelles fonctionnalités ont été développées. Parmi celles-ci, un couplage avec un code de dynamique moléculaire (MD) a été réalisé afin de considérer les effets de température et de relaxation du système imagé. Ces développements du n-AFM ont permis de mettre en oeuvre différents régimes et modes d'utilisation à travers l'étude de plusieurs systèmes. En premier lieu, des molécules bi- et tri-dimensionnelles adsorbées ont permis d'éprouver la sensibilité et la stabilité du n-AFM en simulant un cantilever classique et un tuning fork. En deuxième lieu, la reconstruction de la surface 6H-SiC(3X3) a été étudiée à l'aide de la MD puis du n-AFM. Les images expérimentales de cette reconstruction révèlent un comportement atypique que nous nous sommes efforcés de comprendre et d'expliquer. Enfin, l'utilisation du n-AFM a été étendue à d'autres domaines que l'étude des surfaces et molécules. En particulier, nous avons modélisé et étudié en FM-AFM l'influence d'un défaut sur les parois d'une nano-pointe oscillant à l'interface air/liquide. Et nous avons enfin poursuivi par l'étude de l'influence, sur le comportement d'un AFM en mode modulation d'amplitude (tapping mode), de nano-films de liquide à la surface du système pointe-substrat.
Author : Greg Haugstad
Publisher : John Wiley & Sons
ISBN 13 : 1118360680
Total Pages : 496 pages
Book Rating : 4.1/5 (183 download)
Download or read book Atomic Force Microscopy written by Greg Haugstad and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2012-09-04 with total page 496 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. “Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”
Author : Hao Tang
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 252 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book MODELING OF TIP-SAMPLE INTERACTIONS IN ATOMIC FORCE MICROSCOPY: CALCULATION AND INTERPRETATION OF IMAGES written by Hao Tang and published by . This book was released on 1995 with total page 252 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES EXPERIENCES DE MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (AFM) SONT ENCORE MAL COMPRISES, AUSSI BIEN POUR L'ORIGINE DES RUGOSITES ET L'ORDRE DE GRANDEUR DES FORCES MESUREES QUE POUR L'INTERPRETATION STRUCTURALE DES IMAGES. POUR MIEUX COMPRENDRE LES PHENOMENES LORS D'UNE IMAGERIE, NOUS AVONS COMMENCE PAR UNE CLASSIFICATION DES DIFFERENTES METHODES DE MODELISATION EXISTANTES, AVANT DE PORTER NOTRE CHOIX SUR LA MECANIQUE MOLECULAIRE QUI PERMET UNE DESCRIPTION PAR DES POTENTIELS CHIMIQUES DE LA JONCTION POINTE-SURFACE EN LA CONSIDERANT COMME UNE SUPERMOLECULE. LA PRISE EN COMPTE DES DEFORMATIONS A PERMIS DE REPRODUIRE LES IMAGES DE TROIS SUBSTRATS DE NATURE TRES DIFFERENTE: LE GRAPHITE, LE MICA (MUSCOVITE) ET LE CHLORURE DE SODIUM. CEPENDANT, CETTE METHODE RESTE INSUFFISANTE POUR UNE EVALUATION CORRECTE DE LA RUGOSITE ET DES FORCES MESUREES MALGRE SES POSSIBILITES TANT POUR L'ETUDE DES SURFACES PLANES QUE POUR L'ETUDE DES DEFAUTS COMME LES MARCHES OU LES LACUNES. UN NOUVEAU MODELE EST DONC PROPOSE, BASE SUR LE CONCEPT DIT DE JELLIUM DEFORMABLE DANS LEQUEL LES INTERACTIONS POINTE-SURFACE DE LA JONCTION SONT DECRITES PAR LES LOIS DU MILIEU CONTINU POUR LES PARTIES LOIN DE LA ZONE DE CONTACT ET PAR LA MECANIQUE MOLECULAIRE POUR LES PARTIES DANS LA ZONE DE CONTACT. UNE PREMIERE APPLICATION DE CE MODELE MONTRE UN BON ACCORD DE LA RUGOSITE ET L'ORDRE DE GRANDEUR DES FORCES CALCULEES AVEC LES VALEURS EXPERIMENTALES. PAR QUELQUES EXEMPLES IL EST MONTRE QUE L'ON PEUT ENVISAGER DESORMAIS D'UTILISER CETTE APPROCHE POUR DES ETUDES PLUS AVANCEES COMME LA MANIPULATION D'ATOMES, L'IMAGERIE DE MOLECULES ADSORBEES, LA RECONNAISSANCE D'UN SITE ACTIF D'UNE PROTEINE OU LE CALCUL SIMULTANE D'UNE IMAGE AFM ET STM
Author : I. Meisel
Publisher : Wiley-VCH
ISBN 13 : 9783527303298
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.3/5 (32 download)
Download or read book Advances in Scanning Probe Microscopy of Polymers written by I. Meisel and published by Wiley-VCH. This book was released on 2001-08-15 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The symposium "Recent Advances in Scanning Probe Microscopy of Polymers" held during the 220th American Chemical Society National Meeting in Washington DC in August 2000 focused on the latest advances in applications of SPM techniques for the study of polymeric and organic materials. The main topics consisted of SPM imaging of polymer morphology and microstructure, microtribological properties of polymers, micromechanical probing of polymers, microthermal imaging, studies of ultrathin and molecular organic and polymeric films, modeling of tip-surface interactions, chemical compositional analysis of heterogeneous materials, and SPM applications to industrial polymers. This volume of Macromolecular Symposia will be a valuable guide in the field of contemporary SPM studies of polymeric materials.
