TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES

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Book Synopsis TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES by : JAIME.. VELASCO MEDINA

Download or read book TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES written by JAIME.. VELASCO MEDINA and published by . This book was released on 1999 with total page 207 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.

Conception d'une architecture de BIST analogique et mixte programmable en technologie CMOS très submicronique

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Book Synopsis Conception d'une architecture de BIST analogique et mixte programmable en technologie CMOS très submicronique by : Guillaume Prenat

Download or read book Conception d'une architecture de BIST analogique et mixte programmable en technologie CMOS très submicronique written by Guillaume Prenat and published by . This book was released on 2005 with total page 144 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette thèse de doctorat présente une technique de BIST dont l'interface est totalement numérique, pour le test fréquentiel de circuits analogiques et mixtes. L'objectif de cette approche est de faciliter les techniques de test à bas coût des Systèmes sur Puce, rendant le test des blocs mixtes compatibles avec l'utilisation de testeurs numériques. La génération de signal de test analogique est réalisée sur la puce elle-même par un filtrage passe-bas d'un train binaire encodé par un modulateur Sigma Delta. L'analyse harmonique de la réponse analogique est également réalisée sur la puce en utilisant une modulation par un signal carré et une modulation par un modulateur Sigma Delta. La génération de signal analogique et l'analyse de la réponse du circuit sous test étant programmables numériquement sur la puce, la compatibilité avec un testeur numérique à faible coût est assurée. L'optimisation des signatures de test est discutée en détail pour trouver un compromis entre temps et qualité du test.

Etude et conception d'une structure BIST pour convertisseur analogique-numérique

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Book Synopsis Etude et conception d'une structure BIST pour convertisseur analogique-numérique by : Nicolas Mechouk

Download or read book Etude et conception d'une structure BIST pour convertisseur analogique-numérique written by Nicolas Mechouk and published by . This book was released on 2010 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le test de circuits analogiques et mixtes est de plus en plus difficile du fait de l'intégration d'un nombre croissant de composants complexes au sein d'un même système. Les techniques de BIST permettent la réalisation d'un test efficace en intégrant au système les ressources nécessaires au test. Dans cette thèse, nous présentons une structure BIST pour les Convertisseurs Analogiques-Numériques (CAN) tout numérique. Le générateur de stimuli est un oscillateur Sigma-Delta numérique délivrant, après un simple filtrage analogique, une sinusoïde. L'analyse de la réponse se fait au moyen d'un banc de filtres numériques séparant les différentes composantes harmoniques du signal issu du CAN. A partir de ces composantes harmoniques, différents paramètres spectraux sont calculés. Afin de valider cette structure, différents prototypes ont été conçu sur FPGA. Les résultats expérimentaux confirment la capacité de notre structure à tester efficacement un CAN 12 bits ayant un SNR de 70 dB.

Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes

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Book Synopsis Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes by : Hassan Ihs

