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Caracterisation Par Microscopie A Champ Proche Stm Et Afm De Defauts Cres Par Irradiation Ionique Et Etude Theorique De La Dynamique Vibrationnelle En Surface Sur Ce Type De Defauts
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Book Synopsis CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS by : Yan Pennec
Download or read book CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS written by Yan Pennec and published by . This book was released on 1994 with total page 169 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DANS CE TRAVAIL, NOUS NOUS INTERESSONS, DANS UN PREMIER TEMPS, A LA VISUALISATION ET A LA CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL (S.T.M.) ET PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (A.F.M.) DE DEFAUTS CREES PAR IRRADIATION IONIQUE. L'EXPLOITATION DES RESULTATS CONDUIT A UNE DESCRIPTION EN SURFACE ET EN VOLUME, PAR CLIVAGES SUCCESSIFS, DES TRACES INDUITES PAR L'IRRADIATION POUR DEUX TYPES DE MATERIAUX: LE GRAPHITE ET LE MICA. LES DEFAUTS SE PRESENTENT SOUS LA FORME D'UNE SUCCESSION DE CYLINDRES DE MATIERE DESORDONNEE REPARTIS ALEATOIREMENT LE LONG DE LA TRAJECTOIRE DE L'ION INCIDENT. DE NOUVEAUX RESULTATS SONT PRESENTES, INACCESSIBLES PAR LES AUTRES METHODES MICROSCOPIQUES OU SPECTROSCOPIQUES. LA SECONDE PARTIE EST CONSACREE A L'ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE A L'EXTREMITE DE DEFAUTS ISOLES SUR DIFFERENTS TYPES DE SYSTEMES PHYSIQUES. UNE METHODE GENERALE EST DEVELOPPEE SUR UN SYSTEME BIDIMENSIONNEL FORME PAR UNE CHAINE LINEAIRE SEMI-INFINIE DONT LES PROPRIETES ELASTIQUES DIFFERENT DU RESTE DE LA STRUCTURE. ELLE EST APPLICABLE A TOUTE UNE CLASSE DE DEFAUTS QUI BRISENT LA SYMETRIE SELON DEUX DIRECTIONS DE L'ESPACE. NOUS POUVONS CITER LE CAS DE MARCHES, DE CRETES OU DE SILLONS D'ATOMES DE SUBSTITUTION A LA SURFACE DES MATERIAUX. DANS CE DERNIER SYSTEME, DEUX TYPES DE MODE SONT PRESENTES: UN MODE DE RAYLEIGH ELARGI ET DES MODES PROPRES LOCALISES DE TYPE ANDERSON. NOUS METTONS AINSI EN EVIDENCE LA VALIDITE DE LA METHODE ET SON EFFICACITE PAR LA PRESENTATION DE NOUVEAUX RESULTATS
Book Synopsis Etude par microscopie à champ proche (AFM et STM) de matériaux carbonés et de certains processus de graphitation by : Christine Daulan
Download or read book Etude par microscopie à champ proche (AFM et STM) de matériaux carbonés et de certains processus de graphitation written by Christine Daulan and published by . This book was released on 1994 with total page 159 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE ETUDE AFM ET STM DES PROCESSUS DE CARBONISATION ET DE GRAPHITATION DE FILMS POLYMERES A ETE REALISEE. L'OBSERVATION STM DE LA SURFACE D'UN GRAPHITE HOPG A DONNE LIEU A LA PREMIERE MISE EN EVIDENCE DIRECTE DE LA STRUCTURE FINE D'UN SOUS-JOINT DE GRAINS DE FLEXION DU GRAPHITE. ENFIN, UNE ETUDE STM DE COMPOSES D'INSERTION FLUORES DU GRAPHITE, A PERMIS L'OBSERVATION DIRECTE DES ATOMES DE FLUOR, APPORTANT AINSI LES PREMIERES INFORMATIONS D'ORIGINE EXPERIMENTALE SUR LEUR ORGANISATION DANS L'ESPACE DE VAN DER WAALS DU GRAPHITE
Book Synopsis ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DES DOMMAGES CREES PAR IMPACTS IONIQUES A LA SURFACE DU GRAPHITE by : CATHERINE.. HENRY DE VILLENEUVE DEBARD
Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DES DOMMAGES CREES PAR IMPACTS IONIQUES A LA SURFACE DU GRAPHITE written by CATHERINE.. HENRY DE VILLENEUVE DEBARD and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE BOMBARDEMENT IONIQUE EST UTILISE DANS LE CADRE DE NOMBREUSES APPLICATIONS TECHNOLOGIQUES. LE DEVELOPPEMENT D'UNE RUGOSITE A LA SURFACE DES MATERIAUX BOMBARDES EST UN PHENOMENE LARGEMENT MIS EN EVIDENCE. LES ORIGINES DE CETTE RUGOSITE NE SONT PAS TRES BIEN CONNUES NOTAMMENT FAUTE DE MOYENS DE CARACTERISATION POSSEDANT UNE RESOLUTION SUFFISANTE POUR ETUDIER LES PREMIERES ETAPES DE LA DEFORMATION DE SURFACE: LES DOMMAGES CREES PAR L'IMPACT D'UN ION. UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL MIS AU POINT AU LABORATOIRE ET FONCTIONNANT A L'AIR, A ETE UTILISE POUR ETUDIER LES DOMMAGES CREES PAR DES IONS (AR#+, XE#3#+...) D'ENERGIE COMPRISE ENTRE 500 EV ET 150 KEV, A LA SURFACE DU GRAPHITE. L'IMPLANTATION DE DOSES FAIBLES A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LA TRACE LAISSEE EN SURFACE PAR L'IMPACT D'UN ION. LES IMAGES STM REVELENT QUE CHAQUE ION EST A L'ORIGINE D'UNE DEFORMATION LOCALE DE LA SURFACE. CES DEFAUTS INDIVIDUELS SONT LES PREMISSES DE LA RUGOSITE QUI EST OBSERVEE POUR DES DOSES PLUS ELEVEES. A CE PREMIER STADE, LE PHENOMENE DE PULVERISATION APPARAIT MOINS IMPORTANT QUE LA FORMATION DE DOMMAGES EN VOLUME POUR EXPLIQUER L'APPARITION DE LA RUGOSITE. A HAUTE RESOLUTION, LES IMAGES STM MONTRENT DIFFERENTS TYPES DE DEFAUTS (MODIFICATIONS STRUCTURALE OU ELECTRONIQUES LOCALES, DEFORMATIONS DE PLANS GRAPHITIQUES, DEFAUTS ATOMIQUES...) QUI RESULTENT DE LA CASCADE DE COLLISIONS GENEREE PAR CHAQUE ION. LES RESULTATS STM COUPLES A DES MODELISATIONS DES COLLISIONS DANS LE GRAPHITE (CALCULS TRIM ET DYNAMIQUE MOLECULAIRE) MONTRENT QUE LES DEFAUTS SONT DUS AUX PHENOMENES SE DEROULANT DANS LES PREMIERES COUCHES DE SURFACE ET NOTAMMENT A L'ENDROIT OU A LIEU LA PREMIERE COLLISION
Book Synopsis Étude par microscopie en champ proche et diffraction d'électrons rapides des premiers stades de croissance de systèmes métalliques by : Frédéric Dulot
Download or read book Étude par microscopie en champ proche et diffraction d'électrons rapides des premiers stades de croissance de systèmes métalliques written by Frédéric Dulot and published by . This book was released on 2000 with total page 184 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce mémoire est consacré à l'étude des premiers stades de croissance de systèmes métalliques à partir de deux techniques d'analyse de surface complémentaires : la diffraction d'électrons rapides (RHEED) et la microscopie à effet tunnel (STM). Dans une première partie, nous avons pu dégager pour le système FE/CU(100) à température ambiante quatre par bicouche stades de croissance correspondant à : I. l'incorporation du fer dans le substrat de cuivre par mécanisme d'échange. II. la nucléation des premiers ilots de fer sur les inclusions de fer préalablement formées. III. la nucléation du cuivre contre ces ilots de fer. IV. la nucléation du second plan atomique avec un transfert de matière entre les deux premiers plans. Nous avons mis en évidence une croissance alternée entre le premier plan et le second plan atomique pour des dépôts inferieurs a 1.2 MC puis bicouche par bicouche jusqu'a 2 MC. Au delà, la croissance est de type couche par couche. Ces mesures nous ont permis de conclure à une ségrégation du cuivre par mécanisme d'échange entre les plans de croissance jusqu'a 4 MC. Dans une seconde partie, nous nous sommes intéressés à l'origine physique de la largeur des raies de diffraction RHEED et des oscillations de largeur observées lors de la croissance 2d de systèmes épitaxies. Un travail expérimental combinant RHEED et STM sur les systèmes CU/FE(100) et FE/FE(100) ainsi que la simulation numérique des cliches de diffraction a partir d'images STM échantillonnées, nous ont permis de mettre en lumière le rôle de la contribution diffuse liée a un ordre local entre ilots de nucléation. Cette contribution diffuse donne lieu à des structures satellites qui, lorsqu'elles ne sont plus résolues expérimentalement, contribuent à un élargissement des raies de diffraction. Le transfert d'intensité entre la contribution diffuse et le pic de BRAGG en cours de croissance est à l'origine des oscillations de largeur de raies observées sur certains systèmes.
