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Mesures De Deformations Dans Des Dispositifs De La Microelectronique Par Microscopie Electronique En Transmission En Haute Resolution Et Holographie En Champ Sombre
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Book Synopsis Mesures de déformations dans des dispositifs de la microélectronique par microscopie électronique en transmission en haute résolution et holographie en champ sombre by : Florian Hüe
Download or read book Mesures de déformations dans des dispositifs de la microélectronique par microscopie électronique en transmission en haute résolution et holographie en champ sombre written by Florian Hüe and published by . This book was released on 2008 with total page 162 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les matériaux cristallins sous contrainte font aujourd'hui partie intégrante des dispositifs de la microélectronique car ils offrent une amélioration considérable de la mobilité des porteurs dans les zones actives. Dans un premier temps, nous avons développé l'analyse de phases géométriques (GPA) d'images en haute résolution (HREM), en étudiant des couches minces de silicium en contrainte biaxiale sur des pseudo-substrats de SiGe. Les résultats obtenus pour différentes gammes de Si1-xGex et différentes épaisseurs de films minces, comparés à des simulations par éléments finis (FEM), ont permis d'optimiser cette méthode. La précision sur la mesure des déformations atteint 0,2% et le champ de vue 200 nm x 200 nm. Mesures expérimentales et simulations FEM ont également permis de quantifier l'effet de relaxation des lames minces de microscopie. L'étude d'un système plus complexe, un p-MOSFET, a montré la possibilité de cartographier pour la première fois les champs de déformations en deux dimensions avec une résolution spatiale pouvant atteindre 2 nm. Cette thèse présente également, dans un second temps, une nouvelle méthode développée au sein du CEMES-CNRS : l'holographie en champ sombre. Cette technique, nécessitant un canon à émission de champ et un biprisme électrostatique, permet de réaliser des franges d'interférences, entre une onde diffractée par un réseau cristallin parfait et une onde diffractée par un réseau déformé. Ainsi, il devient possible de cartographier les déformations sur un très large champ de vue (500 nm x 2 μm) avec une meilleure précision qu'en haute résolution : 0,02%.
Book Synopsis Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission by : Armand Béché
Download or read book Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission written by Armand Béché and published by . This book was released on 2009 with total page 188 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maîtrise des phénomènes de déformation à une telle échelle. La demande de caractérisation se trouve donc en forte croissance, avec des contraintes de plus en plus forte en termes de résolution spatiale et de sensibilité en déformation. La mise au point et/ou l'amélioration de techniques repondant à ces critères est donc nécessaire. Le microscope électronique en transmission étant l'un des seuls instruments capables de mesurer quantitativement des déformations à l'échelle nanométrique, quatre différentes techniques liées à cet appareil ont été étudiées : la technique des moirés, la diffraction en faisceau convergent, la nanodiffraction et l'holographie en champ sombre. La disponibilité du microscope de dernière génération FEI Titan a permis d'obtenir des résultats marquants pour chacune de ces techniques. Les quatre techniques étudiées font l'objet d'une étude poussée sur leur résolution, leur sensibilité en déformation, leurs limites d'utilisation, leur mode d'acquisition et les contraintes qu'elles imposent dans la préparation d'échantillons. Ainsi, la technique des moirés possède une résolution de l'ordre de la vingtaine de nanomètre avec une sensibilité de 4.10^-4 mais nécessite des échantillons particuliers. La diffraction en faisceau convergent est la technique possédant la meilleure résolution spatiale (1 à 2 nm) combinée à une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Cependant, l'inhomogénéité du champ de déplacement dans l'épaisseur de l'échantillon, phénomène très présent dans les lames minces, rend cette méthode difficile à utiliser de façon courante. La nanodiffraction est probablement la technique la plus facile à mettre en place et s'applique à la plus grande partie des matériaux ou objets. Elle possède une résolution intéressante (jusqu'à 3 nm) mais une sensibilité en déformation limitée à 6.10^-4 dans le meilleur des cas. Pour finir, l'holographie en champ sombre, technique très récente, offre une bonne résolution (autour de 4 ou 5 nm) avec une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Ces quatre techniques sont comparées entre elles sur des échantillons le permettant.