Author :
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 2 pages
Book Rating : 4.:/5 (727 download)
Download or read book Interfacial Force Microscopy written by and published by . This book was released on 2000 with total page 2 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Scanning-probe microscopies (SPM) are presently widely used in remarkably diverse applications and, as evidenced by this symposium these techniques are rapidly expanding into the important areas of polymer surfaces and interfaces. The Atomic Force Microscope (AFM) is presently the most widely used of the scanning-probe techniques. However, the AFM's range of application suffers from an inherent mechanical instability in its deflection force sensor. The instability problem has been overcome by the development of the Interfacial Force Microscope (IFM), which utilizes a force-feedback sensor concept. In the following, the authors present several examples of polymer applications to illustrate the utility of the IFM sensor concept.
Author : Shanshan Xiang
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 138 pages
Book Rating : 4.:/5 (823 download)
Download or read book Surface Characterization of Industrial Polymers, Using Atomic Force Microscopy written by Shanshan Xiang and published by . This book was released on 2012 with total page 138 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Polymers are widely used throughout lives and industry. Three typical industrial polymers are picked as research samples. They are polyethylene, polypropylene, and polyacetal copolymer. AFM, as an excellent member of Scanning Probe Microscopy, characterize the properties while scanning over the sample surface. This investigation is designated to characterize the properties of sample surface using AFM. Samples are prepared by microtome to get flat surface, then are scanned in AC AFM Modes. Images are collected and discussed in the report.
Author : Ziad Elkaakour
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 158 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book La microscopie à force atomique comme moyen d'étude des films de polymère written by Ziad Elkaakour and published by . This book was released on 1996 with total page 158 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE A ELARGI SON CHAMP D'INVESTIGATION POUR DEVENIR UNE TECHNIQUE D'ANALYSE DES PROPRIETES MECANIQUES DES POLYMERES A L'ECHELLE SUBMICROMETRIQUE. NOTRE TRAVAIL S'INSCRIT DANS LE CADRE DE LA COMPREHENSION DE L'ETAT D'EQUILIBRE ET DE LA STABILITE DU CONTACT D'UNE POINTE AVEC UNE SURFACE AFIN DE MIEUX EXPLOITER L'ETUDE SUR LES MATERIAUX MOUS TELS QUE LES FILMS DE POLYMERES. LES TRAVAUX PRESENTES DANS CETTE THESE PORTENT SUR L'APPLICATION DE LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE COMME MOYEN D'ETUDE SUR DES FILMS DE POLYMERES. CETTE ETUDE PORTE SUR LE CONTROLE DE LA MODIFICATION, VOIRE DE LA MANIPULATION, DES STRUCTURES DES SURFACES DE FILMS DE POLYACETYLENES A DES ECHELLES NANOMETRIQUES
Author : OLIVIER.. PIETREMENT
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (11 download)
Download or read book IMAGERIE ET CARACTERISATION NANOMECANIQUE DES SURFACES PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE written by OLIVIER.. PIETREMENT and published by . This book was released on 2018 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE MEMOIRE PORTE SUR L'ETUDE ET LA MESURE QUANTITATIVE DES PROPRIETES MECANIQUES DE SURFACE A L'AIDE DE LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (AFM). LE PREMIER MODE DE FONCTIONNEMENT DE L'AFM QUE NOUS AVONS UTILISE EST LA MODULATION DE FORCE LATERALE (MLFM). CETTE TECHNIQUE CONSISTE A MODULER LATERALEMENT LA POSITION DE L'ECHANTILLON ET A DETECTER