Read Books Online and Download eBooks, EPub, PDF, Mobi, Kindle, Text Full Free.
Ellipsometrie Spectroscopique Application A La Caracterisation De Silicium Poreux
Download Ellipsometrie Spectroscopique Application A La Caracterisation De Silicium Poreux full books in PDF, epub, and Kindle. Read online Ellipsometrie Spectroscopique Application A La Caracterisation De Silicium Poreux ebook anywhere anytime directly on your device. Fast Download speed and no annoying ads. We cannot guarantee that every ebooks is available!
Book Synopsis ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE. APPLICATION A LA CARACTERISATION DE SILICIUM POREUX by : ABDELJALIL.. YASSFY
Download or read book ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE. APPLICATION A LA CARACTERISATION DE SILICIUM POREUX written by ABDELJALIL.. YASSFY and published by . This book was released on 1996 with total page 131 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ELLIPSOMETRIE EST UNE METHODE OPTIQUE, NON DESTRUCTIVE DE CARACTERISATION DE MATERIAUX. ELLE EST UTILISABLE DANS LE CAS D'HETEROSTRUCTURES OBTENUES SUR DES SUBSTRATS SEMICONDUCTEURS, MAIS NECESSITE UNE MODELISATION. LA VARIATION DES PARAMETRES INTRODUITS DANS LE MODELE, JUSQU'A MINIMISATION D'UNE FONCTION D'ERREUR COMPARANT CE MODELE AUX MESURES REALISEES, CONDUIT A LA CONNAISSANCE DES CONSTANTES DIELECTRIQUES ET DES EPAISSEURS DES DIVERSES COUCHES. NOUS AVONS CHOISI DE METTRE AU POINT UN MINIMISEUR B.F.G.S. AVEC CONTRAINTES PERMETTANT DE LIMITER LA VARIATION DES PARAMETRES DANS DES DOMAINES PHYSIQUEMENT ACCEPTABLES, ET DE CALCULER A L'AIDE D'UN ALGORITHME BASE SUR LA METHODE DE L'ADJOINT LE GRADIENT DE LA FONCTION A COEFFICIENTS COMPLEXES A MINIMISER. LE PROGRAMME INFORMATIQUE EST TESTE SUR DES MODELES SIMULES DE MATERIAUX III-V, SUBSTRAT INP OU PUITS QUANTIQUES INP/INAS/INP. NOUS AVONS UTILISE UN ELLIPSOMETRE SPECTROSCOPIQUE A ANALYSEUR TOURNANT POUR CARACTERISER DES ECHANTILLONS DE SILICIUM POREUX OBTENUS SUR SUBSTRATS DOPES P ET P+. NOS RESULTATS METTENT EN EVIDENCE L'EXISTENCE D'UNE COUCHE TAPISSANT LES PAROIS DES PORES SUR TOUTE L'EPAISSEUR DE LA COUCHE, DANS LE CAS DES SUBSTRATS P. ILS ONT EGALEMENT CONFIRME L'ACTION UNIQUEMENT SUPERFICIELLE D'UN BOMBARDEMENT A L'ARGON SOUS ULTRA-VIDE, ET LA REDUCTION DU SQUELETTE DE SILICIUM CONSECUTIVE AU VIEILLISSEMENT, SURTOUT DANS LE CAS DU SUBSTRAT P
Book Synopsis ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE A ANGLE VARIABLE. APPLICATIONS A L'ETUDE DES PROPRIETES OPTIQUES DE SEMI-CONDUCTEURS II-VI ET A LA CARACTERISATION DE COUCHES A GRADIENT D'INDICE by : MICHEL.. LUTTMANN
