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Test Integre Diagnostic Et Analyse De La Testabilite Dans Les Circuits Integres Analogiques Bases Sur Le Concept De La Sensibilite
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Author :École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique Publisher : ISBN 13 : Total Pages :225 pages Book Rating :4.:/5 (113 download)
Book Synopsis Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité by : École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique
Download or read book Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité written by École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique and published by . This book was released on 1994 with total page 225 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author :Jose Luis Huertas Díaz Publisher :Springer Science & Business Media ISBN 13 :0387235213 Total Pages :310 pages Book Rating :4.3/5 (872 download)
Book Synopsis Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits by : Jose Luis Huertas Díaz
Download or read book Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits written by Jose Luis Huertas Díaz and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2010-02-23 with total page 310 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits deals with test and design for test of analog and mixed-signal integrated circuits. Especially in System-on-Chip (SoC), where different technologies are intertwined (analog, digital, sensors, RF); test is becoming a true bottleneck of present and future IC projects. Linking design and test in these heterogeneous systems will have a tremendous impact in terms of test time, cost and proficiency. Although it is recognized as a key issue for developing complex ICs, there is still a lack of structured references presenting the major topics in this area. The aim of this book is to present basic concepts and new ideas in a manner understandable for both professionals and students. Since this is an active research field, a comprehensive state-of-the-art overview is very valuable, introducing the main problems as well as the ways of solution that seem promising, emphasizing their basis, strengths and weaknesses. In essence, several topics are presented in detail. First of all, techniques for the efficient use of DSP-based test and CAD test tools. Standardization is another topic considered in the book, with focus on the IEEE 1149.4. Also addressed in depth is the connecting design and test by means of using high-level (behavioural) description techniques, specific examples are given. Another issue is related to test techniques for well-defined classes of integrated blocks, like data converters and phase-locked-loops. Besides these specification-driven testing techniques, fault-driven approaches are described as they offer potential solutions which are more similar to digital test methods. Finally, in Design-for-Testability and Built-In-Self-Test, two other concepts that were taken from digital design, are introduced in an analog context and illustrated for the case of integrated filters. In summary, the purpose of this book is to provide a glimpse on recent research results in the area of testing mixed-signal integrated circuits, specifically in the topics mentioned above. Much of the work reported herein has been performed within cooperative European Research Projects, in which the authors of the different chapters have actively collaborated. It is a representative snapshot of the current state-of-the-art in this emergent field.
Book Synopsis TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES by : JAIME.. VELASCO MEDINA
Download or read book TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES written by JAIME.. VELASCO MEDINA and published by . This book was released on 1999 with total page 207 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.
Book Synopsis Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement by : Benoit Nadeau-Dostie
Download or read book Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement written by Benoit Nadeau-Dostie and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2006-04-11 with total page 251 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Book Synopsis Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables by : Raoul Velazco
Download or read book Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables written by Raoul Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Book Synopsis Test par faisceau d'électrons et analyse d'images by : Jean-Philippe Pierrel
Download or read book Test par faisceau d'électrons et analyse d'images written by Jean-Philippe Pierrel and published by . This book was released on 1992 with total page 516 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE ET LA MISE EN UVRE D'UN SYSTEME INDUSTRIEL D'ANALYSE DE DEFAILLANCES DE CIRCUITS INTEGRES, EN L'ABSENCE DE DONNEES DE CONCEPTION, ET BASE SUR LE TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS. LE PRINCIPE CONSISTE A COMPARER LES INFORMATIONS ELECTRIQUES (IMAGES STROBOSCOPIQUES ET COURBES) ISSUES DU COMPOSANT DEFAILLANT A CELLES D'UN CIRCUIT DE REFERENCE. LE DEVELOPPEMENT DE CES TECHNIQUES DE TEST A NECESSITE L'AUTOMATISATION DES PROCEDURES D'ACQUISITION. POUR RESOUDRE LE PROBLEME MAJEUR DE LA PROCEDURE DE COMPARAISON, A SAVOIR LE RECYCLAGE SPATIAL, NOUS AVONS MIS EN UVRE DES TECHNIQUES BASEES SUR LA CORRELATION D'IMAGES. CES TRAVAUX ONT DEBOUCHE SUR LA PRESENTATION DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET DE RESULTATS OBTENUS AU COURS D'ANALYSES
Book Synopsis Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes by : Florence Azais
Download or read book Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes written by Florence Azais and published by . This book was released on 1996 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie by : Corinne Daujan
Download or read book Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie written by Corinne Daujan and published by . This book was released on 1997 with total page 158 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.