Download or read book Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes written by Hassan Ihs and published by . This book was released on 1997 with total page 163 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE PROPOSE DES TECHNIQUES DE TEST INTEGRE EN DOMAINE STATIQUE (DC) DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE. LE PREMIER CHAPITRE PRESENTE UNE VUE GLOBALE DES PROBLEMES LIES AU TEST DES CIRCUITS MIXTES. ENSUITE, UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART EN MATIERE DE TEST INTEGRE DE CES CIRCUITS EST PRESENTEE. LE DEUXIEME CHAPITRE TRAITE DE LA TESTABILITE EN COURANT ET EN TENSION DES CELLULES ANALOGIQUES ELEMENTAIRES. UNE ETUDE SUR LA TESTABILITE EN COURANT DE CELLULES DE TYPE AMPLIFICATEUR OPERATIONNEL NOUS A CONDUIT A DEGAGER UNE TECHNIQUE GENERALE DE TEST POUR CE TYPE DE CELLULES. CETTE TECHNIQUE CONSISTE A SATURER LA CELLULE SOUS TEST (PAR LE CONTROLE DE CES TENSIONS D'ENTREES) ET A OBSERVER LE NUD DE TENSION INTERNE CORRESPONDANT A LA SORTIE DE SON ETAGE DIFFERENTIEL. DES TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES PROCHES DE 100% SONT ALORS OBTENUES. ENSUITE, NOUS AVONS MIS AU POINT UN CAPTEUR DE TENSION ORIGINAL PERMETTANT L'ANALYSE COMPLETE DE LA SIGNATURE ISSUE DU NUD SOUS TEST. CE CAPTEUR OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISATION DE L'ANALYSE DE SIGNATURE A TRES FAIBLE COUT EN SURFACE DE SILICIUM AJOUTEE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AU TEST INTEGRE DES CIRCUITS A CAPACITE COMMUTEES. APRES UN BREF RAPPEL DE LA TECHNIQUE DES CAPACITES COMMUTEES, DEUX TECHNIQUES DE TEST DE CES CIRCUITS TIRANT PROFIT DE LEUR NATURE PARTICULIERE ONT ETE PROPOSEES. LES DEUX TECHNIQUES UTILISENT LA POSSIBILITE DE RECONFIGURATION DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUNAUTEES PAR DES MOYENS DE CVT POUR REALISER DES CIRCUITS FACILEMENT TESTABLES EN DC. LA PREMIERE PERMET DE MESURER DIRECTEMENT IN-SITU LES RAPPORTS CAPACITIFS INTERVENANT DANS LA FONCTION DE TRANSFERT D'UN CIRCUIT A CAPACITE COMMUTEES. LES PERFORMANCES DE CE CIRCUIT SONT ENSUITE EVALUEES PERMETTANT AINSI DE S'AFFRANCHIR DU PROBLEME DELICAT DE LA MODELISATION DE FAUTES ANALOGIQUES. LA DEUXIEME TECHNIQUE OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISER L'INTEGRATION COMPLETE DES RESSOURCES DE TEST DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUTEES. DEUX ALGORITHMES DE SYNTHESE HAUT NIVEAU DES RESSOURCES DE TESTABILITE MIS EN UVRE PAR LES DEUX TECHNIQUES ONT ETE PROPOSES. IL A AUSSI ETE MONTRE QU'UN DIMENSIONNEMENT ADEQUAT DES COMPOSANTS DE CVT PERMET DE MINIMISER LEUR INFLUENCE SUR LE FONCTIONNEMENT NORMAL DU CIRCUIT POUR UNE LARGE GAMME DE FREQUENCES. ENFIN, LES VALIDATIONS REALISEES MONTRENT LA VIABILITE DE CES DEUX TECHNIQUES.

Simulation des circuits analogiques et mixtes

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Book Synopsis Simulation des circuits analogiques et mixtes by :

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Méthodologie d'estimation des métriques de test appliquée à une nouvelle technique de BIST de convertisseur SIGMA

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Book Synopsis Méthodologie d'estimation des métriques de test appliquée à une nouvelle technique de BIST de convertisseur SIGMA by : Matthieu Dubois

Download or read book Méthodologie d'estimation des métriques de test appliquée à une nouvelle technique de BIST de convertisseur SIGMA written by Matthieu Dubois and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité de créer de nouvelles applications grâce à l'intégration de plus en plus de fonctionnalités sur une surface de plus en plus faible. Pour chaque entreprise, la compétitivité dépend du coût de fabrication mais aussi de la fiabilité du produit. Ainsi, la phase de test d'un circuit intégré, et plus particulièrement des circuits analogiques et mixtes, est le facteur prédominant dans les choix d'un compromis entre ces deux critères antagonistes, car son coût est désormais proche du coût de production. Cette tendance contraint les acteurs du marché à mettre en place de nouvelles solutions moins onéreuses. Parmi les recherches dans ce domaine, la conception en vue du test (DfT) consiste à intégrer pendant le développement de la puce, une circuiterie additionnelle susceptible d'en faciliter le test, voire d'effectuer un auto-test (BIST). Mais la sélection d'une de ces techniques nécessite une évaluation de leur capacité de différencier les circuits fonctionnels des circuits défaillants. Ces travaux de recherche introduisent une méthodologie d'estimation de la qualité d'une DfT ou d'un BIST dans le flot de conception de circuits analogiques et mixtes. Basée sur la génération d'un large échantillon prenant en compte l'impact des variations d'un procédé technologique sur les performances et les mesures de test du circuit, cette méthodologie calcule les métriques de test exprimant la capacité de chaque technique de détecter les circuits défaillants sans rejeter des circuits fonctionnels et d'accepter les circuits fonctionnels en rejetant les circuits défaillant. Ensuite, le fonctionnement d'un auto-test numérique adapté aux convertisseurs sigma-delta est présenté ainsi qu'une nouvelle méthode de génération et d'injection du stimulus de test. La qualité de ces techniques d'auto-test est démontrée en utilisant la méthodologie d'estimation des métriques de test. Enfin, un démonstrateur développé sur un circuit programmable démontre la possibilité d'employer une technique d'auto-test dans un système de calibrage intégré.