Download or read book ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE A ANGLE VARIABLE. APPLICATIONS A L'ETUDE DES PROPRIETES OPTIQUES DE SEMI-CONDUCTEURS II-VI ET A LA CARACTERISATION DE COUCHES A GRADIENT D'INDICE written by MICHEL.. LUTTMANN and published by . This book was released on 1994 with total page 244 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL APPORTE UNE CONTRIBUTION A LA CARACTERISATION DES COUCHES MINCES PAR ELLIPSOMERIE SPECTROSCOPIQUE A ANGLE VARIABLE. NOUS PRESENTONS LES DIFFERENTES MODIFICATIONS APPORTEES A L'ELLIPSOMETRE D'ORIGINE ET DECRIVONS LES PROCEDURES D'ETALONNAGE UTILISEES. LA REDUCTION DES ERREURS SYSTEMATIQUES ET ALEATOIRES EST EGALEMENT TRAITEE. UNE ETUDE ORIGINALE A ETE MENEE SUR LES DERIVEES PARTIELLES DES ANGLES ELLIPSOMETRIQUES PSI ET DELTA PAR RAPPORT AUX DIFFERENTS PARAMETRES DE L'ECHANTILLON (EPAISSEURS, INDICES, ANGLE D'INCIDENCE). CELLE-CI NOUS A CONDUIT A INTRODUIRE LE CONCEPT DE SENSIBILITE INTEGRALE RELATIVE (SIR) QUI S'EST AVERE TRES UTILE POUR LOCALISER LES ZONES ANGULAIRES LES PLUS INTERESSANTES ET POUR COMPARER ENTRE ELLES LES SENSIBILITES DE LA MESURE ELLIPSOMETRIQUE AUX DIVERS PARAMETRES DE L'ECHANTILLON. L'INTERET DE MESURES SPECTROSCOPIQUES A PLUSIEURS ANGLES D'INCIDENCE EST DISCUTE. DEUX APPLICATIONS PRINCIPALES ONT ETE TRAITEES DANS CE MEMOIRE: LA PREMIERE CONCERNE LA MESURE DES INDICES DE SEMI-CONDUCTEURS II-VI A GRANDS GAPS. L'ETUDE REALISEE PORTE SUR DES SUBSTRATS MASSIFS DE CDMNTE ET SUR DES COUCHES EPITAXIEES DE CDMGTE. UNE LOI D'INDICE PERMETTANT DE DECRIRE LE COMPORTEMENT DE LA FONCTION DIELECTRIQUE DU CDMGTE SUR L'ENSEMBLE DU DOMAINE SPECTRAL EST PROPOSEE. DANS LA ZONE TRANSPARENTE, DEUX LOIS DE SELLMEIER DONNANT LES INDICES DU CDMNTE ET DU CDMGTE POUR TOUTE CONCENTRATION DE MANGANESE OU DE MAGNESIUM, ONT ETE ETABLIES. LA SECONDE PORTE SUR LA CARACTERISATION DE COUCHES A GRADIENT D'INDICE. UNE METHODE PERMETTANT D'ANALYSER DES COUCHES DE PROFIL D'INDICE A PRIORI QUELCONQUE EST PROPOSEE. ELLE A ETE VALIDEE SUR DES COUCHES INHOMOGENES DE GAALAS ET D'OXY-NITRURE DE SILICIUM. L'ELLIPSOMETRIE S'EST REVELEE ETRE UNE TECHNIQUE BIEN ADAPTEE A CE TYPE DE CARACTERISATION PUISQUE DES PROFILS POLYNOMIAUX DU QUATRIEME DEGRE ONT PU ETRE MIS EN EVIDENCE SUR DES COUCHES D'OXY-NITRURE DE SILICIUM A FORT GRADIENT D'INDICE
Book Synopsis CARACTERISATION PAR ELLIPSOMETRIE UV. VIS. ET SPECTROSCOPIE INFRAROUGE DE FILMS AMORPHES by : MURIEL.. FIRON
Download or read book CARACTERISATION PAR ELLIPSOMETRIE UV. VIS. ET SPECTROSCOPIE INFRAROUGE DE FILMS AMORPHES written by MURIEL.. FIRON and published by . This book was released on 1994 with total page 176 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES ISOLANTS (SIO#2, SI#3N#4) SONT UTILISES SOIT POUR PASSIVER LA SURFACE DES SEMI-CONDUCTEURS, SOIT POUR ISOLER ELECTRIQUEMENT LES CONDUCTEURS. L'ASSOCIATION DE SIO#2 ET SI#3N#4 PERMET D'OBTENIR UN BON ISOLANT DONT LES CONTRAINTES MECANIQUES SONT FAIBLES: L'OXYNITRURE DE SILICIUM (SIO#XN#Y). LES PROPRIETES PHYSICO-CHIMIQUES DE CES FILMS, DEPOSES PAR PLASMA (PECVD), DEPENDENT ESSENTIELLEMENT DE LEUR COMPOSITION CHIMIQUE. AFIN DE LA DETERMINER, NOUS AVONS UTILISE PLUSIEURS TECHNIQUES SPECTROSCOPIQUES. LA DETERMINATION DE LA COMPOSITION CHIMIQUE PAR XPS NECESSITE D'ELIMINER LA CONTAMINATION SUPERFICIELLE DES FILMS PAR EROSION IONIQUE A L'ARGON. CETTE METHODE EST DESTRUCTIVE ET PERTURBE LA MESURE DE LA COMPOSITION CHIMIQUE. L'ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE UV-VIS. PERMET UNE ANALYSE NON DESTRUCTIVE DE LA TOTALITE DU FILM. LA COMPOSITION CHIMIQUE DES OXYNITRURES DE SILICIUM EST CALCULEE A L'AIDE DU MODELE DE BRUGGEMAN. LE RESULTAT DE CETTE MESURE N'EST QU'UNE ESTIMATION. DANS CE MODELE, L'OXYNITRURE DE SILICIUM EST CONSIDERE COMME UN MELANGE DE DEUX PHASES DISTINCTES (SIO#2 ET SI#3N#4), CEPENDANT LES RESULTATS ELLIPSOMETRIQUES SONT REPRODUCTIBLES. LES RESULTATS DE CES DEUX TYPES DE MESURES SONT SOUS ESTIMES PAR RAPPORT A CEUX DE L'ANALYSE PAR REACTION NUCLEAIRE. NOUS AVONS MONTRE QUE L'ANALYSE QUANTITATIVE ET L'ARRANGEMENT ATOMIQUE PEUVENT ETRE DEDUITS DES SPECTRES INFRAROUGES EN TRANSMISSION (FILMS MINCES) ET EN REFLEXION POLARISEE (FILMS ULTRAMINCES), POURVU QUE L'ON DISPOSE D'UN MODELE APPROPRIE. DANS LE CAS DU FILM DE SIO#XN#Y PUR, IL EXISTE DES MODELES QUI PERMETTENT DE DECRIRE DE MANIERE SATISFAISANTE LA REPARTITION DES ATOMES DANS LES MATERIAUX ET PEUVENT ETRE UTILISES POUR DEDUIRE LA COMPOSITION CHIMIQUE, A PARTIR DE LA POSITION DES BANDES DE VIBRATION. EN PRATIQUE, DE L'HYDROGEENE EST LE PLUS SOUVENT PRESENT DANS LES FILMS D'OXYNITRURE DE SILICIUM. IL EST EN EFFET DIFFICILE DE S'AFFRANCHIR DE SA PRESENCE. IL N'EXISTE ACTUELLEMENT AUCUN MODELE QUI PRENNE EN COMPTE LA PRESENCE D'HYDROGENE ; NOUS AVONS SUGGERE LES MODIFICATIONS QU'IL FAUT APPORTER AU MODELE EXISTANT POUR EN TENIR COMPTE
Book Synopsis PROPRIETES DES COUCHES MINCES DE SILICIUM POREUX ET D'ALUMINE UTILISEES POUR LA MICROELECTRONIQUE. ETUDE PAR SPECTROSCOPIES ELECTRONIQUES, ELLIPSOMETRIE LASER ET CARACTERISATIONS ELECTRIQUES C(V) by : Christine Robert-Pierrisnard
Download or read book PROPRIETES DES COUCHES MINCES DE SILICIUM POREUX ET D'ALUMINE UTILISEES POUR LA MICROELECTRONIQUE. ETUDE PAR SPECTROSCOPIES ELECTRONIQUES, ELLIPSOMETRIE LASER ET CARACTERISATIONS ELECTRIQUES C(V) written by Christine Robert-Pierrisnard and published by . This book was released on 1996 with total page 202 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DURANT CES DERNIERES ANNEES, LE DEVELOPPEMENT DES COMPOSES III-V TELS QUE L'ARSENIURE DE GALLIUM OU LE PHOSPHURE D'INDIUM FUT SPECTACULAIRE. CES COMPOSES SONT TRES INTERESSANTS POUR LES APPLICATIONS MICRO-ELECTRONIQUES ET OPTOELECTRONIQUES. OR LES CARACTERISTIQUES DE CES MATERIAUX ET DES COMPOSANTS REALISES SONT TRES SENSIBLES A LEUR ETAT DE SURFACE ET D'INTERFACE. IL EST DEVENU ESSENTIEL DE COMPRENDRE LES MECANISMES