Book Synopsis Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes by : Hassan Ihs
Download or read book Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes written by Hassan Ihs and published by . This book was released on 1997 with total page 163 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE PROPOSE DES TECHNIQUES DE TEST INTEGRE EN DOMAINE STATIQUE (DC) DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE. LE PREMIER CHAPITRE PRESENTE UNE VUE GLOBALE DES PROBLEMES LIES AU TEST DES CIRCUITS MIXTES. ENSUITE, UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART EN MATIERE DE TEST INTEGRE DE CES CIRCUITS EST PRESENTEE. LE DEUXIEME CHAPITRE TRAITE DE LA TESTABILITE EN COURANT ET EN TENSION DES CELLULES ANALOGIQUES ELEMENTAIRES. UNE ETUDE SUR LA TESTABILITE EN COURANT DE CELLULES DE TYPE AMPLIFICATEUR OPERATIONNEL NOUS A CONDUIT A DEGAGER UNE TECHNIQUE GENERALE DE TEST POUR CE TYPE DE CELLULES. CETTE TECHNIQUE CONSISTE A SATURER LA CELLULE SOUS TEST (PAR LE CONTROLE DE CES TENSIONS D'ENTREES) ET A OBSERVER LE NUD DE TENSION INTERNE CORRESPONDANT A LA SORTIE DE SON ETAGE DIFFERENTIEL. DES TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES PROCHES DE 100% SONT ALORS OBTENUES. ENSUITE, NOUS AVONS MIS AU POINT UN CAPTEUR DE TENSION ORIGINAL PERMETTANT L'ANALYSE COMPLETE DE LA SIGNATURE ISSUE DU NUD SOUS TEST. CE CAPTEUR OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISATION DE L'ANALYSE DE SIGNATURE A TRES FAIBLE COUT EN SURFACE DE SILICIUM AJOUTEE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AU TEST INTEGRE DES CIRCUITS A CAPACITE COMMUTEES. APRES UN BREF RAPPEL DE LA TECHNIQUE DES CAPACITES COMMUTEES, DEUX TECHNIQUES DE TEST DE CES CIRCUITS TIRANT PROFIT DE LEUR NATURE PARTICULIERE ONT ETE PROPOSEES. LES DEUX TECHNIQUES UTILISENT LA POSSIBILITE DE RECONFIGURATION DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUNAUTEES PAR DES MOYENS DE CVT POUR REALISER DES CIRCUITS FACILEMENT TESTABLES EN DC. LA PREMIERE PERMET DE MESURER DIRECTEMENT IN-SITU LES RAPPORTS CAPACITIFS INTERVENANT DANS LA FONCTION DE TRANSFERT D'UN CIRCUIT A CAPACITE COMMUTEES. LES PERFORMANCES DE CE CIRCUIT SONT ENSUITE EVALUEES PERMETTANT AINSI DE S'AFFRANCHIR DU PROBLEME DELICAT DE LA MODELISATION DE FAUTES ANALOGIQUES. LA DEUXIEME TECHNIQUE OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISER L'INTEGRATION COMPLETE DES RESSOURCES DE TEST DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUTEES. DEUX ALGORITHMES DE SYNTHESE HAUT NIVEAU DES RESSOURCES DE TESTABILITE MIS EN UVRE PAR LES DEUX TECHNIQUES ONT ETE PROPOSES. IL A AUSSI ETE MONTRE QU'UN DIMENSIONNEMENT ADEQUAT DES COMPOSANTS DE CVT PERMET DE MINIMISER LEUR INFLUENCE SUR LE FONCTIONNEMENT NORMAL DU CIRCUIT POUR UNE LARGE GAMME DE FREQUENCES. ENFIN, LES VALIDATIONS REALISEES MONTRENT LA VIABILITE DE CES DEUX TECHNIQUES.
Book Synopsis Test et diagnostic de circuits intégrés programmables by : Raúl Velazco
Download or read book Test et diagnostic de circuits intégrés programmables written by Raúl Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Modélisation de fautes et diagnostic pour les circuits mixtes/RF nanométriques by : Ke Huang (auteur en sciences industrielles).)