Book Synopsis Apports de la Microscopie à Force Atomique à l'étude de phénomènes dynamiques en biologie et développement instrumental associé by : Eléonore Lambert
Download or read book Apports de la Microscopie à Force Atomique à l'étude de phénomènes dynamiques en biologie et développement instrumental associé written by Eléonore Lambert and published by . This book was released on 2018 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le Laboratoire de Recherche en Nanosciences EA 4682 s'est récemment équipé de la microscopie à force atomique haute-vitesse (HS-AFM) permettant la visualisation en temps réel des dynamiques d'interactions d'un panel infini d'échantillons biologiques à l'échelle nanométrique. De nombreux champ de recherche nécessite la mise au point de techniques permettant à la fois une imagerie dynamique (vidéomicroscopie) mais également de plus en plus une imagerie haute résolution (microscopie champ proche). Ce couplage a été récemment obtenu grâce au développement de la microscopie à force atomique ultra-rapide. La limitation actuelle de ce microscope ultra-rapide, à savoir l'acquisition d'informations en relation uniquement avec la surface de l'objet biologique étudié, crée un rempart à l'obtention de connaissances nouvelles sur les dynamiques sous-jacentes que renferment certains systèmes biomoléculaires. Pour s'affranchir de cette contrainte, nous nous proposons dans ce projet de faire évoluer notre outil de nanocaractérisation en lui ajoutant des fonctionnalités optiques et des fonctionnalités permettant de faire de la spectroscopie de force. La conduite de ce projet se fera selon un travail de développement instrumental scindé en deux grandes étapes : - l'apport d'outils de microscopie optique conventionnels : FRAP - FRET - FLIM - Fluorescence - TIRFM. Nous couplons ainsi la nanocaractérisation hautement résolue spatialement et temporellement avec des informations intrinsèques de nos échantillons. Cette complémentarité apparaît de plus en plus comme fondamentale dans les demandes des biologistes. - la mise au point de protocoles de fonctionnalisation de leviers AFM afin de réaliser de la spectroscopie de force et ainsi obtenir des informations sur les propriétés mécaniques des échantillons biologiques. Ce projet de recherche sera réalisé au Laboratoire de Recherche en Nanosciences EA 4682, Université de Reims Champagne Ardenne sous la direction du Pr. Michael Molinari et du Dr. Maxime Ewald récemment recruté en tant que maître de conférences (sept. 2013) et qui pu démarrer la thématique de la microscopie AFM haute-vitesse au sein de l'équipe. Il s'effectuera en collaboration avec le Pr. T. Ando du Biophysics Lab' de l'Université de Kanazawa (Japon) pour la partie instrumentation, et avec le Dr. Gabriel Paës pour l'étude des échantillons biologiques. Les objets étudiés lors de cette thèse seront liés au projet ANR Lignoprog qui vient de démarrer au 1er novembre 2014 porté par Dr. Gabriel Paës (INRA UMR FARE, Reims). Dans ce projet, des échantillons biologiques se doivent d'être caractériser en dynamique. Ils concernent la biomasse lignocellulosique (BL), réseau complexe de polymères constituant les parois végétales (PV). La complexité architecturale et chimique de la BL est un frein à sa conversion industrielle. Pour atteindre ce but, non seulement la fraction cellulosique mais aussi les fractions hémicellulosiques et ligneuses doivent être valorisées, sinon les bio-raffineries ne seront pas compétitives. Le principal challenge à relever est celui du coût élevé et de la relative faible efficacité de l'étape de déconstruction enzymatique de la BL. Avec les fonctionnalités d'imagerie développées dans ce projet, nous espérons apporter des éléments de réponses sur la déconstruction enzymatique. Par ailleurs, même si les objets étudiés seront principalement ceux du projet Lignoprog, une validation du dispositif pourra être réalisée en parallèle sur d'autres échantillons biologiques tels que des cellules vivantes seront envisagées : caractérisation, mise en évidence leur réactivité vis-à-vis des divers paramètres physiologiques du milieu (pH, concentration, composition), corrélation de ces résultats avec leurs propriétés mécaniques.
