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Le Test Fonctionnel De Circuits Integres Complexes
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Book Synopsis Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes [functional test of complex integrated circuits] by : Catherine Bellon
Download or read book Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes [functional test of complex integrated circuits] written by Catherine Bellon and published by . This book was released on 1984 with total page 253 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes by : Catherine Bellon
Download or read book Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes written by Catherine Bellon and published by . This book was released on 1984 with total page 253 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une approche fonctionnelle du test est nécessaire pour les circuits intégrés complexes. Dans une première partie, on propose une génération multi-niveaux des séquences de test, en partant de l'ensemble des activations fonctionnelles du circuit, tout en prenant en compte la structure fine des modules composant le circuit. Les méthodes proposées s'apparentent aux méthodes de test de logiciel et aux méthodes d'identification d'automates. Dans une deuxième partie, le test fonctionnel «usager» de microprocesseurs est étudié; on propose une méthode de test originale, qui prend en compte les signaux d'entrée asynchrones, et qui permet la génération automatique des programmes de test. Le testeur spécialisé et le système de génération des programmes de test sont présentés
Book Synopsis Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes by : Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
Download or read book Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes written by Mohamed Abid (professeur d'électronique).) and published by . This book was released on 1989 with total page 233 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES
Book Synopsis VLSI CAD Tools and Applications by : Wolfgang Fichtner
Download or read book VLSI CAD Tools and Applications written by Wolfgang Fichtner and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2012-12-06 with total page 555 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The summer school on VLSf GAD Tools and Applications was held from July 21 through August 1, 1986 at Beatenberg in the beautiful Bernese Oberland in Switzerland. The meeting was given under the auspices of IFIP WG 10. 6 VLSI, and it was sponsored by the Swiss Federal Institute of Technology Zurich, Switzerland. Eighty-one professionals were invited to participate in the summer school, including 18 lecturers. The 81 participants came from the following countries: Australia (1), Denmark (1), Federal Republic of Germany (12), France (3), Italy (4), Norway (1), South Korea (1), Sweden (5), United Kingdom (1), United States of America (13), and Switzerland (39). Our goal in the planning for the summer school was to introduce the audience into the realities of CAD tools and their applications to VLSI design. This book contains articles by all 18 invited speakers that lectured at the summer school. The reader should realize that it was not intended to publish a textbook. However, the chapters in this book are more or less self-contained treatments of the particular subjects. Chapters 1 and 2 give a broad introduction to VLSI Design. Simulation tools and their algorithmic foundations are treated in Chapters 3 to 5 and 17. Chapters 6 to 9 provide an excellent treatment of modern layout tools. The use of CAD tools and trends in the design of 32-bit microprocessors are the topics of Chapters 10 through 16. Important aspects in VLSI testing and testing strategies are given in Chapters 18 and 19.
Book Synopsis Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels by : Margot Karam
Download or read book Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels written by Margot Karam and published by . This book was released on 1991 with total page 338 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE CONCERNE L'UTILISATION DE MODELES FONCTIONNELS DANS LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES. DANS LA PREMIERE PARTIE, DES VECTEURS DE TEST SONT GENERES POUR LES AUTOMATES D'ETATS FINIS A PARTIR DE LEURS SPECIFICATIONS DE SYNTHESE. UN PREMIER ENSEMBLE DE VECTEURS DE TEST EST CALCULE EN PARCOURANT TOUS LES ARCS DU GRAPHE DE CONTROLE. LES VALEURS D'ENTREES NON SPECIFIEES SUR LES TRANSITIONS SONT FIXEES AFIN D'ACCROITRE LA COUVERTURE. IL EST MONTRE QUE CE TEST A UNE EXCELLENTE COUVERTURE PAR RAPPORT A SA LONGUEUR. LES FAUTES RESIDUELLES SONT DETECTEES PAR UNE METHODE DE DISTINCTION SUR LES MODELES MACHINE JUSTE MACHINE FAUSSE. LA DEUXIEME PARTIE EST CONSACREE AU TEST HIERARCHISE DE CIRCUITS COMPLEXES. LES VECTEURS DE TEST LOCAUX AUX BLOCS SONT JUSTIFIES VERS LES ENTREES PRIMAIRES ET PROPAGES EN AVANT VERS LES SORTIES PRIMAIRES EN UTILISANT DES VARIABLES SYMBOLIQUES ET DES MODELES FONCTIONNELS POUR LES BLOCS TRAVERSES. DES TECHNIQUES ORIGINALE DE PROPAGATION RETARDEE PERMETTENT DE RESTREINDRE LE NOMBRE D'ECHECS DES PROPAGATIONS. UN PROTOTYPE EN PROLOG A ETE EXPERIMENTE
Book Synopsis Scientific and Technical Aerospace Reports by :
Download or read book Scientific and Technical Aerospace Reports written by and published by . This book was released on 1994 with total page 772 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Test des circuits intégrés numériques by :
Download or read book Test des circuits intégrés numériques written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 14 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux by : Eric Archambeau
Download or read book Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux written by Eric Archambeau and published by . This book was released on 1985 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables by : Raoul Velazco
Download or read book Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables written by Raoul Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Download or read book Un Defi written by and published by . This book was released on 1983 with total page 338 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis Validation des sequences de test des circuits integres complexes : contribution au developpement de l'outil informatique SOLINE by : Mohamed Abid (auteur en électronique).)
