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Generation De Test De Circuits Integres Fondee Sur Des Modeles Fonctionnels
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Book Synopsis Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels (Generation of integrated circuits founded on functional models) by : M. Karam
Download or read book Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels (Generation of integrated circuits founded on functional models) written by M. Karam and published by . This book was released on 1991 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels by : Margot Karam
Download or read book Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels written by Margot Karam and published by . This book was released on 1991 with total page 338 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE CONCERNE L'UTILISATION DE MODELES FONCTIONNELS DANS LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES. DANS LA PREMIERE PARTIE, DES VECTEURS DE TEST SONT GENERES POUR LES AUTOMATES D'ETATS FINIS A PARTIR DE LEURS SPECIFICATIONS DE SYNTHESE. UN PREMIER ENSEMBLE DE VECTEURS DE TEST EST CALCULE EN PARCOURANT TOUS LES ARCS DU GRAPHE DE CONTROLE. LES VALEURS D'ENTREES NON SPECIFIEES SUR LES TRANSITIONS SONT FIXEES AFIN D'ACCROITRE LA COUVERTURE. IL EST MONTRE QUE CE TEST A UNE EXCELLENTE COUVERTURE PAR RAPPORT A SA LONGUEUR. LES FAUTES RESIDUELLES SONT DETECTEES PAR UNE METHODE DE DISTINCTION SUR LES MODELES MACHINE JUSTE MACHINE FAUSSE. LA DEUXIEME PARTIE EST CONSACREE AU TEST HIERARCHISE DE CIRCUITS COMPLEXES. LES VECTEURS DE TEST LOCAUX AUX BLOCS SONT JUSTIFIES VERS LES ENTREES PRIMAIRES ET PROPAGES EN AVANT VERS LES SORTIES PRIMAIRES EN UTILISANT DES VARIABLES SYMBOLIQUES ET DES MODELES FONCTIONNELS POUR LES BLOCS TRAVERSES. DES TECHNIQUES ORIGINALE DE PROPAGATION RETARDEE PERMETTENT DE RESTREINDRE LE NOMBRE D'ECHECS DES PROPAGATIONS. UN PROTOTYPE EN PROLOG A ETE EXPERIMENTE
Book Synopsis Scientific and Technical Aerospace Reports by :
Download or read book Scientific and Technical Aerospace Reports written by and published by . This book was released on 1993 with total page 1018 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL by : Ghassan Al-Hayek
Download or read book Vers une approche unifiée pour la validation et le test de circuits intégrés spécifiés en VHDL written by Ghassan Al-Hayek and published by . This book was released on 1999 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE A POUR OBJECTIF D'ELABORER UNE APPROCHE UNIFIEE POUR LA VALIDATION ET LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES SPECIFIES AU NIVEAU FONCTIONNEL. DEUX MOTIVATIONS PRINCIPALES SONT A LA BASE DE CE TRAVAIL. D'UN COTE, LA COMPLEXITE CROISSANTE DES CIRCUITS D'ECHELLE TRES LARGE D'INTEGRATION (VLSI) REND LA GENERATION DES TESTS EN SE BASANT SUR DES MODELES DE FAUTES DE BAS NIVEAU (PAR EXEMPLE, LE NIVEAU LOGIQUE) TRES COUTEUSE. D'UN AUTRE COTE, LES PROGRES IMPORTANTS ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE LA CONCEPTION ASSISTEE PAR ORDINATEUR (CAO) PERMETTENT ACTUELLEMENT DE SPECIFIER LES CIRCUITS AU NIVEAU FONCTIONNEL EN UTILISANT DES LANGAGES DEDIES TRES EVOLUES (PAR EXEMPLE, VHDL). L'APPROCHE PROPOSEE SE DEMARQUE DES METHODES DE GENERATION TRADITIONNELLES PUISQU'ELLE CONSIDERE QUE LES FAUTES ADAPTEES AU NIVEAU FONCTIONNEL SONT DES FAUTES LOGICIELLES. AINSI, CETTE THESE DEMONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION, JUSQU'A PRESENT APPLIQUE UNIQUEMENT AU LOGICIEL, EST EGALEMENT EFFICACE AU NIVEAU MATERIEL. AU NIVEAU FONCTIONNEL, LE TEST PAR MUTATION CONSTITUE UNE METHODE DE VALIDATION EFFICACE ET SYSTEMATIQUE POUR DETECTER LES FAUTES DE CONCEPTION. IL GARANTIT UN ENSEMBLE DE CRITERES STANDARDS (PAR EXEMPLE, LA NORME IEEE-1008) TELS QUE LA COUVERTURE D'INSTRUCTIONS, DE BRANCHES, DE PREDICATS ET DE VALEURS EXTREMES. AU NIVEAU LOGIQUE, IL A ETE MONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION (AVEC UNE BONNE ADAPTATION AU MATERIEL) EST EGALEMENT EFFICACE POUR DETECTER LES FAUTES MATERIEL. SUR UN ENSEMBLE DE CIRCUITS REPRESENTATIFS (COMBINATOIRES ET SEQUENTIELS), UNE COUVERTURE SUPERIEURE A 99% (EN MOYENNE) A ETE ASSURE SUR LES FAUTES LOGIQUES DE COLLAGE. AINSI, LE TEST PAR MUTATION PEUT ETRE A LA BASE D'UNE SOLUTION UNIQUE POUR TESTER LES CIRCUITS ELECTRONIQUES TOUT AU LONG DE LA CYCLE DE CONCEPTION.