Book Synopsis Caractérisation par microscopie en champ proche optique de composants de l'optique intégrée by : Matthieu Martin
Download or read book Caractérisation par microscopie en champ proche optique de composants de l'optique intégrée written by Matthieu Martin and published by . This book was released on 2003 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Sujet de recherche en pleine expansion, les composants de l'optique intégrée souffraient jusqu'à ces dernières années du manque d'une technique de caractérisation complète et non-destructive. Ce travail de thèse a pour principal but de démontrer l'intérêt que présente la microscopie en champ proche otpique pour la caractérisation de ces composants fonctionnant dans le domaine des longueurs d'ondes des télécommunications [1.2-1.6 μm]. Nous commencerons par de brefs rappels sur la théorie de l'électromagnétisme nécessaires à la compréhension des études menées en champ proche optique ainsi que par l'exposé des concepts de base de la microscopie en champ proche optique. Notre travail se focalisera ensuite sur la description de notre appareillage de champ proche et notamment sur les modifications que nous lui avons apporté en vue de son utilisation spécifique, dans le domaine des longueurs d'ondes des télécommunications, pour la caractérisation de composants de l'optique intégrée. Nous présenterons ensuite nos études menées sur des composants basés sur le principe des interférences multimodes (MMI), fabriqués par échange d'ions sur verre et conçus pour la recombinaison de faisceaux issus de télescopes astronomiques. Nous montrerons alors que la microscopie en champ proche optique permet une caractérisation précise de ce types de composants et un retour fin sur les paramètres physiques déterminant le comportement de ces structures (contraste d'indice, excitation modale, paramètres géométriques...). Nous présenterons en perspectives, les premières mesures effectuées sur des composants nano-photoniques où nous avons mis en évidence la présence d'une onde de bloch se propageant au sein d'un guide à base de cristaux photoniques.
Book Synopsis Etude de la fiabilité des mesures électriques par la microscopie à force atomique sur couches diélectriques ultra-minces by : Antonin Grandfond
Download or read book Etude de la fiabilité des mesures électriques par la microscopie à force atomique sur couches diélectriques ultra-minces written by Antonin Grandfond and published by . This book was released on 2014 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les progrès rapides de la microélectronique sont liées à la miniaturisation du transistor MOS. Pour limiter les courants de fuite, SiO2 a déjà été remplacé par HfO2.mais de nouveaux diélectriques de grande constante diélectrique (high-k) devront être intégrés pour poursuivre cette progression. Le microscope à force atomique (AFM) en mode Conductive-AFM (C-AFM) est aujourd'hui un outil incontournable pour la caractérisation électrique des diélectriques en couche mince à l'échelle nanométrique. Dans nos travaux, nous avons cherché à étudier les limites du C-AM. Le C-AFM consiste à utiliser une pointe AFM comme électrode supérieure afin de faire des mesures de type I(V) ou des cartographies de courant. Nous avons cherché à identifier le phénomène qui conduit à la dégradation de la couche diélectrique par l'application d'une tension de pointe positive, matérialisée par la déformation de la surface. Nous avons montré qu'il s'agissait d'un effet thermique due à la forte densité de courant, ne s'apparentant pas à la DBIE observée sur dispositif, et pouvant aller jusqu'à la détérioration du substrat à l'interface. Ce phénomène, sans en être la conséquence, est largement favorisé par la présence d'eau. Ceci confirme qu'il est préférable de réaliser les caractérisations électriques sous ultra-vide malgré les contraintes expérimentales. Les études du diélectriques sont ainsi compromises puisque le mode de dégradation est en partie propre à la technique AFM et ne permet pas aisément d'extrapoler le comportement du matériau intégré dans un dispositif. De plus, l'étude statistique la dégradation de la couche (Weibull), couramment utilisée, est affectée par un biais d'interdépendance. De la même façon, la modélisation de la conduction à travers la couche doit être utilisée avec précaution, car la surface du contact électrique pointe-diélectrique demeure un paramètre incertain. La technique de pompage de charges permet de caractériser les pièges à l'interface oxyde/semi- conducteur en les sollicitant par l'application d'une tension de grille périodique. Elle permet d'extraire la densité d'état Dit(E) les sections efficaces de capture (σ(E)), mais ne donne pas d'information sur leur répartition spatiale. Nous avons donc adapté cette technique à la microscopie champ proche, la pointe AFM conductrice faisant office de grille. Sur des transistors dépourvus de grille spécialement préparés pour l’occasion, nous avons pu montrer la faisabilité de la technique, en accord satisfaisant avec les mesures macroscopiques. Nous mesurons un signal que nous associons à un courant pompé. Cependant, le signal est déformé comparativement aux mesures macroscopiques. Un modèle physique reste à développer puisque dans notre cas, les charges minoritaires doivent traverser depuis la source et le drain un espace non polarisé par la grille. Par la suite, un dispositif de cartographie des défauts d'interface, éventuellement résolue en énergie, pourra être développé.