Book Synopsis Etude Des Metaux par Microscopie Electronique En Transmission by :
Download or read book Etude Des Metaux par Microscopie Electronique En Transmission written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 13 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Développement et application d'une méthode à haute résolution angulaire pour la mesure des gradients d'orientation et des déformations élastiques par microscopie électronique à balayage by : Clément Ernould
Download or read book Développement et application d'une méthode à haute résolution angulaire pour la mesure des gradients d'orientation et des déformations élastiques par microscopie électronique à balayage written by Clément Ernould and published by . This book was released on 2020 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La compréhension des mécanismes de déformation dans les matériaux cristallins passe par la caractérisation fine des microstructures. Dans le cadre de la microscopie électronique à balayage, la mesure précise des gradients d'orientation et des déformations élastiques du cristal est l'objectif des méthodes dites à haute résolution angulaire. Pour cela, elles emploient des techniques de corrélation d'images numériques afin de recaler les clichés de diffraction électronique. Cette thèse propose une méthode de recalage originale. Le champ de déplacement à l'échelle du scintillateur est décrit par une homographie linéaire. Il s'agit d'une transformation géométrique largement utilisée en vision par ordinateur pour modéliser les projections. L'homographie entre deux clichés est mesurée à partir d'une grande et unique région d'intérêt en utilisant un algorithme de Gauss-Newton par composition inverse numériquement efficace. Une correction des distorsions optiques causées par les lentilles de la caméra lui est intégrée et sa convergence est assurée par un pré-recalage des clichés. Ce dernier repose sur des algorithmes de corrélation croisée globale basés sur les transformées de Fourier-Mellin et de Fourier. Il permet de rendre compte des rotations allant jusqu'à une dizaine de degrés avec une précision comprise typiquement entre 0,1 et 0,5°. La détermination de l'homographie est indépendante de la géométrie de projection. Cette dernière n'est considérée qu'à l'issue du recalage pour déduire analytiquement les rotations et les déformations élastiques. La méthode est validée numériquement sur des clichés simulés distordus optiquement, désorientés jusqu'à 14° et présentant des déformations élastiques équivalentes jusqu'à 5×10−2. Cette étude montre que la mesure précise de déformations élastiques comprises entre 1×10−4 et 2×10−3 nécessite de corriger la distorsion optique radiale, même lorsque la désorientation est faible. Finalement, la méthode est appliquée à des clichés acquis par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) et en transmission en utilisant la nouvelle configuration TKD on-axis (transmission Kikuchi diffraction). Des métaux polycristallins déformés plastiquement ainsi que des semi-conducteurs sont caractérisés. La méthode retranscrit des détails fins de la microstructure d'un acier martensitique trempé et revenu et d'un acier sans interstitiels déformé de 15% en traction, malgré la détérioration du contraste de diffraction induit par la déformation plastique. Les structures de déformation sont également analysées dans de l'aluminium nanostructuré obtenu par déformation plastique sévère grâce au couplage de la méthode de recalage et de la configuration TKD on-axis. Ce couplage permet d'atteindre simultanément une haute résolution spatiale (3 à 10 nm) et une haute résolution angulaire (0,01 à 0,05°). Des cartes de déformation élastiques sont obtenues à l'échelle de quelques nanomètres dans une lame mince de SiGe et les densités de dislocations dans un monocristal de GaN sont déterminées avec une résolution voisine de 2,5×10−3 μm−1 (soit 8×1012 m−2).
Book Synopsis Les techniques récentes en microscopie électronique et corpusculaire by : Centre national de la recherche scientifique
Download or read book Les techniques récentes en microscopie électronique et corpusculaire written by Centre national de la recherche scientifique and published by FeniXX. This book was released on 1956-01-01T00:00:00+01:00 with total page 422 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cet ouvrage est une réédition numérique d’un livre paru au XXe siècle, désormais indisponible dans son format d’origine.