Book Synopsis Government Reports Annual Index by :
Download or read book Government Reports Annual Index written by and published by . This book was released on 1993 with total page 1300 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Test des circuits intégrés numériques by :
Download or read book Test des circuits intégrés numériques written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 14 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES by : Marc Laffitte
Download or read book DE L'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST POUR DES CIRCUITS INTEGRES written by Marc Laffitte and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA COMPLEXITE DES CIRCUITS INTEGRES S'ACCROIT SANS CESSE, RENDANT LEUR TEST TOUJOURS PLUS DIFFICILE. DES CONSEQUENCES DIRECTES SONT DES TEMPS DE GENERATION DES VECTEURS DE TEST PLUS LONG, UN NOMBRE DE METHODES DE TEST POSSIBLES CROISSANT, ETC.; MAIS AUSSI LE CARACTERE HETEROGENE DES CIRCUITS OU PEUVENT SE COTOYER DES BLOCS DE NATURE DIFFERENTE (MEMOIRES, LOGIQUE ALEATOIRE, ETC.). IL FAUT DONC RECOURIR A PLUSIEURS METHODES DE TEST, C'EST-A-DIRE A UN TEST HIERARCHISE. CECI IMPLIQUE LA DEFINITION DE STRATEGIES DE TESTS SPECIFIQUES A CHAQUE CIRCUIT. LE BUT DU TRAVAIL PRESENTE EST DONC DE DECRIRE FORMELLEMENT L'ACTIVITE D'ELABORATION DE STRATEGIES DE TEST. UNE CLASSIFICATION DES METHODES DE TEST SERT DE BASE DE DONNEES A UN MODELE DE STRATEGIES DE TEST PROPOSE. GRACE AUX NOUVEAUX CONCEPTS D'UNITE D'INFORMATION POUR LE TEST ET DE PROPRIETE DE TRANSPORT, CE MODELE OFFRE POUR LA PREMIERE FOIS UN CADRE GENERAL, NON RESTRICTIF, DANS L'ELABORATION D'UNE STRATEGIE OPTIMALE POUR UN CIRCUIT DONNE. IL PERMET LA RECHERCHE DE NOUVELLES METHODES DE PLANIFICATION POUR L'ELABORATION DES STRATEGIES. ENFIN, IL A PERMIS LA REALISATION D'UN PREMIER PROTOTYPE DE SYSTEME A BASE DE CONNAISSANCES, NOMME ITSELF, QUI PERMET A L'UTILISATEUR D'EXPLORER TOUTES LES STRATEGIES POSSIBLES POUR SES CIRCUITS
Book Synopsis Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes by : Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
Download or read book Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes written by Mohamed Abid (professeur d'électronique).) and published by . This book was released on 1989 with total page 233 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES
Book Synopsis Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux by : Eric Archambeau
Download or read book Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux written by Eric Archambeau and published by . This book was released on 1985 with total page 239 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant deux types différents d'hypothèses de pannes sont présentées: une méthode heuristique de génération de vecteurs (partie II) et une méthode de test pseudo-exhaustif (partie III)
Book Synopsis Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes by : Catherine Bellon
Download or read book Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes written by Catherine Bellon and published by . This book was released on 1984 with total page 253 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une approche fonctionnelle du test est nécessaire pour les circuits intégrés complexes. Dans une première partie, on propose une génération multi-niveaux des séquences de test, en partant de l'ensemble des activations fonctionnelles du circuit, tout en prenant en compte la structure fine des modules composant le circuit. Les méthodes proposées s'apparentent aux méthodes de test de logiciel et aux méthodes d'identification d'automates. Dans une deuxième partie, le test fonctionnel «usager» de microprocesseurs est étudié; on propose une méthode de test originale, qui prend en compte les signaux d'entrée asynchrones, et qui permet la génération automatique des programmes de test. Le testeur spécialisé et le système de génération des programmes de test sont présentés
Book Synopsis Government Reports Announcements & Index by :
Download or read book Government Reports Announcements & Index written by and published by . This book was released on 1993 with total page 658 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Test des circuits intégrés numériques - Notions de base. Génération de vecteurs by : Leveugle