DE FORMATIONS DES STRUCTURES POUR MAITRISER AU MIEUX LA TECHNOLOGIE DES COMPOSANTS REALISES. PLUS RECEMMENT, UN NOUVEAU MATERIAU LE SILICIUM POREUX EST APPARU COMME ETANT TRES PROMETTEUR DANS LE DOMAINE DE L'OPTOELECTRONIQUE. CELUI-CI A FAIT RECEMMENT L'OBJET DE NOMBREUSES RECHERCHES COMPTE TENU DE SES PROPRIETES LUMINESCENTES DONT L'ORIGINE EST ENCORE DISCUTEE. CES PROPRIETES SEMBLENT DEPENDRE BEAUCOUP DES ETATS DE SURFACE ET D'INTERFACE. LA PREMIERE PARTIE DE CE MEMOIRE EST CONSACRE A LA CARACTERISATION DE LA SURFACE ET DE LA CONCENTRATION EN HYDROGENE D'UN SUBSTRAT DE SILICIUM POREUX. LA SPECTROSCOPIE DES ELECTRONS RETRODIFFUSES ELASTIQUEMENT (EPES) S'EST AVEREE TRES PERFORMANTE. CETTE METHODE NOUS A PERMIS DE CALCULER LE COEFFICIENT DE REFLEXION ELASTIQUE POUR DIFFERENTES POROSITES. NOUS AVONS PU METTRE EN EVIDENCE UN CHANGEMENT DE MORPHOLOGIE DES COUCHES POREUSES LORS DE L'AUGMENTATION DE LA POROSITE. LA DEUXIEME PARTIE DE CE TRAVAIL ENTRE DANS LE CADRE DES ETUDES CONSACREES A LA REALISATION DE STRUCTURES MIS (METAL/ISOLANT/SEMI-CONDUCTEUR). NOUS NOUS SOMMES ATTACHEES PLUS PARTICULIEREMENT A L'ETUDE DE L'INTERFACE ISOLANT/SEMI-CONDUCTEUR. AFIN DE REALISER DE TELLES STRUCTURES, NOUS AVONS PROCEDE DANS UN PREMIER TEMPS A LA REALISATION DE COUCHES MINCES D'ALUMINE SUR DES SUBSTRATS DE SILICIUM (100). EN EFFET, UNE BONNE REPRODUCTIBILITE ET UN CONTROLE DES PARAMETRES D'ELABORATION DE L'ISOLANT SONT EXIGES POUR ABOUTIR A L'AMELIORATION PROGRESSIVE DE LA QUALITE DES COMPOSANTS REALISES. DANS UN SECOND TEMPS DES DEPOTS D'ALUMINE ONT ETE REALISES SUR DES SUBSTRATS DE PHOSPHURE D'INDIUM (100). EN NOUS APPUYANT SUR DES TRAVAUX ANTERIEURS FAITS AU LABORATOIRE LASMEA SUR LA STABILISATION DES SURFACES D'INP(100) PAR DES ATOMES D'ANTIMOINE, NOUS AVONS EFFECTUE DES ETUDES PHYSICO-CHIMIQUES ET ELECTRIQUES DES STRUCTURES DU TYPE HG/AL#2O#3/INP ET HG/AL#2O#3/INSB/INP. NOUS AVONS MIS EN EVIDENCE, L'AMELIORATION SENSIBLE DE LA QUALITE DE L'ISOLANT LORS D'UNE RESTRUCTURATION DE LA SURFACE D'INP PAR DES ATOMES D'ANTIMOINE, UNE REDUCTION DE LA MIGRATION DES ELEMENTS DU SEMI-CONDUCTEUR ETANT OBSERVEE. NOUS AVONS PU CORRELER L'HISTORIQUE DE LA FORMATION DES STRUCTURES A LA MESURE ELECTRIQUE FINALE, CE QUI EST PARTICULIEREMENT IMPORTANT DANS LA COMPREHENSION DES PHENOMENES SE PRODUISANT AUX INTERFACES
Book Synopsis Caractérisation du silicium poreux luminescent par micro-spectrométrie Raman et photoluminescence by : Yann MONIN
Download or read book Caractérisation du silicium poreux luminescent par micro-spectrométrie Raman et photoluminescence written by Yann MONIN and published by . This book was released on 1995 with total page 108 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Ellipsometrie spectroscopique a modulation de phase : construction de l'appareillage et application a la caracterisation des substrats Si et Gabs et des by : Keltoume Belalia