Contribution au test des circuits mixtes

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Book Synopsis Contribution au test des circuits mixtes by : Pascal Caunègre

Download or read book Contribution au test des circuits mixtes written by Pascal Caunègre and published by . This book was released on 1996 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES RECHERCHES PRESENTES DANS CETTE THESE CONTRIBUENT AU TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES OU MIXTES PAR L'ETUDE DES MODELES DE FAUTES ET PAR LA REALISATION D'OUTILS DE SIMULATION DE FAUTES. LES DEFAUTS PHYSIQUES SURVENANT LORS DE LA FABRICATION DES CIRCUITS SONT INVENTORIES. DIFFERENTS MODELES ET TECHNIQUES D'INJECTION DE FAUTES PERMETTANT DE SIMULER CES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS ANALOGIQUES SONT ENVISAGES ET EVALUES A L'AIDE DE CIRCUITS A BASE DE TRANSISTORS MOS OU BIPOLAIRES. L'EFFET CES DEFAUTS SUR UNE CELLULE LOGIQUE EST ANALYSE ET L'ADEQUATION DE MODELES DE FAUTES LOGIQUES EXISTANTS EST ETUDIEE. DE NOUVEAUX MODELES SONT INTRODUITS ET LA CONSTRUCTION D'UN CATALOGUE DE MODELES DE FAUTES EST PROPOSEE. LES COURT-CIRCUITS INTERVENANT ENTRE LES SIGNAUX ISSUS DE DEUX CELLULES LOGIQUES SONT TRAITES PAR UNE METHODE FAISANT INTERVENIR UN SIMULATEUR MIXTE ET DES MODELES COMPORTEMENTAUX DE CELLULE LOGIQUES. CETTE ETUDE EST EGALEMENT ETENDUE AUX COURT-CIRCUITS DANS LES CIRCUITS MIXTES. DES MODELES COMPORTEMENTAUX DE SYSTEMES DE TEST ANALOGIQUE SONT REALISES ET PERMETTENT DE CONCEVOIR UN BANC DE TEST VIRTUEL AIDANT A L'ECRITURE DES VECTEURS DE TEST. DES OUTILS DE SIMULATION DE FAUTES POUR CIRCUITS ANALOGIQUES OU MIXTES SONT DEVELOPPES PERMETTANT DE MESURER LE TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES DU TEST ET DE SELECTIONNER LES VECTEURS DE TEST. L'ANALYSE DE LA SENSIBILITE DES MESURES AUX PARAMETRES DU CIRCUIT EST AUSSI MISE A PROFIT POUR CALCULER LE TAUX DE COUVERTURE DES FAUTES PARAMETRIQUES POUR DES CIRCUITS LINEAIRES

Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes

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Book Synopsis Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes by : François Lémery