Download or read book Test des circuits intégrés numériques - Notions de base. Génération de vecteurs written by Leveugle and published by . This book was released on with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Mini and Microcomputers and Their Applications - Mimi, 1987 by : M. H. Hamza
Download or read book Mini and Microcomputers and Their Applications - Mimi, 1987 written by M. H. Hamza and published by Anaheim [Calif.] ; Calgary : Acta Press. This book was released on 1987 with total page 210 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Conception de circuits à large échelle d'intégration facilement testables by : Jacques Galiay
Download or read book Conception de circuits à large échelle d'intégration facilement testables written by Jacques Galiay and published by . This book was released on 1978 with total page 151 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La présente étude concerne le test fonctionnel hors ligne de circuits intégrés a grande échelle. Etude des défauts pouvant affecter un circuit intégré afin de déterminer des hypothèses de panne suffisantes pour le test des circuits a large achelle d'intagration. Description et évaluation des principales techniques existantes visant a l'amelioration de la testabilité. méthode de génération de séquences de tests permettant de prendre en compte les courts-circuits et les coupures de connexion du circuit étudié. Présentation d'un certain nombre de règles de conception permettant d'améliorer la testabilité des circuits par action au niveau de l'implantation. techniques de conception permettant d'améliorer l'observabilité et la commandabilité des divers blocs constituant le circuit
Book Synopsis UNE METHODE DE TEST DES CIRCUITS INTEGRES, BASEE SUR UN DECOUPAGE STRUCTUREL PEU RECOUVRANT by : OLIVIER.. FLORENT
Download or read book UNE METHODE DE TEST DES CIRCUITS INTEGRES, BASEE SUR UN DECOUPAGE STRUCTUREL PEU RECOUVRANT written by OLIVIER.. FLORENT and published by . This book was released on 1998 with total page 121 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: NOUS NOUS PLACONS DANS LE CADRE D'UN CIRCUIT POSSEDANT DEJA DES STRUCTURES DE TEST. NOUS AVONS OBSERVE QUE LES CIRCUITS INTEGRES D'AUJOURD'HUI POSSEDENT TOUS DES CHEMINS DE SCAN-PATH, CERTAINS UTILISENT LE TEST INTEGRE OU DES MACRO-CELLULES, ET LA PLUPART ONT UNE ARCHITECTURE BOUNDARY-SCAN. DANS CES CIRCUITS, L'UTILISATION DE BLOCS ISSUS DE BIBLIOTHEQUES OU DE FABRICANTS DIFFERENTS, OU ENCORE LA REUTILISATION DE COMPOSANTS, NE PERMET PAS DE MAITRISER L'IMPLANTATION DES STRUCTURES DE TEST. NOUS PROPOSONS D'EFFECTUER UN DECOUPAGE DU CIRCUIT AUTOUR DE SES STRUCTURES DE TEST EN UNITES TESTABLES INDEPENDANTES DE COMPLEXITE RAISONNABLE VIS A VIS DES OUTILS DE GENERATION DE VECTEURS DE TEST. NOUS EFFECTUONS UNE IDENTIFICATION AUTOMATIQUE DES POINTS OBSERVABLES ET CONTROLABLES DANS LA REPRESENTATION STRUCTURELLE DU CIRCUIT A L'AIDE DE SIMULATIONS. PUIS NOUS DECOUPONS LE CIRCUIT EN UNITES TESTABLES. PUISQUE NOUS NE MAITRISONS PAS L'EMPLACEMENT DES POINTS OBSERVABLES ET CONTROLABLES DU CIRCUIT, CES UNITES TESTABLES PEUVENT ETRE RECOUVRANTES. NOUS ESSAYONS DE RENDRE LE DECOUPAGE LE MOINS RECOUVRANT POSSIBLE. NOUS N'INCLUONS PAS DANS CES UNITES TESTABLES LES PORTES VENANT DE L'ARCHITECTURE BOUNDARY-SCAN, NI LES BLOCS INCLUANT LEUR PROPRE MECANISME DE TEST. LES UNITES TESTABLES ETANT INDEPENDANTES, NOUS POUVONS DISTRIBUER LA GENERATION SUR UN RESEAU DE STATIONS DE TRAVAIL. NOUS PROPOSONS UNE TECHNIQUE D'ASSEMBLAGE DES VECTEURS DE TEST ET DES DICTIONNAIRES DE FAUTES ISSUS DE LA GENERATION, AFIN D'OBTENIR UNE SEQUENCE UNIQUE ET UN DICTIONNAIRE UNIQUE POUR L'ENSEMBLE DU CIRCUIT, SANS EFFECTUER UNE SIMULATION DE FAUTES GLOBALE. NOUS PARALLELISONS LES VECTEURS ISSUS D'UNITES TESTABLES NON-RECOUVRANTES AINSI QUE CEUX ISSUS D'UNITES TESTABLES PEU RECOUVRANTES. NOUS AVONS REALISE UN PROTOTYPE LOGICIEL S'APPUYANT SUR LA CHAINE ALLIANCE ET SUR LE GENERATEUR DE VECTEURS DE TEST COMMERCIAL HITEST. CE PROTOTYPE NOUS A PERMIS DE CONFRONTER NOTRE METHODE A DES CIRCUITS REELS.