Book Synopsis Microscopie Electronique a Haute Resolution by :
Download or read book Microscopie Electronique a Haute Resolution written by and published by . This book was released on with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Microscopie électronique à transmission en haute résolution numérique et quantitative by : Henri Souchay
Download or read book Microscopie électronique à transmission en haute résolution numérique et quantitative written by Henri Souchay and published by . This book was released on 1999 with total page 199 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Dans le contexte actuel de la microscopie à transmission quantitative a haute résolution, ce travail se propose de faire le lien entre les manipulations expérimentales et les analyses quantitatives auxquelles elles peuvent donner lieu. Pour y parvenir, trois éléments sont nécessaires : une théorie de la formation de l'image qui puisse donner lieu à des calculs numériques assez rapides ; un détecteur d'images électroniques performant ; et un outil logiciel permettant l'acquisition et le traitement des images, leur comparaison avec des simulations et les outils de base pour des reconstructions. Les principaux aspects de la formation d'image en haute résolution sont repris dans le premier chapitre, avec des rappels importants, et un calcul de l'image développe jusqu'aux effets non linéaires et la cohérence partielle pour des défauts cristallins. Dans le second chapitre, après un état de l'art des capteurs d'images électroniques, la propagation est décrite en détail, notamment les effets de l'étalement du signal sur sa variance. Le résultat montre que le bruit crée par la double scintillation était jusque-là sous-estime. Le développement d'une caméra, associe à ce travail, permet de présenter les méthodes de caractérisation de ce type de capteur, en insistant sur la distinction entre le transfert du bruit et du signal. Enfin, le dernier chapitre présente un cahier des charges pour le logiciel et explicite certains des algorithmes utilises, avant de proposer quelques applications : corrections du transfert dans la camera, alignement d'images, et application de la méthode des phases géométriques
Book Synopsis Théorie dynamique de la microscopie et diffraction électronique by : Pierre Haymann
Download or read book Théorie dynamique de la microscopie et diffraction électronique written by Pierre Haymann and published by Publication Univ Rouen Havre. This book was released on 1974 with total page 156 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécia¬lisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles.
Book Synopsis OPTICAL METHOD COUPLING HOLOGRAPHY AND NUMERICAL ANALYSIS OF GRATING FOR WHOLE-FIELD STRAIN MEASUREMENT APPLICATION TO FRACTURE MECHANICS by : Shi-Bin Wang
Download or read book OPTICAL METHOD COUPLING HOLOGRAPHY AND NUMERICAL ANALYSIS OF GRATING FOR WHOLE-FIELD STRAIN MEASUREMENT APPLICATION TO FRACTURE MECHANICS written by Shi-Bin Wang and published by . This book was released on 1994 with total page 138 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE METHODE OPTIQUE, COUPLANT L'HOLOGRAPHIE ET L'ANALYSE NUMERIQUE DE RESEAUX A ETE DEVELOPPEE POUR LA DETERMINATION DU TENSEUR DES DEFORMATIONS PLANES SUR TOUT UN CHAMP. LE FAISCEAU OBJET, DIFFRACTE PAR LE RESEAU SITUE SUR LA SURFACE DE L'EPROUVETTE EST ENREGISTRE SUR UNE PLAQUE A HAUTE