Download or read book Ellipsometrie spectroscopique a modulation de phase : construction de l'appareillage et application a la caracterisation des substrats Si et Gabs et des written by Keltoume Belalia and published by . This book was released on 1991 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Préparation et caractérisation du silicium poreux by : Marie Dominique BRUNI
Download or read book Préparation et caractérisation du silicium poreux written by Marie Dominique BRUNI and published by . This book was released on 1987 with total page 156 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis CONCEPTION ET REALISATION D'UN ELLIPSOMETRE SPECTROSCOPIQUE A MODULATION DE PHASE. APPLICATION A L'ETUDE D'INTERFACES DE MATERIAUX EN COUCHES MINCES by : MICHEL.. STCHAKOVSKY
Download or read book CONCEPTION ET REALISATION D'UN ELLIPSOMETRE SPECTROSCOPIQUE A MODULATION DE PHASE. APPLICATION A L'ETUDE D'INTERFACES DE MATERIAUX EN COUCHES MINCES written by MICHEL.. STCHAKOVSKY and published by . This book was released on 1991 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ELLIPSOMETRIE EST UNE METHODE DE CARACTERISATION OPTIQUE TRES REPANDUE. CE TRAVAIL RELATE LA CONCEPTION ET LA REALISATION D'UN NOUVEL ELLIPSOMETRE A MODULATION DE PHASE FONCTIONNANT DANS LE DOMAINE SPECTRAL UV-VISIBLE. IL S'AGIT DU PROTOTYPE DE L'APPAREIL COMMERCIAL UVISEL DE LA SOCIETE JOBIN-YVON. CET ELLIPSOMETRE AUTOMATIQUE COMBINE LA MODULATION HAUTE FREQUENCE PRODUITE PAR UN MODULATEUR PHOTOELASTIQUE A UN TRAITEMENT NUMERIQUE DU SIGNAL PERFORMANT, BASE SUR L'UTILISATION DU MICROPROCESSEUR DSP56001. SON CARACTERE MODULAIRE ET COMPACT EST PARTICULIEREMENT BIEN ADAPTE A LA CARACTERISATION IN SITU DE COUCHES MINCES. L'ELLIPSOMETRE A ETE COUPLE A UN REACTEUR DE DEPOT DE COUCHES MINCES PAR PLASMA RADIOFREQUENCE. DEUX ETUDES PAR ELLIPSOMETRIE SONT APPLIQUEES A: A) LA FORMATION DE SILICIURES DE PALLADIUM, B) LES INTERFACES ENTRE LE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE (A-SI:H) ET LE NITRURE DE SILICIUM (A-SIN#X)
Download or read book ICREEC 2019 written by Ahmed Belasri and published by Springer Nature. This book was released on 2020-06-10 with total page 659 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book highlights peer reviewed articles from the 1st International Conference on Renewable Energy and Energy Conversion, ICREEC 2019, held at Oran in Algeria. It presents recent advances, brings together researchers and professionals in the area and presents a platform to exchange ideas and establish opportunities for a sustainable future. Topics covered in this proceedings, but not limited to, are photovoltaic systems, bioenergy, laser and plasma technology, fluid and flow for energy, software for energy and impact of energy on the environment.