Book Synopsis Test et test intégré de pannes temporelles by : Véronique Moreda
Download or read book Test et test intégré de pannes temporelles written by Véronique Moreda and published by . This book was released on 1998 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: AVEC L'EVOLUTION DE LA COMPLEXITE ET DES PERFORMANCES DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES, LE TEST DE CES CIRCUITS DEVIENT DE PLUS EN PLUS DIFFICILE. UNE DES SOLUTIONS ACTUELLEMENT ENVISAGEE POUR PALLIER CE PROBLEME CONSISTE A INTEGRER SUR LE CIRCUIT UNE STRUCTURE DE TEST, C'EST-A-DIRE, UN GENERATEUR DE VECTEURS DE TEST ET UN ANALYSEUR DE SIGNATURE. DANS LE CADRE DE CETTE THESE, NOUS NOUS SOMMES PLUS PARTICULIEREMENT INTERESSES AUX STRUCTURES DE GENERATION DE VECTEURS DE TEST INTEGREES. UN CERTAIN NOMBRE DE STRUCTURES ONT ETE DEVELOPPEES SPECIFIQUEMENT POUR GENERER LES VECTEURS DE TEST DE MANIERE INTERNE. TOUTEFOIS, PEU D'ENTRE ELLES ONT ETE REALISEES EN CONSIDERANT LES SPECIFICITES DES PANNES TEMPORELLES, LEUR EFFICACITE AYANT EN EFFET ETE ANALYSEE SURTOUT PAR RAPPORT AU MODELE DE PANNES DE COLLAGE. LE BUT DE CETTE THESE EST DE CONCEVOIR UNE STRUCTURE DE GENERATION INTEGREE PERMETTANT DE TESTER LES PANNES TEMPORELLES. APRES AVOIR PRESENTE TOUTES LES NOTIONS FONDAMENTALES SUR LES PANNES TEMPORELLES, NOUS AVONS ENSUITE ABORDE LE PROBLEME DE GENERATION INTEGREE DE VECTEURS DANS LE CADRE DU TEST DE PANNES TEMPORELLES. COMPTE TENU DE LA DIFFICULTE A PRODUIRE DES PAIRES DE VECTEURS DE TEST EFFICACES, NOUS AVONS PROPOSE UNE NOUVELLE ARCHITECTURE DE GENERATION DE VECTEURS DEDIEE A LA DETECTION DE PANNES TEMPORELLES DANS LES CIRCUITS COMBINATOIRES. NOUS AVONS ENSUITE ADAPTE CETTE SOLUTION AU TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS DANS UN ENVIRONNEMENT SCAN. L'ANALYSE DES RESULTATS A MONTRE L'INTERET DES STRUCTURES PROPOSEES PAR RAPPORT AUX AUTRES METHODES, AUSSI BIEN EN TERMES DE SURFACE D'IMPLANTATION QUE DE TEMPS DE TEST.
Book Synopsis CENELEC 50128 and IEC 62279 Standards by : Jean-Louis Boulanger
Download or read book CENELEC 50128 and IEC 62279 Standards written by Jean-Louis Boulanger and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2015-03-24 with total page 376 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CENELEC EN 50128 and IEC 62279 standards are applicable to the performance of software in the railway sector. The 2011 version of the 50128 standard firms up the techniques and methods to be implemented. This is a guide to its implementation, in order to understand the foundations of the standard and how it impacts on the activities to be undertaken, helping towards better a preparation for the independent evaluation phase, which is mandatory.