RESOLUTION PAR HOLOGRAPHIE. A LA RESTITUTION, LES FAISCEAUX DIFFRACTES SONT RECONSTRUITS ET L'ANALYSE DU CHAMP D'INTERFERENCES DE CES FAISCEAUX FOURNIT LES CARACTERISTIQUES GEOMETRIQUES DU RESEAU DIFFRACTANT. L'EXPLOITATION DE CES FRANGES D'INTERFERENCES EST REALISEE DE DEUX FACONS, L'UNE UTILISE UN ALGORITHME DE F.F.T. BIDIMENSIONNELLE COUPLE A UNE TECHNIQUE SPECIALE D'INTERPOLATION, L'AUTRE MET EN UVRE UNE PROCEDURE DE DECALAGE DE PHASE. PAR CETTE DERNIERE DEMARCHE, LA SENSIBILITE EN DEFORMATIONS EST DE 0,8/0#-#4. CETTE NOUVELLE METROLOGIE EST APPLIQUEE A LA MECANIQUE DE LA RUPTURE DUCTILE. LES COMPOSANTES DU TENSEUR DES DEFORMATIONS AU VOISINAGE DE LA POINTE DE LA FISSURE SONT AINSI OBTENUES SUR UN ALLIAGE (AL 2017) SOLLICITE EN MODE D'OUVERTURE. POUR UN FAIBLE ACCROISSEMENT DE LA FISSURE DANS LE DOMAINE PLASTIQUE, L'INTEGRALE J EST INDEPENDANTE DU CONTOUR. LA COMPARAISON DU CHAMP DE DEFORMATIONS MESURE AVEC LA DISTRIBUTION ISSUE DE LA FORMULATION CLASSIQUE EN FISSURATION ELASTOPLASTIQUE (SOLUTION H.R.R.) MONTRE QUE LES SOLUTIONS A UN PARAMETRE (J) ET A DEUX PARAMETRES (J, Q) PERMETTENT DE RENDRE COMPTE DE L'EVOLUTION DE CERTAINES COMPOSANTES DE DEFORMATIONS, ET NON DE L'ENSEMBLE DE CES COMPOSANTES. LES INVESTIGATIONS EXPERIMENTALES DOIVENT ETRE POURSUIVIES ET POURRAIENT AIDER A L'ETABLISSEMENT D'UNE FORMULATION MIEUX ADAPTEE A LA DEFINITION DE L'ETAT MECANIQUE EN POINTE DE FISSURE SUR UN MATERIAU DE TYPE DUCTILE.
Book Synopsis Microscopie électronique à balayage et microanalyses by : François Brisset
Download or read book Microscopie électronique à balayage et microanalyses written by François Brisset and published by EDP Sciences. This book was released on 2012-12-04 with total page 930 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Book Synopsis Microscopie électronique à haute résolution by : Dominique Dorignac (auteur d'une thèse en physique).)
Download or read book Microscopie électronique à haute résolution written by Dominique Dorignac (auteur d'une thèse en physique).) and published by . This book was released on 1978 with total page 201 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ETUDE THEORIQUE DU TRANSFERT ET DE LA FORMATION DES IMAGES POUR TROUVER LES CONDITIONS PRATIQUES CONDUISANT A UN CONTRASTE ET UNE RESOLUTION MAXIMAUX. POUR LA MICROSCOPIE EN CHAMP SOMBRE, REALISATION DE SUPPORTS DE BORE AMORPHE ET DETECTION ET ENREGISTREMENT DES IMAGES SUR EMULSIONS X AVEC ANALYSE MICRODENSITOMETRIQUE BIDIMENSIONNELLE DES NEGATIFS ORIGINAUX. REALISATION D'IMAGES D'ATOMES DE 35
Book Synopsis Etude par microscopie électronique à transmission à haute résolution de l'élargissement thermique des parois de domaines ferroélectriques dans un système de premier ordre by : Alain Sfera
Download or read book Etude par microscopie électronique à transmission à haute résolution de l'élargissement thermique des parois de domaines ferroélectriques dans un système de premier ordre written by Alain Sfera and published by . This book was released on 2000 with total page 127 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES PROCESSUS D'ACCOMMODATION DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS DE NICKEL by : SOPHIE.. POULAT
Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES PROCESSUS D'ACCOMMODATION DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS DE NICKEL written by SOPHIE.. POULAT and published by . This book was released on 1997 with total page 235 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'OBJECTIF PRINCIPAL DE CE TRAVAIL EST L'ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION CONVENTIONNELLE (ASSOCIEE A LA TECHNIQUE DU CHAMP FAIBLE) ET PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE IN SITU, SOUS RECUIT, DES MECANISMES D'ACCOMMODATION DE DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS S'ECARTANT DE LA SINGULARITE. CES PROCESSUS JOUENT UN ROLE IMPORTANT DANS LA DEFORMATION A CHAUD DES MATERIAUX. LES EXPERIENCES ONT ETE REALISEES SUR DES JOINTS PROVENANT DE BICRISTAUX 3 111, 11 311 ET 11 332 DE NICKEL ELABORES PAR SOLIDIFICATION PROGRESSIVE. L'ETUDE DES PROCESSUS D'ACCOMMODATION NECESSITE LA CONNAISSANCE PREALABLE DE LA STRUCTURE D'EQUILIBRE DU JOINT DE GRAINS. CETTE STRUCTURE EST CONNUE POUR LES JOINTS 3 111 ET 11 311 MAIS PAS POUR LE JOINT 11 332. UNE PREMIERE ETAPE DE CE TRAVAIL A DONC ETE D'ETUDIER PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A HAUTE RESOLUTION LA STRUCTURE ATOMIQUE DU JOINT 11 332. LES RESULTATS MONTRENT QUE : - LA STRUCTURE THEORIQUE DU JOINT 11 332 N'A ETE OBSERVEE QUE DANS UN ECHANTILLON PROCHE DU GERME BICRISTALLIN. - DANS LA PLUPART DES CAS, LE JOINT DE GRAINS SE MET PARALLELE A DES FACETTES ASYMETRIQUES. - EN GENERAL, LE JOINT 11 332 NE PRESENTE PAS D'ORDRE A LONGUE DISTANCE MAIS UN ORDRE A COURTE DISTANCE PERMETTANT DE DETECTER DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DISCRETES. LES OBSERVATIONS EN MICROSCOPIE IN SITU SOUS RECUIT MONTRENT, DANS LES JOINTS 3 111 ET 11 311, L'INCORPORATION DANS LA STRUCTURE D'EQUILIBRE DU JOINT DE DISLOCATIONS EXTRINSEQUES INCLINEES PAR RAPPORT AU RESEAU INTRINSEQUES. DANS LES JOINTS PROCHES DE 11 332, L'ETALEMENT DU CONTRASTE DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES, OBSERVE EN CHAMP FAIBLE, SEMBLE PLUS CORRESPONDRE A UNE DELOCALISATION DU CUR DE LA DISLOCATION QU'A UNE DECOMPOSITION EN UN GRAND NOMBRE DE DISLOCATIONS DE PETITS VECTEURS DE BURGERS. CES RESULTATS POSENT LE PROBLEME DE LA DISTINCTION ENTRE UN JOINT DE CARACTERE VRAIMENT GENERAL EN FONCTION DE TOUS LES DEGRES DE LIBERTE GEOMETRIQUES ET UN JOINT QUI CONSERVE UN SINGULARITE MEME S'IL PRESENTE UN DEGRE DE COINCIDENCE ELEVE.
Book Synopsis Handbook of Nanoscopy by : Gustaaf van Tendeloo
Download or read book Handbook of Nanoscopy written by Gustaaf van Tendeloo and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2012-12-21 with total page 1484 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This completely revised successor to the Handbook of Microscopy supplies in-depth coverage of all imaging technologies from the optical to the electron and scanning techniques. Adopting a twofold approach, the book firstly presents the various technologies as such, before going on to cover the materials class by class, analyzing how the different imaging methods can be successfully applied. It covers the latest developments in techniques, such as in-situ TEM, 3D imaging in TEM and SEM, as well as a broad range of material types, including metals, alloys, ceramics, polymers, semiconductors, minerals, quasicrystals, amorphous solids, among others. The volumes are divided between methods and applications, making this both a reliable reference and handbook for chemists, physicists, biologists, materials scientists and engineers, as well as graduate students and their lecturers.
