Conception et réalisation d'un testeur de circuits logiques intégrés

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un testeur de circuits logiques intégrés by : François Prunet

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Conception et réalisation d'un testeur de circuits intégrés

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un testeur de circuits intégrés by : Maguy Farah

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Etude et réalisation d'un testeur de circuits intégrés et de cartes logiques

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Book Synopsis Etude et réalisation d'un testeur de circuits intégrés et de cartes logiques by : Yann-Marie Ponthieu

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Scientific and Technical Aerospace Reports

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Book Synopsis Scientific and Technical Aerospace Reports by :

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Conception et realisation d'un planificateur de test hierarchise pour circuits logiques complexes

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Book Synopsis Conception et realisation d'un planificateur de test hierarchise pour circuits logiques complexes by : Marie-Hélène Gentil

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Conception et réalisation d'un planificateur de test hiérarchisé pour circuits logiques complexes

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un planificateur de test hiérarchisé pour circuits logiques complexes by : Marie-Hélène Gentil

Download or read book Conception et réalisation d'un planificateur de test hiérarchisé pour circuits logiques complexes written by Marie-Hélène Gentil and published by . This book was released on 1994 with total page 227 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE MEMOIRE PROPOSE UNE METHODOLOGIE DE GENERATION HIERARCHISEE DE VECTEURS DE TEST DEDIEE AU TEST LOGIQUE DES CIRCUITS A HAUTE ECHELLE D'INTEGRATION. LA MESURE DE TESTABILITE DE HAUT NIVEAU UTILISEE TOUT AU LONG DU PROCESSUS EST PRESENTEE PUIS COMPAREE A TROIS AUTRES MESURES DE TESTABILITE EXISTANTES (CATA, TMEAS ET LA MESURE D'ABRAHAM ET THEARLING). LA METHODOLOGIE GENERALE DEBUTE PAR LE DECOUPAGE DU CIRCUIT EN PARTITIONS FACILEMENT TESTABLES PAR L'OUTIL DE GENERATION AUTOMATIQUE DE VECTEURS DE TEST AU NIVEAU PORTE. PLUSIEURS TECHNIQUES DE PARTITIONNEMENT SONT DISPONIBLES PERMETTANT LA SATISFACTION DE CRITERES DE TAILLE, DE TESTABILITE ET D'OPTIMISATION DE TEMPS DE TEST. EN CAS D'ECHEC PENDANT LE PROCESSUS OU SI L'UTILISATEUR DESIRE AMELIORER LA TESTABILITE GLOBALE DU CIRCUIT, UNE METHODOLOGIE D'INSERTION AUTOMATIQUE ET DE HAUT NIVEAU DE CELLULES DE TESTABILITE EST PROPOSEE. ENSUITE, LES INFORMATIONS DE TEST SONT PROPAGEES DES BORNES DE CHACUNE DES PARTITIONS JUSQU'AUX BROCHES PRIMAIRES DU CIRCUIT EN UTILISANT, SI NECESSAIRE, LES NOTIONS DE SIMULATION DE FAUTES ET DE GENERATION ITERATIVE DE VECTEURS DE TEST. L'ALGORITHME DEVELOPPE EST ENSUITE EMPLOYE SUR PLUSIEURS CIRCUITS D'EVALUATION TANT UNIVERSITAIRES QU'INDUSTRIELS

Etude et réalisation d'un banc de test de circuits intégrés utilisant un faisceau laser

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Book Synopsis Etude et réalisation d'un banc de test de circuits intégrés utilisant un faisceau laser by : Francis Jouaville

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Test des circuits intégrés numériques

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Book Synopsis Test des circuits intégrés numériques by :

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Conception et réalisation d'un simulateur logique et concurrent de fautes pour circuits intégrés VLSI

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un simulateur logique et concurrent de fautes pour circuits intégrés VLSI by : Pascal Guiraudou

Download or read book Conception et réalisation d'un simulateur logique et concurrent de fautes pour circuits intégrés VLSI written by Pascal Guiraudou and published by . This book was released on 1985 with total page 173 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables

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Book Synopsis Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables by : Raoul Velazco

Download or read book Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables written by Raoul Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils

Conception et réalisation d'un circuit intégré spécifique numérique

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un circuit intégré spécifique numérique by : Christophe Cottais

Download or read book Conception et réalisation d'un circuit intégré spécifique numérique written by Christophe Cottais and published by . This book was released on 2000 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES

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Book Synopsis DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES by : Marc Laffitte

Download or read book DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES written by Marc Laffitte and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA COMPLEXITE DES CIRCUITS INTEGRES S'ACCROIT SANS CESSE, RENDANT LEUR TEST TOUJOURS PLUS DIFFICILE. DES CONSEQUENCES DIRECTES SONT DES TEMPS DE GENERATION DES VECTEURS DE TEST PLUS LONG, UN NOMBRE DE METHODES DE TEST POSSIBLES CROISSANT, ETC.; MAIS AUSSI LE CARACTERE HETEROGENE DES CIRCUITS OU PEUVENT SE COTOYER DES BLOCS DE NATURE DIFFERENTE (MEMOIRES, LOGIQUE ALEATOIRE, ETC.). IL FAUT DONC RECOURIR A PLUSIEURS METHODES DE TEST, C'EST-A-DIRE A UN TEST HIERARCHISE. CECI IMPLIQUE LA DEFINITION DE STRATEGIES DE TESTS SPECIFIQUES A CHAQUE CIRCUIT. LE BUT DU TRAVAIL PRESENTE EST DONC DE DECRIRE FORMELLEMENT L'ACTIVITE D'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST. UNE CLASSIFICATION DES METHODES DE TEST SERT DE BASE DE DONNEES A UN MODELE DE STRATEGIES DE TEST PROPOSE. GRACE AUX NOUVEAUX CONCEPTS D'UNITE D'INFORMATION POUR LE TEST ET DE PROPRIETE DE TRANSPORT, CE MODELE OFFRE POUR LA PREMIERE FOIS UN CADRE GENERAL, NON RESTRICTIF, DANS L'ELABORATION D'UNE STRATEGIE OPTIMALE POUR UN CIRCUIT DONNE. IL PERMET LA RECHERCHE DE NOUVELLES METHODES DE PLANIFICATION POUR L'ELABORATION DES STRATEGIES. ENFIN, IL A PERMIS LA REALISATION D'UN PREMIER PROTOTYPE DE SYSTEME A BASE DE CONNAISSANCES, NOMME ITSELF, QUI PERMET A L'UTILISATEUR D'EXPLORER TOUTES LES STRATEGIES POSSIBLES POUR SES CIRCUITS

Contribution à la conception et à la réalisation d'un nouveau type de testeurs de circuits imprimés

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Book Synopsis Contribution à la conception et à la réalisation d'un nouveau type de testeurs de circuits imprimés by : Alexandre Nketsa

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Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL

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Book Synopsis Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL by : Ghassan Al-Hayek