Download or read book Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes written by François Lémery and published by . This book was released on 1995 with total page 284 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: POUR POUVOIR INTEGRER SUR UNE SEULE PUCE DES SYSTEMES TOUJOURS PLUS COMPLEXES COMPORTANT A LA FOIS DES FONCTIONS NUMERIQUES ET ANALOGIQUES, L'UTILISATION D'UNE METHODOLOGIE DE CONCEPTION HIERARCHIQUE EST INDISPENSABLE. BASEE SUR LA MODELISATION COMPORTEMENTALE DE CHAQUE ELEMENT DU CIRCUIT, AVANT TOUT CHOIX D'ARCHITECTURE, UNE TELLE APPROCHE PERMET EN EFFET DE REDUIRE LES TEMPS DE SIMULATION, DE CONCEPTION ET D'AMELIORER LA FIABILITE. APPLIQUE AVEC SUCCES DANS LE DOMAINE DIGITAL, CE PARADIGME DOIT MAINTENANT ETRE ETENDU A L'ANALOGIQUE. CELA EST AUJOURD'HUI POSSIBLE GRACE A L'OFFRE RECENTE DE PUISSANTS LANGAGES DE MODELISATION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE ET MIXTE. CETTE THESE A PERMIS D'INTRODUIRE L'UTILISATION DE CES LANGAGES AU SEIN DE LA COMMUNAUTE DES CONCEPTEURS, PAR LE DEVELOPPEMENT D'UN ENVIRONNEMENT CAO D'AIDE A LA CONCEPTION DE MODELES ANALOGIQUES ET MIXTES. IL EST BASE SUR UNE BIBLIOTHEQUE FONCTIONNELLE ADAPTEE A LA MODELISATION DE CIRCUITS ELEMENTAIRES (AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS) MAIS AUSSI DE SYSTEMES TRES COMPLEXES, TELS QU'UN SYSTEME DE SECURITE AIR-BAG. PLUSIEURS TECHNIQUES DE DESCRIPTION ONT ETE ABORDEES: MACRO-MODELISATION SPICE ET MODELISATION COMPORTEMENTALE A L'AIDE DE PLUSIEURS LANGAGES DONT LES PROPRIETES ONT ETE COMPAREES (FAS, CFAS, HDL-A ET MAST). CET ENVIRONNEMENT COMPORTE AUSSI UN OUTIL DE CARACTERISATION ANALOGIQUE QUI PERMET DE GENERER RAPIDEMENT LES PARAMETRES DES MODELES EN FONCTION DE MESURES DES PERFORMANCES DU CIRCUIT ASSOCIE, PAR DES SIMULATIONS ELECTRIQUES. EN OUTRE, POUR FACILITER LES ECHANGES DE MODELES ET TRANSFERER DES BIBLIOTHEQUES VERS DES LANGAGES DIFFERENTS, DES TRADUCTEURS AUTOMATIQUES ONT DU ETRE ELABORES, TELS QUE FAS VERS CFAS, FAS VERS MAST ET FAS VERS HDL-A

Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes

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Book Synopsis Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes by : François Lémery

Download or read book Modélisation comportementale des circuits analogiques et mixtes written by François Lémery and published by . This book was released on 2005 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Pour pouvoir integrer sur une seule puce des systemes toujours plus complexes comportant a la fois des fonctions numeriques et analogiques, l'utilisation d'une methodologie de conception hierarchique est indispensable. Basee sur la modelisation comportementale de chaque element du circuit, avant tout choix d'architecture, une telle approche permet en effet de reduire les temps de simulation, de conception et d'ameliorer la fiabilite. Applique avec succes dans le domaine digital, ce paradigme doit maintenant etre etendu a l'analogique. Cela est aujourd'hui possible grace a l'offre recente de puissants langages de modelisation comportementale analogique et mixte. Cette these a permis d'introduire l'utilisation de ces langages au sein de la communaute des concepteurs, par le developpement d'un environnement cao d'aide a la conception de modeles analogiques et mixtes. Il est base sur une bibliotheque fonctionnelle adaptee a la modelisation de circuits elementaires (amplificateurs operationnels) mais aussi de systemes tres complexes, tels qu'un systeme de securite air-bag. Plusieurs techniques de description ont ete abordees: macro-modelisation spice et modelisation comportementale a l'aide de plusieurs langages dont les proprietes ont ete comparees (fas, cfas, hdl-a et mast). Cet environnement comporte aussi un outil de caracterisation analogique qui permet de generer rapidement les parametres des modeles en fonction de mesures des performances du circuit associe, par des simulations electriques. En outre, pour faciliter les echanges de modeles et transferer des bibliotheques vers des langages differents, des traducteurs automatiques ont du etre elabores, tels que fas vers cfas, fas vers mast et fas vers hdl-a.

