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Etude Delectrons Balistiques En Microscopie A Effet Tunnel Et Autres Applications En Microscopie A Champ Proche
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Book Synopsis Etude d'électrons balistiques en microscopie à effet tunnel et autres applications en microscopie à champ proche by : Adil Chahboun
Download or read book Etude d'électrons balistiques en microscopie à effet tunnel et autres applications en microscopie à champ proche written by Adil Chahboun and published by . This book was released on 1992 with total page 292 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: QUAND UN METAL VIENT AU CONTACT D'UN SEMI-CONDUCTEUR, IL Y A FORMATION D'UNE BARRIERE DE POTENTIEL APPELEE LA BARRIERE DE SCHOTTKY. CETTE BARRIERE ENERGETIQUE JOUE UN ROLE IMPORTANT SUR LES PERFORMANCES DES INSTRUMENTS A BASE DE SEMI-CONDUCTEUR. UNE MANIPULATION DERIVEE DE LA MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL (BEEM) PERMET LA MESURE DE LA HAUTEUR DE CETTE BARRIERE AVEC UNE RESOLUTION NANOMETRIQUE. DURANT CETTE THESE, NOUS AVONS REALISE CETTE MANIPULATION ET AVONS APPLIQUE A L'ETUDE D'UNE JONCTION AU/SI. DES PHENOMENES ORIGINAUX ONT ETE OBSERVES, TELLE LA SATURATION DU SPECTRE BEEM A FORTES TENSIONS DE POLARISATION TUNNEL, LA DEPENDANCE DE LA GEOMETRIE D'INJECTION ELECTRONIQUE DE LA CRISTALLOGRAPHIE DU FILM METALLIQUE. L'ETUDE DE MEMBRANES D'ULTRAFILTRATION PAR STM, AFM ET SEM A MONTRE QUE LE STM ET L'AFM PEUVENT ETRE CONSIDERES COMME DEUX OUTILS EFFICACES POUR LA CARACTERISATION DE CES MATERIAUX. LES EFFETS DE LA POINTE SUR LA REPRODUCTION DE SURFACES RUGUEUSES ONT ETE MISES EN EVIDENCE. L'OBSERVATION DE MICROTUBULES PAR STM A PERMIS DE DECELER UNE EVENTUELLE SOUS-STRUCTURE DE LA TUBULINE, MOLECULE UNITE DES MICROTUBULES
Book Synopsis Etude du transport d'électrons balistiques dans l'or en microscopie par effet tunnel by : Cécile Girardin (vétérinaire))
Download or read book Etude du transport d'électrons balistiques dans l'or en microscopie par effet tunnel written by Cécile Girardin (vétérinaire)) and published by . This book was released on 1997 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MICROSCOPIE PAR EMISSION D'ELECTRONS BALISTIQUES (BEEM) EST UNE APPLICATION DE LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL, DEDIEE A L'ETUDE DE CONTACTS METAL/SEMICONDUCTEUR. LA POINTE DU STM, POLARISEE PAR RAPPORT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON, EMET DES ELECTRONS POUVANT TRAVERSER BALISTIQUEMENT LA FINE COUCHE METALLIQUE ET L'INTERFACE METAL/SEMICONDUCTEUR. LE COURANT BEEM MESURE DANS LE SEMICONDUCTEUR PERMET DE MESURER LA HAUTEUR DE BARRIERE AVEC UNE RESOLUTION SPATIALE PROCHE DU NANOMETRE. EN IMAGERIE, NOUS ENREGISTRONS LES VARIATIONS DU COURANT BEEM AU COURS DU BALAYAGE D'UNE ZONE DONNEE EN FONCTION DE LA POSITION DE LA POINTE FACE A LA SURFACE. EN SPECTROSCOPIE, LE SPECTRE OBTENU EST CONSTITUE PAR LES VARIATIONS DU COURANT BEEM AVEC LA TENSION DE POLARISATION