Download or read book Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL written by Ghassan Al-Hayek and published by . This book was released on 1999 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE A POUR OBJECTIF D'ELABORER UNE APPROCHE UNIFIEE POUR LA VALIDATION ET LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES SPECIFIES AU NIVEAU FONCTIONNEL. DEUX MOTIVATIONS PRINCIPALES SONT A LA BASE DE CE TRAVAIL. D'UN COTE, LA COMPLEXITE CROISSANTE DES CIRCUITS D'ECHELLE TRES LARGE D'INTEGRATION (VLSI) REND LA GENERATION DES TESTS EN SE BASANT SUR DES MODELES DE FAUTES DE BAS NIVEAU (PAR EXEMPLE, LE NIVEAU LOGIQUE) TRES COUTEUSE. D'UN AUTRE COTE, LES PROGRES IMPORTANTS ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE LA CONCEPTION ASSISTEE PAR ORDINATEUR (CAO) PERMETTENT ACTUELLEMENT DE SPECIFIER LES CIRCUITS AU NIVEAU FONCTIONNEL EN UTILISANT DES LANGAGES DEDIES TRES EVOLUES (PAR EXEMPLE, VHDL). L'APPROCHE PROPOSEE SE DEMARQUE DES METHODES DE GENERATION TRADITIONNELLES PUISQU'ELLE CONSIDERE QUE LES FAUTES ADAPTEES AU NIVEAU FONCTIONNEL SONT DES FAUTES LOGICIELLES. AINSI, CETTE THESE DEMONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION, JUSQU'A PRESENT APPLIQUE UNIQUEMENT AU LOGICIEL, EST EGALEMENT EFFICACE AU NIVEAU MATERIEL. AU NIVEAU FONCTIONNEL, LE TEST PAR MUTATION CONSTITUE UNE METHODE DE VALIDATION EFFICACE ET SYSTEMATIQUE POUR DETECTER LES FAUTES DE CONCEPTION. IL GARANTIT UN ENSEMBLE DE CRITERES STANDARDS (PAR EXEMPLE, LA NORME IEEE-1008) TELS QUE LA COUVERTURE D'INSTRUCTIONS, DE BRANCHES, DE PREDICATS ET DE VALEURS EXTREMES. AU NIVEAU LOGIQUE, IL A ETE MONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION (AVEC UNE BONNE ADAPTATION AU MATERIEL) EST EGALEMENT EFFICACE POUR DETECTER LES FAUTES MATERIEL. SUR UN ENSEMBLE DE CIRCUITS REPRESENTATIFS (COMBINATOIRES ET SEQUENTIELS), UNE COUVERTURE SUPERIEURE A 99% (EN MOYENNE) A ETE ASSURE SUR LES FAUTES LOGIQUES DE COLLAGE. AINSI, LE TEST PAR MUTATION PEUT ETRE A LA BASE D'UNE SOLUTION UNIQUE POUR TESTER LES CIRCUITS ELECTRONIQUES TOUT AU LONG DE LA CYCLE DE CONCEPTION.

Conception et réalisation d'un système de génération automatique de vecteurs de test au niveau transistor mos

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un système de génération automatique de vecteurs de test au niveau transistor mos by : El Mostafa el- Maidi

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Conception et réalisation d'un module de test d'intégrité des signaux pour un circuit intégré de grande surface

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Book Synopsis Conception et réalisation d'un module de test d'intégrité des signaux pour un circuit intégré de grande surface by : Daniel Picard

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Circuits logiques

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Publisher : Presses de l'Université Laval
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Book Synopsis Circuits logiques by : Xavier Maldague

Download or read book Circuits logiques written by Xavier Maldague and published by Presses de l'Université Laval. This book was released on 2023-07-20T00:00:00-04:00 with total page 450 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette troisième édition de Circuits logiques aborde tous les aspects de l’arithmétique binaire de base aux circuits séquentiels complexes (avec un soupçon de microprogrammation) et est destinée à la clientèle universitaire de premier cycle de génie électrique, de génie informatique, de génie logiciel ou de génie physique qui a dans son programme scolaire un cours de base sur les circuits de base logiques, c’est-à-dire des circuits combinatoires jusqu’aux circuits séquentiels. Elle peut aussi servir à l’enseignement collégial, sans doute en excluant la partie séquentielle et en y ajoutant des notions d’électronique non couvertes ici. D’un format compact, elle sera aisément couverte en un trimestre. Une foule d’exposés théoriques magistraux et d’expériences pratiques semble être la combinaison pédagogique idéale. Ce livre a été pensé en conséquence. C’est ainsi que chaque partie est très détaillée. L’ajout de problèmes et de démonstrations (par exemple, des simulations) réalisés en classe complétera judicieusement le contenu de ce volume. On favorise d’ailleurs cette approche d’apprentissage par l’exemple dans ce livre où les notions sont très souvent présentées à même les exemples résolus.