Techniques de BIST pour le test en ligne

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Book Synopsis Techniques de BIST pour le test en ligne by : Olivier Potin

Download or read book Techniques de BIST pour le test en ligne written by Olivier Potin and published by . This book was released on 1999 with total page 340 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DANS LES SYSTEMES ELECTRONIQUES ACTUELS, UNE PART IMPORTANTE DE LA CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES EST DEDIEE AU TEST DE CES CIRCUITS. D'UNE MANIERE GENERALE, ON DISTINGUE DEUX TECHNIQUES DE TEST. L'UNE, DITE HORS LIGNE, S'APPLIQUE PENDANT L'INACTIVITE DU CIRCUIT. L'AUTRE, DITE EN LIGNE, PERMET DE VERIFIER LE COMPORTEMENT DU CIRCUIT PENDANT SON FONCTIONNEMENT. OR L'APPLICATION DE CES DEUX TECHNIQUES A LONGTEMPS ETE CONSIDEREE DE MANIERE DISTINCTE SANS CONSIDERATION DE LEUR POSSIBLE INTERACTION. LA COMBINAISON DE CES DEUX TECHNIQUES AUGMENTE CEPENDANT L'EFFICACITE DU TEST EN TERME DE DETECTION DE FAUTES, DE TEMPS DE TEST, DE DIAGNOSTIQUE DURANT LE PREMIER CHAPITRE, L'AUTEUR DEGAGE LES PRINCIPALES METHODES EXISTANTES POUR LE TEST DES CIRCUITS NUMERIQUES ET ANALOGIQUES POUR LES TESTS HORS LIGNE ET EN LIGNE. IL MET EGALEMENT EN EVIDENCE L'INTERET DE COMBINER LES DEUX TECHNIQUES DE TEST. DANS LE SECOND CHAPITRE, UNE METHODE DEDIEE AUX CIRCUITS NUMERIQUES A BASE D'UNITES ARITHMETIQUES ET LOGIQUES EST PROPOSEE. ELLE PERMET A L'AIDE D'UN ADDITIONNEUR RECONFIGURABLE DE COMBINER LES RESSOURCES DU TEST EN LIGNE ET DU TEST HORS LIGNE. CETTE STRUCTURE MONTRE L'EFFICACITE DE LA COMBINAISON DES DEUX TECHNIQUES EN TERME DE PROBABILITE DE MASQUAGE DE FAUTES LORS DU TEST HORS LIGNE ET DE DIMINUTION DU COUT EN SURFACE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AUX DEVELOPPEMENTS DE METHODES DE TEST POUR LES FILTRES ANALOGIQUES LINEAIRES. DANS UN PREMIER TEMPS, CES METHODES TIRENT PARTI DE LA BANDE DE TOLERANCE INTRINSEQUE DU FILTRE ANALOGIQUE. CETTE BANDE DE TOLERANCE PERMET ALORS DE CALCULER UN FILTRE NUMERIQUE CAPABLE DE TESTER EN LIGNE LES VARIATIONS PARAMETRIQUES ET LES FAUTES CATASTROPHIQUES. DANS UN SECOND TEMPS, LES RESSOURCES DU FILTRE NUMERIQUE SONT UTILISEES AFIN DE TESTER EN MODE HORS LIGNE LE FILTRE ANALOGIQUE. L'AUTEUR MET AINSI EN EVIDENCE L'EFFICACITE EN TERME DE TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES DE LA COMBINAISON DES TESTS EN LIGNE ET HORS LIGNE.

Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie

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Book Synopsis Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie by : Corinne Daujan

Download or read book Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie written by Corinne Daujan and published by . This book was released on 1997 with total page 158 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.