Book Synopsis Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante by : Hervé Wioland
Download or read book Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante written by Hervé Wioland and published by . This book was released on 2000 with total page 174 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE CONFIGURATION ORIGINALE DE MICROSCOPE OPTIQUE EN CHAMP PROCHE A SONDE PERTURBATIVE EN MODE TRANSMISSION A ETE DEVELOPPEE. ELLE ASSOCIE UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE COMMERCIAL TRAVAILLANT EN MODE RESONANT ET UN MICROSCOPE OPTIQUE INVERSE ASSURANT L'ECLAIRAGE DE L'ECHANTILLON ET LA COLLECTION D'UNE PARTIE DU SIGNAL DIFFUSE. LA POINTE AFM JOUE UN DOUBLE ROLE: ELLE PERMET NON SEULEMENT LA DETECTION DES FORCES INTER-ATOMIQUES PRESENTES ENTRE L'EXTREMITE DE LA POINTE ET LA SURFACE MAIS ELLE AGIT COMME UNE PARTICULE DIFFUSANTE DE RAYLEIGH POUR PERTURBER LE CHAMP PROCHE OPTIQUE PRESENT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON. CETTE CONFIGURATION PERMET L'ACQUISITION SIMULTANEE DE L'IMAGE AFM (TOPOGRAPHIE) ET DE L'IMAGE SNOM (OPTIQUE). LES PREMIERS RESULTATS OBTENUS SUR UN RESEAU DE PLOTS D'ALUMINIUM (PAS DE 400 NM) DEPOSE SUR UN SUBSTRAT DE VERRE NOUS ONT AMENE A NOUS INTERROGER SUR LES ARTEFACTS QUE CETTE ARCHITECTURE ENGENDRE DANS LA FORMATION DE L'IMAGE OPTIQUE, EN PARTICULIER, LA PRESENCE DU LEVIER AFM A UNE FAIBLE DISTANCE DE LA SURFACE ET LES VARIATIONS DE DISTANCE SONDE-SURFACE INDUITES PAR LES INSTABILITES DE L'OSCILLATEUR (LE LEVIER AFM). L'APPLICATION CONCERNE L'ETUDE D'ECHANTILLONS MAGNETIQUES (GRENATS SUBSTITUES) PAR DES EFFETS MAGNETO-OPTIQUES EN CHAMP PROCHE (FARADAY ET DICHROIQUE CIRCULAIRE MAGNETIQUE). LES IMAGES OBTENUES MONTRENT D'UNE PART, UN DECOUPLAGE ENTRE L'INFORMATION TOPOGRAPHIQUE ET LA DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON ET D'AUTRE PART UNE DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION EN SURFACE PLUS COMPLEXE QUE CELLE DE VOLUME.