Book Synopsis Contrôle dynamique et optimisation des observations en microscopie électronique en transmission by : Julien Dupuy
Download or read book Contrôle dynamique et optimisation des observations en microscopie électronique en transmission written by Julien Dupuy and published by . This book was released on 2021 with total page 273 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le microscope électronique en transmission est un outil puissant et versatile qui permet de sonder la matière à des échelles atomiques. En fonction de la façon dont on l'aligne, différents aspects de celle-ci se révèlent, et l'on peut observer sa structure, sa composition, et bien plus encore. Cependant, l'outil reste très manuel et difficile à prendre en main, et utiliser la machine à son plein potentiel n'est pas tâche aisée pour des mains humaines. Dans cette thèse, nous développons deux nouveaux types d'outils permettant de faciliter l'opération du microscope par un humain. Le premier est la boucle de contre-réaction, un outil provenant de l'automatique qui permet d'asservir des paramètres de l'acquisition qui échapperaient autrement au contrôle de l'utilisateur. Nous montrons ici comment l'usage de telles boucles nous permet désormais d'augmenter notre rapport signal-sur-bruit en augmentant le temps d'exposition images plus long temps d'exposition, sans perte de résolution, dans le cadre de l'holographie électronique -- cadre qui pourra être étendu à l'avenir. Le second est une simulation du microscope permettant à l'utilisateur d'avoir une meilleure compréhension de l'outil qu'il manipule. De telles simulations existent, et sont utilisées par les constructeurs, mais restent cantonnées aux phases de conceptions de l'instrument. Nous proposons ici d'introduire ce type de logiciel dans un contexte différent, celui de l'utilisation du microscope dans le cadre d'une expérience. Nous proposons l'idée qu'un tel outil permettrait de penser différemment la manipulation au microscope. La généralisation de ces deux types d'outils permettrait à terme de fluidifier les expérimentations de microscopie, ce qui entraînerait une réduction des temps et des coûts de manipulation, et permettrait le développement de nouvelles expériences innovantes.
Book Synopsis Microholographie numérique haute résolution avec une matrice d'ouvertures by : Maxime Jacquot
Download or read book Microholographie numérique haute résolution avec une matrice d'ouvertures written by Maxime Jacquot and published by . This book was released on 2001 with total page 156 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce trvail de thèse projette l'holographie numérique et les possibilités de mesures associées (interférométrie et microscopie) dans un futur où les capteurs à matériaux solides (caméras CCD et CMOS APS) offriraient facilement des résolutions spatiales proches du micromètre. Cette étude ouvre le champ d'application de l'holographie numérique à l'échelle micrométrique. Un montage a été élaboré afin d'assurer l'acquisition de microhologrammes numériques constitués de 500 pixels/mm à l'aide d'une matrice de mesure munie d'ouvertures carrées de 2 micron-mètres. Cette interface haute résolution (fc=250 traits/mm) utilise un procédé de balayage séquentiel, garantissant un échantillonnage des images enregistrées avec des pixels contigus. Nous montrons que des distances d'enregistrement réduites favorisent une géométrie de faisceaux plus ouverts dans un montage holographique avec une onde de référence plane...
Book Synopsis DEVELOPPEMENT D'UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE MULTIFONCTIONNEL ASSOCIE A UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE by : ZHONGHUAI.. WANG