Book Synopsis CARACTERISATION DE STRUCTURES MIS PAR METHODES ELECTRIQUES ET PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE by : Jean-Philippe Piel
Download or read book CARACTERISATION DE STRUCTURES MIS PAR METHODES ELECTRIQUES ET PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE written by Jean-Philippe Piel and published by . This book was released on 1987 with total page 247 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ON CARACTERISE A L'AIDE DE DEUX TECHNIQUES PLUSIEURS TYPES DE DEPOTS D'ISOLANTS (SIO::(2) ET SI::(3)N::(4)) SUR INP SUSCEPTIBLES DE L'INTEGRER DANS LA TECHNOLOGIE DU TRANSISTOR A EFFET CHAMP A GRILLE ISOLEE. ON EVALUE, PAR LA MESURE DE L'ADMITTANCE DES STRUCTURES MIS, LE PROFIL DE DENSITE D'ETATS D'INTERFACE PAR LA METHODE DE LA CONDUCTANCE DE NICOLLIAN ET GOETZBERGER. LA SECONDE METHODE, PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE CONSISTE A ETUDIER LA REPONSE OPTIQUE DE LA STRUCTURE ISOLANT-SEMICONDUCTEUR SOUMIS A UN FAISCEAU LUMINEUX POLARISE RECTILIGNEMENT. ON DECRIT EN DETAIL L'ENSEMBLE DES CORRECTIONS A APPORTER AUX MESURES BRUTES AFIN DE TENIR COMPTE DES LIMITATIONS DE L'INSTRUMENT. LES SPECTRES EXPERIMENTAUX SONT INTERPRETES A L'AIDE D'UN MODELE MULTICOUCHE
Book Synopsis Etude par ellipsométrie spectroscopique des effets de taille sur les propriétés optiques de couches composites à matrice diélectrique et du silicium nanostructuré by : Al-Saleh Keita
Download or read book Etude par ellipsométrie spectroscopique des effets de taille sur les propriétés optiques de couches composites à matrice diélectrique et du silicium nanostructuré written by Al-Saleh Keita and published by . This book was released on 2012 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les films minces à matrice diélectrique contenant des nanocristaux de Si peuvent avoir diverses applications potentielles telles qu'en nanoélectrique pour la conception de dispositifs à mémoire ou en optoélectronique dans la mise en oeuvre de cellules photovoltaïques à haut rendement ou l'élaboration d'un laser à base de silicium. Dans un premier temps, nous avons employé l'ellipsométrie spectroscopique pour décrire les propriétés optiques des films de nitrure de silicium enrichi en silicium (SRSN), essentiellement élaborés par dépôt chimique en phase vapeur puis soumis à un recuit thermique rapide (RTA). Nous avons montré qu'il est possible de prédire à l'aide d'un critère purement optique la détection, au microscope électronique en transmission, des nanoparticules de Si (NP-Si) dans les couches SRSN. Le recuit de type RTA conduit à la formation de fortes densités de nanoparticules de Si dans les couches composites SRSN. Les propriétés optiques des NP-Si ont été calculées par trois méthodes différentes : inversion numérique longueur d'onde par longueur d'onde (sans aucun paramètre d'ajustement), et modèles de dispersion de Forouhi-Bloomer et Tauc-Lorentz (avec 5 paramètres d'ajustement). L'évolution des paramètres de cette dernière formule révèle la présence de silicium amorphe confiné dans nos couches. Nous avons également mis en évidence le rôle déterminant du rapport des flux de gaz précurseurs RQ (=QNH3/QSiH4) ainsi que de la température de recuit Tr sur les propriétés optiques des films SRSN mais aussi des NP-Si qu'ils contiennent. En effet une légère augmentation de RQ induit une variation significative du spectre de la fonction diélectrique des NP-Si...