Download or read book Validation des sequences de test des circuits integres complexes : contribution au developpement de l'outil informatique SOLINE written by Mohamed Abid (auteur en électronique).) and published by . This book was released on 1989 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Book Synopsis OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE by : ARNAUD.. RIAUDEL
Download or read book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE written by ARNAUD.. RIAUDEL and published by . This book was released on 1995 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE S'INSERE DANS LE CADRE DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES UTILISES DANS LE DOMAINE DES TELECOMMUNICATIONS. LE HAUT DEGRE DE FIABILITE EXIGE POUR LEUR FONCTIONNEMENT ENTRAINE UNE EVOLUTION DES METHODES DE TEST VERS UNE EFFICACITE PLUS GRANDE. LES TRAVAUX MENES ONT POUR BUT DE DEFINIR UNE METHODOLOGIE DE TEST PERMETTANT D'OPTIMISER ET DE SIMPLIFIER LE DEVELOPPEMENT DES PROGRAMMES DE TEST POUR LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE COMPLEXES ET SPECIFIQUES AU RESEAU DE TELECOMMUNICATIONS. DANS UNE PREMIERE PARTIE, NOUS PRESENTONS UN CIRCUIT INTEGRE MIXTE ANALOGIQUE-NUMERIQUE-L'INTERFACE U CODE 2B/1Q-. NOUS FAISONS L'ETAT DE L'ART DES DIFFERENTES TECHNIQUES DE TESTABILITE ET MONTRONS QU'UNE ASSOCIATION COHERENTE DES METHODES DE TEST DOIT ACCROITRE L'ASSURANCE DE LA CONFORMITE DU COMPOSANT AUX SPECIFICATIONS. LA SECONDE PARTIE PRESENTE LE TRAVAIL QUI A ETE MENE POUR TESTER LA CONFORMITE DE L'INTERFACE U AUX SPECIFICATIONS FONCTIONNELLES ET PARAMETRIQUES. NOUS PROPOSONS UNE METHODOLOGIE DE TEST BASEE SUR L'UTILISATION D'INSTRUMENTATION ANALOGIQUE COUPLEE A UN TESTEUR NUMERIQUE POUR TESTER LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES DE L'INTERFACE U
Book Synopsis Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse by : Joseph Bulone
Download or read book Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse written by Joseph Bulone and published by . This book was released on 1994 with total page 240 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette thèse propose une extension des méthodes classiques de chemins de «scan». On utilise des opérateurs combinatoires plus généraux à la place des multiplexeurs à une seule sortie. Ils peuvent comporter des entrées et des sorties multiples. Ils peuvent boucler sur eux-mêmes par l'intermédiaire d'une ou plusieurs bascules. Lorsqu'ils vérifient certaines propriétés de bijectivité et qu'ils forment une structure propageant de l'information, alors cette structure est aussi utile que les chaînes du «scan» complet et s'utilise de manière semblable. Elle permet aussi une approche hiérarchique du test des circuits. On montre comment tirer profit de cette méthode plus générale pour réduire l'impact de la méthode de «scan» complet sur les performances de circuits complexes implantant des fonctions mathématiques courantes ou des séquenceurs. Des résultats sont donnés pour le cas réel d'un circuit CMOS, très rapide, spécifique pour le réseau numérique large bande et pour lequel les contraintes en vitesse étaient primordiales
Book Synopsis Computer Hardware Description Languages and Their Applications by : Cees-Jan Koomen
Download or read book Computer Hardware Description Languages and Their Applications written by Cees-Jan Koomen and published by North Holland. This book was released on 1985 with total page 532 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Hardbound. The papers of this seventh conference reflect the gradual shift from the original emphasis on the uses of language design to describe hardware, toward more formal techniques for specification and verification.This volume highlights the following topics: - Languages to specify and describe hardware design, to reason about timing and functional behaviour, and to support modelling and performance evaluation - Synthesis and verification of systems as means of support for the design process, and as a guarantee of design consistency and functional correctness - Tool Integration aspects such as the representation of design information, and the putting together of tools within a coherent design environment.
Book Synopsis Test et autotest de circuits complexes by : José Maria Gobbi
Download or read book Test et autotest de circuits complexes written by José Maria Gobbi and published by . This book was released on 1981 with total page 184 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Etude du test et de la testabilité de circuits intégrés complexes. Description du circuit en vue du test. Conception
Book Synopsis Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux by : Eric Archambeau
Download or read book Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux written by Eric Archambeau and published by . This book was released on 1985 with total page 239 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant deux types différents d'hypothèses de pannes sont présentées: une méthode heuristique de génération de vecteurs (partie II) et une méthode de test pseudo-exhaustif (partie III)
Download or read book Annales des télécommunications written by and published by . This book was released on 1996 with total page 312 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
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