Download or read book DEVELOPPEMENT D'UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE MULTIFONCTIONNEL ASSOCIE A UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE written by ZHONGHUAI.. WANG and published by . This book was released on 1997 with total page 178 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM) INCLUANT LA POSSIBILITE D'OBTENIR DES CARTOGRAPHIES DES CARACTERISTIQUES FRICTIONNELLES ET VISCOELASTIQUES DES MATERIAUX A ETE DEVELOPPE POUR ETRE COMBINE A UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGER(MEB). CETTE ASSOCIATION PERMET DE LOCALISER UN DETAIL PARTICULIER DANS UN ECHANTILLON DE QUELQUES MM#2 A L'AIDE DU MEB POUR L'ANALYSER AVEC L'AFM AVEC UNE RESOLUTION EXCELLENTE, DE L'ORDRE DU NANOMETRE. UN ESPACE DE DONNEES MULTIDIMENSIONNEL PEUT DONC ETRE CONSTRUIT SUR UNE ZONE LOCALISEE D'UN ECHANTILLON. LA COMBINAISON DE CES DEUX INSTRUMENTS EST ATTRACTIVE PARCE QUE LES INFORMATIONS SONT COMPLEMENTAIRES EN TERME DE PROFONDEUR DE CHAMP, RESOLUTION VERTICALE ET LATERALE, CHAMP DE VUE, VITESSE ET CAPACITE A FAIRE DES IMAGES D'ECHANTILLONS ISOLANTS ET CONDUCTEURS. DES EXEMPLES D'APPLICATIONS DEMONTRANT L'INTERET DE CET INSTRUMENT COMBINE AFM/MEB SONT DONNES A TRAVERS DIVERS TYPES D'ECHANTILLONS BIOLOGIQUES ET METALLURGIQUES, ISOLANTS ET CONDUCTEURS. L'ACCENT EST MIS SUR L'INTERET DE LA CORRELATION DES IMAGES POUR EVITER LES MAUVAISES INTERPRETATIONS DUES AUX ARTEFACTS, NOTAMMENT CEUX DUS A LA DILATATION DES OBJETS RUGUEUX CAUSES PAR LA TAILLE MACROSCOPIQUE DE LA POINTE-SONDE DE L'AFM. L'INTERET DE LA COMBINAISON EST EGALEMENT MIS EN EVIDENCE POUR L'ETUDE DES ECHANTILLONS ISOLANTS NON METALLISES A TRAVERS L'EXEMPLE D'UN ECHANTILLON BIOLOGIQUE (TOXOPLASMA GONDII) ET D'UNE BIOCERAMIQUE AL#2O#3 TIN. SUR LE TOXOPLASME IL EST POSSIBLE DE DETECTER DES BILLES D'OR COLLOIDAL DE DIAMETRE 40 NM QUI SERVENT A MARQUER LA PRESENCE DE LAMININE SUR LE CORTEX MEMBRANAIRE. L'AFM S'AVERE, DANS CE CAS PRECIS, PLUS PERFORMANT QUE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE PAR TRANSMISSION. EN CE QUI CONCERNE LA BIOCERAMIQUE, LES IMAGES DES CARACTERISTIQUES FRICTIONNELLES INDIQUENT QUE LES DIFFERENCES DE COEFFICIENT DE FRICTION ENTRE PHASES SONT FAIBLES ET QUE L'INTERPRETATION DES IMAGES EST COMPLEXE A CAUSE DES EFFETS DE TOPOGRAPHIE QUI PERTURBENT L'IMAGE DE FRICTION. NOTRE INSTRUMENT PERMET EGALEMENT D'EFFECTUER UNE SPECTROSCOPIE DE FORCES DYNAMIQUE DANS LE MODE MODULATION DE FORCES. CETTE METHODE SE REVELE TRES PUISSANTE POUR SEPARER DES PHASES DE MODULES ELASTIQUES DIFFERENTS DANS DES MATERIAUX COMPOSITES MEME SI CEUX-CI SONT TRES RIGIDES TEL QUE LES ACIERS AU CHROME NITRURE ET LES SUPERALLIAGES A BASE DE NICKEL. SUR L'ACIER AU CHROME NITRURE IL EST POSSIBLE DE LOCALISER LES PRECIPITES DE NITRURE DE CHROME DE DIMENSION INFERIEURE A 50 NM, CE QUI DEMONTRE LA HAUTE RESOLUTION SPATIALE DE CETTE TECHNIQUE. IL EST EGALEMENT MIS EN EVIDENCE, SUR LE SUPERALLIAGE A BASE DE NICKEL, QU'IL EST POSSIBLE DE SEPARER DES PHASES DONT LES MODULES ELASTIQUES SONT TRES PROCHES (115 GPA ET 135 GPA). L'INTERPRETATION DES RESULTATS OBTENUS EST DISCUTEE A PARTIR DU MODELE A DEUX RESSORTS ET DE LA THEORIE DE LA DEFORMATION ELASTIQUE DEVELOPPEE PAR HERTZ. NOS RESULTATS EXPERIMENTAUX MONTRENT QU'IL N'EST PAS POSSIBLE DE CONSIDERER QUE L'INTERACTION POINTE-SURFACE EST LINEAIRE QUAND LES MATERIAUX ETUDIES SONT BEAUCOUP PLUS RIGIDES QUE LE MICROLEVIER LUI-MEME. UNE METHODE DE MESURE SEMI-QUANTITATIVE DE L'ELASTICITE DES MATERIAUX RIGIDES EST PROPOSEE. LES CONDITIONS DE FONCTIONNEMENT POUR LESQUELLES CETTE METHODE PEUT ETRE UTILISEE SONT DEFINIES