Book Synopsis Caracterisation de l'interface Silicium amorphe-Nitrure de silicium et etude de structures (Metal-a - SiN : H-a - Si : H) pour l'application en capteurs d'images by : Marie-Christine Habrard
Download or read book Caracterisation de l'interface Silicium amorphe-Nitrure de silicium et etude de structures (Metal-a - SiN : H-a - Si : H) pour l'application en capteurs d'images written by Marie-Christine Habrard and published by . This book was released on 1989 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Flexoelectricity in Liquid Crystals by : Agnes Buka
Download or read book Flexoelectricity in Liquid Crystals written by Agnes Buka and published by World Scientific. This book was released on 2013 with total page 299 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The book intends to give a state-of-the-art overview of flexoelectricity, a linear physical coupling between mechanical (orientational) deformations and electric polarization, which is specific to systems with orientational order, such as liquid crystals. Chapters written by experts in the field shed light on theoretical as well as experimental aspects of research carried out since the discovery of flexoelectricity. Besides a common macroscopic (continuum) description the microscopic theory of flexoelectricity is also addressed. Electro-optic effects due to or modified by flexoelectricity as well as various (direct and indirect) measurement methods are discussed. Special emphasis is given to the role of flexoelectricity in pattern-forming instabilities. While the main focus of the book lies in flexoelectricity in nematic liquid crystals, peculiarities of other mesophases (bent-core systems, cholesterics, and smectics) are also reviewed. Flexoelectricity has relevance to biological (living) systems and can also offer possibilities for technical applications. The basics of these two interdisciplinary fields are also summarized.
Book Synopsis Diffusion in Materials - DIMAT 2011 by : Igor Bezverkhyy
Download or read book Diffusion in Materials - DIMAT 2011 written by Igor Bezverkhyy and published by Trans Tech Publications Ltd. This book was released on 2012-04-12 with total page 600 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The International Conference on Diffusion in Materials (DIMAT) is the benchmark conference series for diffusion in solids. DIMAT 2011 was organized by the University of Bourgogne in association with CNRS, Dijon (France). The conference showcased new results concerning theoretical tools as well as applied research approaches. Diffusion processes affect all types of materials: nanomaterials, materials for energy, metallurgy, glasses and ceramics, but each requires its own numerical tools. Volume is indexed by Thomson Reuters CPCI-S (WoS). This volume comprises most of the contributions presented at DIMAT 2011: 4 plenary lectures delivered by famous high-level scientists plus 88 contributions in the form of keynote lectures, talks and posters.
Book Synopsis Nonlinear Optical Materials by : Jerome V. Moloney
Download or read book Nonlinear Optical Materials written by Jerome V. Moloney and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 1998-08-13 with total page 270 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Mathematical methods play a significant role in the rapidly growing field of nonlinear optical materials. This volume discusses a number of successful or promising contributions. The overall theme of this volume is twofold: (1) the challenges faced in computing and optimizing nonlinear optical material properties; and (2) the exploitation of these properties in important areas of application. These include the design of optical amplifiers and lasers, as well as novel optical switches. Research topics in this volume include how to exploit the magnetooptic effect, how to work with the nonlinear optical response of materials, how to predict laser-induced breakdown in efficient optical devices, and how to handle electron cloud distortion in femtosecond processes.
Book Synopsis Forest Fire Research by : Universidade de Coimbra
Download or read book Forest Fire Research written by Universidade de Coimbra and published by . This book was released on 2010 with total page 355 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