Contribution au test et diagnostic des circuits analogiques par des approches basées sur des techniques neuronales

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Book Synopsis Contribution au test et diagnostic des circuits analogiques par des approches basées sur des techniques neuronales by : Amar Bengharbi

Download or read book Contribution au test et diagnostic des circuits analogiques par des approches basées sur des techniques neuronales written by Amar Bengharbi and published by . This book was released on 1997 with total page 296 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC A TOUJOURS ETE UN THEME DE RECHERCHE ET DE DEVELOPPEMENT IMPORTANT DANS LE DOMAINE DE L'ELECTRONIQUE. EN EFFET, LE TEST A UNE PLACE ESSENTIELLE DANS LA FABRICATION ET LA MAINTENANCE DES CIRCUITS ELECTRONIQUES. ALORS QUE LE TEST DES CIRCUITS NUMERIQUES A FAIT L'OBJET DE NOMBREUSES ETUDES, QUI ONT PERMIS LA MISE AU POINT DE DIFFERENTES METHODES, LE TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES (ANALOGIQUE/DIGITALE) N'A PAS CONNU CE MEME ESSOR. A L'HEURE ACTUELLE, ON RECENSE QUELQUES TRAVAUX SUR LE PROBLEME DU TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CEPENDANT, LA MAJORITE DES METHODES PROPOSEES PRESENTENT DES LIMITATIONS ET DES DIFFICULTES DE MISE EN OEUVRE LIEES AU PROBLEME DE LA TOLERANCE, LA MODELISATION ET LA NON-LINEARITE DES COMPOSANTS. CE TRAVAIL PRESENTE, D'UNE PART, UNE APPLICATION DES METHODES D'IDENTIFICATION AU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ELECTRONIQUES ANALOGIQUES ET D'AUTRE PART, UNE ETUDE D'APPROCHES NEURONALES POUR LE TEST ET DIAGNOSTIC DE CES DERNIERS. DANS UN PREMIER TEMPS, UNE ETUDE THEORIQUE DES METHODES D'IDENTIFICATION CLASSIQUE EST EXPOSEE. NOUS AVONS EXAMINE LES DIFFERENTS CHOIX POUR ADAPTER CES METHODES AU PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. A TRAVERS DES EXEMPLES DE SIMULATION SUR DES CIRCUITS LINEAIRES, NOUS AVONS VALIDE CES APPROCHES. COMPTE TENU DES LIMITATIONS CONSTATEES SUR CES METHODES, NOUS AVONS PROPOSE D'ETUDIER DES APPROCHES BASEES SUR LES RESEAUX DE NEURONES AFIN DE CONTOURNER CES LIMITATIONS. UNE BREVE ETUDE THEORIQUE DES RESEAUX DE NEURONES ET DE CERTAINS MODELES NEURONAUX A ETE EXPOSEE. A LA SUITE DE CETTE ETUDE, NOUS AVONS PROPOSE PLUSIEURS APPROCHES UTILISANT CES TECHNIQUES (RESEAUX DE NEURONES : BACKPROPAGATION, LVQ, RBF, SYSTEMES MULTI-RESEAUX) POUR L'IDENTIFICATION ET LA CLASSIFICATION EN VUE DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CES APPROCHES ONT ETE VALIDEES PAR SIMULATION ET EXPERIMENTATION POUR DES SIMPLE ET DOUBLE-DEFAUTS. LES AVANTAGES DES APPROCHES NEURONALES PROPOSEES DANS CE TRAVAIL SONT : LA DISPENSE DE LA MODELISATION MATHEMATIQUE DU CIRCUIT, LA DIMINUTION DU NOMBRE DE POINTS DE TEST, LA POSSIBILITE D'APPLICATION DE TELLES TECHNIQUES A LA FOIS A DES CIRCUITS LINEAIRES ET NON-LINEAIRES.