LES MOUVEMENTS DE TORSION DU MICROLEVIER. ELLE PERMET, SELON L'AMPLITUDE DES DEPLACEMENTS LATERAUX, DE TRAVAILLER EN ELASTICITE OU EN FRICTION. POUR LES ETUDES D'ELASTICITE, NOUS AVONS AINSI PROPOSE UN PROTOCOLE D'ETALONNAGE DE LA RIGIDITE LATERALE EQUIVALENTE K T O T, QUI PERMET A L'AIDE DES THEORIES DU CONTACT DE REMONTER SOUS CERTAINES CONDITIONS AU MODULE ELASTIQUE ET AU MODULE DE CISAILLEMENT. NOUS AVONS AUSSI EFFECTUE DES MESURES DE FRICTION ET, EN LES COMBINANT AUX MESURES DE RIGIDITE LATERALE, NOUS AVONS MONTRE UNE DEPENDANCE EN PRESSION DE LA CONTRAINTE DE CISAILLEMENT SUR CERTAINES SURFACES. NOUS AVONS ENSUITE TRAVAILLE SUR LE MODE DE MODULATION MAGNETIQUE (MMFM) QUI PRESENTE UNE FAIBLE SENSIBILITE AUX FORCES DE FRICTION, CONTRAIREMENT AU MODE DE MODULATION INDIRECTE. EN MODELISANT LES MOUVEMENTS DU MICROLEVIER, NOUS AVONS MESURE, SOUS CERTAINES CONDITIONS EXPERIMENTALES, LA RIGIDITE NORMALE K N. POUR REMONTER AU MODULE ELASTIQUE E DE SURFACE, NOUS AVONS PROPOSE UNE EQUATION GENERALISEE DECRIVANT LES VARIATIONS DE K N EN FONCTION DE LA CHARGE NORMALE APPLIQUEE SELON LE MODELE DE MAUGIS-DUGDALE. LES VALEURS DU MODULE ELASTIQUE, MESUREES SUR DEUX SORTES DE POLYETHYLENE, SONT EN BON ACCORD AVEC CELLES OBTENUES PAR NANOINDENTATION ET PAR COURBES DE FORCE-DISTANCE. SON ASSOCIATION AVEC LA MODULATION DE FORCE LATERALE PERMET DE CARACTERISER COMPLETEMENT LE CONTACT GRACE A LA MESURE DU MODULE DE CISAILLEMENT REDUIT G* ET DE LA CONTRAINTE DE CISAILLEMENT .
Author : OLIVIER.. PIETREMENT
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 205 pages
Book Rating : 4.:/5 (799 download)
Download or read book IMAGERIE ET CARACTERISATION NANOMECANIQUE DES SURFACES PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE written by OLIVIER.. PIETREMENT and published by . This book was released on 2000 with total page 205 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE MEMOIRE PORTE SUR L'ETUDE ET LA MESURE QUANTITATIVE DES PROPRIETES MECANIQUES DE SURFACE A L'AIDE DE LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (AFM). LE PREMIER MODE DE FONCTIONNEMENT DE L'AFM QUE NOUS AVONS UTILISE EST LA MODULATION DE FORCE LATERALE (MLFM). CETTE TECHNIQUE CONSISTE A MODULER LATERALEMENT LA POSITION DE L'ECHANTILLON ET A DETECTER LES MOUVEMENTS DE TORSION DU MICROLEVIER. ELLE PERMET, SELON L'AMPLITUDE DES DEPLACEMENTS LATERAUX, DE TRAVAILLER EN ELASTICITE OU EN FRICTION. POUR LES ETUDES D'ELASTICITE, NOUS AVONS AINSI PROPOSE UN PROTOCOLE D'ETALONNAGE DE LA RIGIDITE LATERALE EQUIVALENTE K T O T, QUI PERMET A L'AIDE DES THEORIES DU CONTACT DE REMONTER SOUS CERTAINES CONDITIONS AU MODULE ELASTIQUE ET AU MODULE DE CISAILLEMENT. NOUS AVONS AUSSI EFFECTUE DES MESURES DE FRICTION ET, EN LES COMBINANT AUX MESURES DE RIGIDITE LATERALE, NOUS AVONS MONTRE UNE DEPENDANCE EN PRESSION DE LA CONTRAINTE DE CISAILLEMENT SUR CERTAINES SURFACES. NOUS AVONS ENSUITE TRAVAILLE SUR LE MODE DE MODULATION MAGNETIQUE (MMFM) QUI PRESENTE UNE FAIBLE SENSIBILITE AUX FORCES DE FRICTION, CONTRAIREMENT AU MODE DE MODULATION INDIRECTE. EN MODELISANT LES MOUVEMENTS DU MICROLEVIER, NOUS AVONS MESURE, SOUS CERTAINES CONDITIONS EXPERIMENTALES, LA RIGIDITE NORMALE K N. POUR REMONTER AU MODULE ELASTIQUE E DE SURFACE, NOUS AVONS PROPOSE UNE EQUATION GENERALISEE DECRIVANT LES VARIATIONS DE K N EN FONCTION DE LA CHARGE NORMALE APPLIQUEE SELON LE MODELE DE MAUGIS-DUGDALE. LES VALEURS DU MODULE ELASTIQUE, MESUREES SUR DEUX SORTES DE POLYETHYLENE, SONT EN BON ACCORD AVEC CELLES OBTENUES PAR NANOINDENTATION ET PAR COURBES DE FORCE-DISTANCE. SON ASSOCIATION AVEC LA MODULATION DE FORCE LATERALE PERMET DE CARACTERISER COMPLETEMENT LE CONTACT GRACE A LA MESURE DU MODULE DE CISAILLEMENT REDUIT G* ET DE LA CONTRAINTE DE CISAILLEMENT .