Download or read book Modélisation de fautes et diagnostic pour les circuits mixtes/RF nanométriques written by Ke Huang (auteur en sciences industrielles).) and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le diagnostic de fautes est essentiel pour atteindre l'objectif de temps avant mise sur le marché (time to market) des premiers prototypes de circuits intégrés. Une autre application du diagnostic est dans l'environnement de production. Les informations du diagnostic sont très utiles pour les concepteurs de circuits afin d'améliorer la conception et ainsi augmenter le rendement de production. Dans le cas où le circuit est une partie d'un système d'importance critique pour la sûreté (e.g. automobile, aérospatial), il est important que les fabricants s'engagent à identifier la source d'une défaillance dans le cas d'un retour client pour ensuite améliorer l'environnement de production afin d'éviter la récurrence d'un tel défaut et donc améliorer la sûreté. Dans le cadre de cette thèse, nous avons développé une méthodologie de modélisation et de diagnostic de fautes pour les circuits analogiques/mixtes. Une nouvelle approche basée sur l'apprentissage automatique a été proposée afin de considérer les fautes catastrophiques et paramétriques en même temps dans le diagnostic. Ensuite, nous avons focalisé sur le diagnostic de défauts spot qui sont considérés comme le mécanisme de défauts principal de circuits intégrés. Enfin, la méthodologie du diagnostic proposée a été validée par les données de circuits défectueux fournies par NXP Semiconductors - Netherlands. Mots clés: Diagnostic de fautes, modélisation de fautes, test analogique, analyse de défauts, apprentissage automatique.
Book Synopsis Contribution au test et diagnostic des circuits analogiques par des approches basées sur des techniques neuronales by : Amar Bengharbi
Download or read book Contribution au test et diagnostic des circuits analogiques par des approches basées sur des techniques neuronales written by Amar Bengharbi and published by . This book was released on 1997 with total page 296 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC A TOUJOURS ETE UN THEME DE RECHERCHE ET DE DEVELOPPEMENT IMPORTANT DANS LE DOMAINE DE L'ELECTRONIQUE. EN EFFET, LE TEST A UNE PLACE ESSENTIELLE DANS LA FABRICATION ET LA MAINTENANCE DES CIRCUITS ELECTRONIQUES. ALORS QUE LE TEST DES CIRCUITS NUMERIQUES A FAIT L'OBJET DE NOMBREUSES ETUDES, QUI ONT PERMIS LA MISE AU POINT DE DIFFERENTES METHODES, LE TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES (ANALOGIQUE/DIGITALE) N'A PAS CONNU CE MEME ESSOR. A L'HEURE ACTUELLE, ON RECENSE QUELQUES TRAVAUX SUR LE PROBLEME DU TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CEPENDANT, LA MAJORITE DES METHODES PROPOSEES PRESENTENT DES LIMITATIONS ET DES DIFFICULTES DE MISE EN OEUVRE LIEES AU PROBLEME DE LA TOLERANCE, LA MODELISATION ET LA NON-LINEARITE DES COMPOSANTS. CE TRAVAIL PRESENTE, D'UNE PART, UNE APPLICATION DES METHODES D'IDENTIFICATION AU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ELECTRONIQUES ANALOGIQUES ET D'AUTRE PART, UNE ETUDE D'APPROCHES NEURONALES POUR LE TEST ET DIAGNOSTIC DE CES DERNIERS. DANS UN PREMIER TEMPS, UNE ETUDE THEORIQUE DES METHODES D'IDENTIFICATION CLASSIQUE EST EXPOSEE. NOUS AVONS EXAMINE LES DIFFERENTS CHOIX POUR ADAPTER CES METHODES AU PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. A TRAVERS DES EXEMPLES DE SIMULATION SUR DES CIRCUITS LINEAIRES, NOUS AVONS VALIDE CES APPROCHES. COMPTE TENU DES LIMITATIONS CONSTATEES SUR CES METHODES, NOUS AVONS PROPOSE D'ETUDIER DES APPROCHES BASEES SUR LES RESEAUX DE NEURONES AFIN DE CONTOURNER CES LIMITATIONS. UNE BREVE ETUDE THEORIQUE DES RESEAUX DE NEURONES ET DE CERTAINS MODELES NEURONAUX A ETE EXPOSEE. A LA SUITE DE CETTE ETUDE, NOUS AVONS PROPOSE PLUSIEURS APPROCHES UTILISANT CES TECHNIQUES (RESEAUX DE NEURONES : BACKPROPAGATION, LVQ, RBF, SYSTEMES MULTI-RESEAUX) POUR L'IDENTIFICATION ET LA CLASSIFICATION EN VUE DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CES APPROCHES ONT ETE VALIDEES PAR SIMULATION ET EXPERIMENTATION POUR DES SIMPLE ET DOUBLE-DEFAUTS. LES AVANTAGES DES APPROCHES NEURONALES PROPOSEES DANS CE TRAVAIL SONT : LA DISPENSE DE LA MODELISATION MATHEMATIQUE DU CIRCUIT, LA DIMINUTION DU NOMBRE DE POINTS DE TEST, LA POSSIBILITE D'APPLICATION DE TELLES TECHNIQUES A LA FOIS A DES CIRCUITS LINEAIRES ET NON-LINEAIRES.