Technique d’auto test pour des convertisseurs de signal Sigma-Delta

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Book Synopsis Technique d’auto test pour des convertisseurs de signal Sigma-Delta by : Luis Rolindez

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OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE

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Book Synopsis OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE by : ARNAUD.. RIAUDEL

Download or read book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE written by ARNAUD.. RIAUDEL and published by . This book was released on 1995 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE S'INSERE DANS LE CADRE DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES UTILISES DANS LE DOMAINE DES TELECOMMUNICATIONS. LE HAUT DEGRE DE FIABILITE EXIGE POUR LEUR FONCTIONNEMENT ENTRAINE UNE EVOLUTION DES METHODES DE TEST VERS UNE EFFICACITE PLUS GRANDE. LES TRAVAUX MENES ONT POUR BUT DE DEFINIR UNE METHODOLOGIE DE TEST PERMETTANT D'OPTIMISER ET DE SIMPLIFIER LE DEVELOPPEMENT DES PROGRAMMES DE TEST POUR LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE COMPLEXES ET SPECIFIQUES AU RESEAU DE TELECOMMUNICATIONS. DANS UNE PREMIERE PARTIE, NOUS PRESENTONS UN CIRCUIT INTEGRE MIXTE ANALOGIQUE-NUMERIQUE-L'INTERFACE U CODE 2B/1Q-. NOUS FAISONS L'ETAT DE L'ART DES DIFFERENTES TECHNIQUES DE TESTABILITE ET MONTRONS QU'UNE ASSOCIATION COHERENTE DES METHODES DE TEST DOIT ACCROITRE L'ASSURANCE DE LA CONFORMITE DU COMPOSANT AUX SPECIFICATIONS. LA SECONDE PARTIE PRESENTE LE TRAVAIL QUI A ETE MENE POUR TESTER LA CONFORMITE DE L'INTERFACE U AUX SPECIFICATIONS FONCTIONNELLES ET PARAMETRIQUES. NOUS PROPOSONS UNE METHODOLOGIE DE TEST BASEE SUR L'UTILISATION D'INSTRUMENTATION ANALOGIQUE COUPLEE A UN TESTEUR NUMERIQUE POUR TESTER LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES DE L'INTERFACE U

Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes

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Book Synopsis Conception en vue du test pour circuits integres analogiques et mixtes by : Florence Azais

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Test integre autonome des circuits analogiques et mixtes

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Book Synopsis Test integre autonome des circuits analogiques et mixtes by : Hassan Ihs

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Placement et routage de circuits mixtes analogiques-numériques CMOS

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Book Synopsis Placement et routage de circuits mixtes analogiques-numériques CMOS by : Eric Lao

Download or read book Placement et routage de circuits mixtes analogiques-numériques CMOS written by Eric Lao and published by . This book was released on 2018 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Avec l'évolution des procédés technologiques d'intégration, le traitement numérique devient de plus en plus rapide tout en coûtant moins en surface et en consommation d'énergie. La diminution des dimensions est effectuée au détriment de la précision des blocs analogiques. L'idée est de bénéficier des performances offertes par les circuits numériques pour relâcher les spécifications des blocs analogiques et gagner ainsi globalement en surface et consommation. Or les concepteurs de circuits mixtes analogiques-numériques sont confrontés à une situation où ils doivent choisir entre un flot purement analogique et un flot purement numérique, chacun des deux ignorant l'autre. Cette thèse propose un flot de conception mixte du dessin des masques en unifiant le flot de conception numérique et analogique Dans une phase de placement, le concepteur est amené à décrire un placement relatif de son circuit sous la forme d'un script permettant à notre outil de générer un ensemble de placements valides. Par la suite, une phase de routage global détermine de manière grossière les chemins les plus courts permettant de joindre les connecteurs de chaque net. Ces chemins prennent en compte diverses contraintes du circuit telles que des obstacles ou des contraintes de symétrie. Une phase de routage détaillé vient ensuite compléter la construction et la résolution des problèmes de superposition des fils de routage. Notre flot de conception est appliqué à plusieurs circuits analogiques et mixtes de tailles différentes. Notre approche a pour objectif de donner du contrôle aux concepteurs tout au long de la conception du dessin des masques.