Book Synopsis ETUDE ET CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE EN CHAMP PROCHE DE COUCHES MINCES ORGANIQUES ORIENTEES PAR EPITAXIE by : VICTOR.. DA COSTA
Download or read book ETUDE ET CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE EN CHAMP PROCHE DE COUCHES MINCES ORGANIQUES ORIENTEES PAR EPITAXIE written by VICTOR.. DA COSTA and published by . This book was released on 1996 with total page 203 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ELABORATION EN FILMS MINCES DE NOUVELLES MOLECULES ORGANIQUES AYANT DES PROPRIETES PARTICULIERES A OUVERT UN AXE DE RECHERCHE BASE SUR L'ETUDE DES PROPRIETES OPTIQUES NON LINEAIRES. LES POLYDIACETYLENES EN COUCHES MINCES, EPITAXIEES SUR UN SUBSTRAT ORGANIQUE MONOCRISTALLIN TEL QUE LE PHTALATE ACIDE DE POTASSIUM, PRESENTENT UNE ANISOTROPIE DES PROPRIETES OPTIQUES LIEE A L'ORIENTATION RELATIVE DES CHAINES DE POLYMERES. L'OBSERVATION PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE DE CES FILMS DE MONOMERES, REVELE UNE CROISSANCE ANISOTROPE DE TYPE VOLMER-WEBER INDUITE PAR LES INTERACTIONS MOLECULAIRES AU NIVEAU DE LA SURFACE DU SUBSTRAT. LES FILMS DE POLYDIACETYLENES EPITAXIES SONT CONSTITUES DE CRISTAUX DONT LA MORPHOLOGIE DEPEND DE LA TEMPERATURE DU SUBSTRAT ET DE LA VITESSE DE DEPOT. LA CARACTERISATION EN OPTIQUE LINEAIRE DES FILMS PREPARES A CHAUD ET A FLUX LENT MONTRE UN DEPLACEMENT DU SEUIL D'ABSORPTION DES EXCITONS VERS LES LONGUEURS D'ONDES SUPERIEURES. CELA POURRAIT S'EXPLIQUER PAR UN ACCROISSEMENT DE LA LONGUEUR MOYENNE DES CHAINES DE POLYMERES DANS CES COUCHES OU PAR UNE DIMINUTION DU NOMBRE DE DEFAUTS DE LA CHAINE CONJUGUEE. IL EXISTE UNE IMPORTANTE CORRELATION ENTRE LA STRUCTURE ET LES PROPRIETES PHYSIQUES. LES COUCHES UNIAXIALES AYANT UNE EXCELLENTE QUALITE CRISTALLINE SONT OBTENUES DANS LES CONDITIONS OU LE TAUX DE DEPOSITION EST FAIBLE ET LA TEMPERATURE DU SUBSTRAT ELEVEE. DE TELS FILMS CONSTITUES DE MATERIAUX UNIDIMENSIONNELS SONT PARFAITEMENT ADAPTES POUR DES MESURES DE SUSCEPTIBILITE NON LINEAIRE
Book Synopsis Etude de rugosité de surface par microscopie à sonde locale by : Olivier Vatel
Download or read book Etude de rugosité de surface par microscopie à sonde locale written by Olivier Vatel and published by . This book was released on 1993 with total page 212 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MINIATURISATION DES CIRCUITS INTEGRES IMPOSE UNE DIMINUTION CONSTANTE DE LA TAILLE DES COMPOSANTS ET DE L'EPAISSEUR DES DIFFERENTES COUCHES. CECI EXIGE UN CONTROLE ET UNE ANALYSE FINE DE LA RUGOSITE DE SURFACE. DANS LE DOMAINE NANOMETRIQUE, LES MICROSCOPIES A EFFET TUNNEL (STM) ET A FORCE ATOMIQUE (AFM) SONT DES OUTILS TOUT A FAIT ADAPTES A CE TYPE DE CARACTERISATION DANS UN ENVIRONNEMENT DE RECHERCHE ET DE DEVELOPPEMENT. DES ETUDES STATISTIQUES ONT ETE MENEES, LA MORPHOLOGIE DE SURFACE A ETE DETERMINEE EN DEVELOPPANT DES PROGRAMMES PERMETTANT D'ACCEDER A LA DENSITE SPECTRALE DE PUISSANCE. CETTE TECHNIQUE A ETE UTILISEE POUR CARACTERISER DIFFERENTES SURFACES: 1) DEPOT DE POLYSILICIUM A 620C: DIFFERENTS TEMPS DE DEPOT ONT ETE ETUDIES DANS UNE GAMME DE TEMPS COMPRISE ENTRE 10S ET 45MN. NOUS AVONS MIS EN EVIDENCE DEUX REGIMES DIFFERENTS CORRESPONDANTS A LA CROISSANCE DE GRAINS ISOLES ET LA CROISSANCE PAR COALESCENCE. POUR LE SECOND MODE CROISSANCE, LE CARACTERE AUTO-SIMILAIRE DE LA SURFACE NOUS A PERMIS DE DEDUIRE UNE LOI D'ECHELLE DYNAMIQUE. 2) ATTAQUE PAR PLASMA DE SF6 DE SILICIUM (100): NOUS AVONS ETUDIE LES MODIFICATIONS STRUCTURELLES DE LA SURFACE D'UN SUBSTRAT DE SILICIUM EXPOSE A UN PLASMA SF6. NOUS AVONS ANALYSE L'INFLUENCE DES DIFFERENTS PARAMETRES DE L'ATTAQUE PLASMA (PRESSION, PUISSANCE, FLUX, ENERGIE DES IONS OU ENCORE, TEMPS DE GRAVURE)