Book Synopsis Etude des méthodes de conception et des outils de C.A.O. pour la synthèse des circuits intégrés analogiques by : Faouzi Chaahoub
Download or read book Etude des méthodes de conception et des outils de C.A.O. pour la synthèse des circuits intégrés analogiques written by Faouzi Chaahoub and published by . This book was released on 1999 with total page 181 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA REALISATION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A HAUTES PERFORMANCES SOUFFRE DE DIFFICULTES PRINCIPALEMENT DUES A LA REDUCTION DE LA TENSION D'ALIMENTATION ET A LA REDUCTION DE LA CONSOMMATION, QUI SONT CONDUITES PAR LA PROLIFERATION DES SYSTEMES PORTABLES ALIMENTES PAR DES BATTERIES, MAIS PATIT AUSSI DU MANQUE D'OUTILS DE C.A.O PERMETTANT D'AUTOMATISER LA PHASE DE LAYOUT QUI EST ASSEZ LABORIEUSE ET PREND BEAUCOUP DE TEMPS. CETTE THESE SE SITUE DANS CE CONTEXTE. ELLE TRAITE DE DEUX DOMAINES ASSEZ DISTINCTS MAIS COMPLEMENTAIRES, A SAVOIR LA CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A FAIBLE TENSION D'ALIMENTATION, ET LA GENERATION AUTOMATIQUE (OU ASSISTEE) DU LAYOUT DE CES CIRCUITS A L'AIDE D'ALGORITHMES ET DE LOGICIELS APPROPRIES. L'ABOUTISSEMENT DE CETTE THESE EST, PREMIEREMENT, LA CREATION D'UNE NOUVELLE METHODE DE CONCEPTION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, PLUS PRECISEMENT LA GENERATION D'UNE TECHNIQUE DE CONCEPTION DE NOUVELLE STRUCTURE, PLUS ADAPTEE AUX BASSES TENSIONS D'ALIMENTATION ET AUX FAIBLES CONSOMMATIONS, DEUXIEMEMENT, NOTRE CONTRIBUTION A L'AUTOMATISATION DE LA PHASE DU LAYOUT DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, A SAVOIR L'ETUDE DETAILLEE DES CONTRAINTES ANALOGIQUES A PRENDRE EN COMPTE DANS TOUT OUTIL D'AUTOMATISATION DU LAYOUT (GENERATEUR, PLACEUR, ROUTEUR, COMPACTEUR), AINSI QUE NOTRE PARTICIPATION AU DEVELOPPEMENT DE CHRVAN (OUTILS D'AUTOMATISATION DES MASQUES DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, DEVELOPPES AU CNET GRENOBLE) EN AIDANT A SA MISE AU POINT, EN L'UTILISANT, EN PROPOSANT DES AMELIORATIONS, ET SURTOUT EN CONSACRANT TOUS NOS EFFORTS A DEVELOPPE UN ALGORITHME DE PLACEMENT DES CELLULES ANALOGIQUES QUI PREND EN COMPTE TOUTES CES CONTRAINTES ANALOGIQUES.
Book Synopsis Conception de produits intégrés analogiques by : Yann Deval
Download or read book Conception de produits intégrés analogiques written by Yann Deval and published by . This book was released on 1994 with total page 177 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Méthodes et outils pour l'analyse tôt dans le flot de conception de la sensibilité aux soft-erreurs des applications et des circuits intégrés by : Wassim Mansour
Download or read book Méthodes et outils pour l'analyse tôt dans le flot de conception de la sensibilité aux soft-erreurs des applications et des circuits intégrés written by Wassim Mansour and published by . This book was released on 2012 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La miniaturisation des gravures des transistors résulte en une augmentation de la sensibilité aux soft-erreurs des circuits intégrés face aux particules énergétiques présentes dans l'environnement dans lequel ils opèrent. Une expérimentation, présentée au cours de cette thèse, concernant l'étude de la sensibilité face aux soft-erreurs, dans l'environnement réel, des mémoires SRAM provenant de deux générations de technologies successives, a mis en évidence la criticité de cette thématique. Cela pour montrer la nécessité de l'évaluation des circuits faces aux effets des radiations, surtout les circuits commerciaux qui sont de plus en plus utilisés dans les applications spatiales et avioniques et même dans les hautes altitudes, afin de trouver les méthodologies permettant leurs durcissements. Plusieurs méthodes d'injection de fautes, ayant pour but l'évaluation de la sensibilité des circuits intégrés face aux soft-erreurs, ont été le sujet de plusieurs recherches. Les travaux réalisés au cours de cette thèse ont eu pour but le développement d'une méthode automatisable, avec son outil, permettant l'émulation des effets des radiations sur des circuits dont on dispose de leurs codes HDL. Cette méthode, appelée NETFI (NETlist Fault Injection), est basée sur la manipulation de la netlist du circuit synthétisé pour permettre l'injection de fautes de types SEU, SET et Stuck_at. NETFI a été appliquée sur plusieurs architectures pour étudier ses potentialités ainsi que son efficacité. Une étude sur un algorithme tolérant aux fautes, dit self-convergent, exécuté par un processeur LEON3, a été aussi présenté dans le but d'effectuer une comparaison des résultats issus de NETFI avec ceux issus d'une méthode de l'état de l'art appelée CEU (Code Emulated Upset).
Book Synopsis Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes by : Florence Azais (physicienne).)
Download or read book Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes written by Florence Azais (physicienne).) and published by . This book was released on 1996 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE by : ARNAUD.. RIAUDEL
Download or read book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE written by ARNAUD.. RIAUDEL and published by . This book was released on 1995 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE S'INSERE DANS LE CADRE DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES UTILISES DANS LE DOMAINE DES TELECOMMUNICATIONS. LE HAUT DEGRE DE FIABILITE EXIGE POUR LEUR FONCTIONNEMENT ENTRAINE UNE EVOLUTION DES METHODES DE TEST VERS UNE EFFICACITE PLUS GRANDE. LES TRAVAUX MENES ONT POUR BUT DE DEFINIR UNE METHODOLOGIE DE TEST PERMETTANT D'OPTIMISER ET DE SIMPLIFIER LE DEVELOPPEMENT DES PROGRAMMES DE TEST POUR LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE COMPLEXES ET SPECIFIQUES AU RESEAU DE TELECOMMUNICATIONS. DANS UNE PREMIERE PARTIE, NOUS PRESENTONS UN CIRCUIT INTEGRE MIXTE ANALOGIQUE-NUMERIQUE-L'INTERFACE U CODE 2B/1Q-. NOUS FAISONS L'ETAT DE L'ART DES DIFFERENTES TECHNIQUES DE TESTABILITE ET MONTRONS QU'UNE ASSOCIATION COHERENTE DES METHODES DE TEST DOIT ACCROITRE L'ASSURANCE DE LA CONFORMITE DU COMPOSANT AUX SPECIFICATIONS. LA SECONDE PARTIE PRESENTE LE TRAVAIL QUI A ETE MENE POUR TESTER LA CONFORMITE DE L'INTERFACE U AUX SPECIFICATIONS FONCTIONNELLES ET PARAMETRIQUES. NOUS PROPOSONS UNE METHODOLOGIE DE TEST BASEE SUR L'UTILISATION D'INSTRUMENTATION ANALOGIQUE COUPLEE A UN TESTEUR NUMERIQUE POUR TESTER LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES DE L'INTERFACE U