ENTRE POINTE ET SURFACE, LA POINTE ETANT IMMOBILE FACE A LA SURFACE. NOUS PROPOSONS DES TECHNIQUES DE FABRICATION DONNANT DE FACON REPRODUCTIBLE DES DIODES AU/SI ET AU/GAAS A TRES FAIBLE BRUIT. NOUS CALCULONS EXPERIMENTALEMENT LE LIBRE PARCOURS MOYEN DES ELECTRONS DE FAIBLE ENERGIE DANS L'OR. CE DERNIER S'AVERE CONSTANT DANS LE DOMAINE D'ENERGIE ALLANT DE 1 A 2 EV. LA REPRESENTATION PROPOSEE POUR LE TRANSPORT BALISTIQUE PERMET DE CIBLER LES PARAMETRES RESPONSABLES DU CONTRASTE BEEM. LE BEEM PERMET DE CARACTERISER DES JONCTIONS METAL/SEMICONDUCTEUR PARTICULIERES. TROIS TYPES DE CONTACTS SONT OBSERVES : AU/GAAS, AU/ZNSE ET AU/CDTE. POUR LE GAAS, NOUS DETAILLONS UNE ETUDE AYANT PERMIS DE RETROUVER LA STRUCTURE DE BANDE REELLE DU SEMI-CONDUCTEUR, METTANT EN EVIDENCE L'EXISTENCE DE PLUSIEURS BAS DE BANDE DE CONDUCTION. LES DEUX AUTRES SEMICONDUCTEURS SONT IMPLIQUES DANS DES DISPOSITIFS OPTIQUES, LASERS SOLIDES BLEU-VERT POUR LE ZNSE ET CELLULES SOLAIRES POUR LE CDTE. LA MISE EN OEUVRE DU BEEM REVELE DES VARIATIONS DE HAUTEUR DE BARRIERE A L'ECHELLE MICROSCOPIQUE, CORRESPONDANT A L'EXISTENCE SOIT DE DIFFERENTES PHASES A L'INTERFACE, SOIT DE NIVEAUX DE DEFAUTS.
Book Synopsis CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS by : Yan Pennec
Download or read book CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS written by Yan Pennec and published by . This book was released on 1994 with total page 169 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DANS CE TRAVAIL, NOUS NOUS INTERESSONS, DANS UN PREMIER TEMPS, A LA VISUALISATION ET A LA CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL (S.T.M.) ET PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (A.F.M.) DE DEFAUTS CREES PAR IRRADIATION IONIQUE. L'EXPLOITATION DES RESULTATS CONDUIT A UNE DESCRIPTION EN SURFACE ET EN VOLUME, PAR CLIVAGES SUCCESSIFS, DES TRACES INDUITES PAR L'IRRADIATION POUR DEUX TYPES DE MATERIAUX: LE GRAPHITE ET LE MICA. LES DEFAUTS SE PRESENTENT SOUS LA FORME D'UNE SUCCESSION DE CYLINDRES DE MATIERE DESORDONNEE REPARTIS ALEATOIREMENT LE LONG DE LA TRAJECTOIRE DE L'ION INCIDENT. DE NOUVEAUX RESULTATS SONT PRESENTES, INACCESSIBLES PAR LES AUTRES METHODES MICROSCOPIQUES OU SPECTROSCOPIQUES. LA SECONDE PARTIE EST CONSACREE A L'ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE A L'EXTREMITE DE DEFAUTS ISOLES SUR DIFFERENTS TYPES DE SYSTEMES PHYSIQUES. UNE METHODE GENERALE EST DEVELOPPEE SUR UN SYSTEME BIDIMENSIONNEL FORME PAR UNE CHAINE LINEAIRE SEMI-INFINIE DONT LES PROPRIETES ELASTIQUES DIFFERENT DU RESTE DE LA STRUCTURE. ELLE EST APPLICABLE A TOUTE UNE CLASSE DE DEFAUTS QUI BRISENT LA SYMETRIE SELON DEUX DIRECTIONS DE L'ESPACE. NOUS POUVONS CITER LE CAS DE MARCHES, DE CRETES OU DE SILLONS D'ATOMES DE SUBSTITUTION A LA SURFACE DES MATERIAUX. DANS CE DERNIER SYSTEME, DEUX TYPES DE MODE SONT PRESENTES: UN MODE DE RAYLEIGH ELARGI ET DES MODES PROPRES LOCALISES DE TYPE ANDERSON. NOUS METTONS AINSI EN EVIDENCE LA VALIDITE DE LA METHODE ET SON EFFICACITE PAR LA PRESENTATION DE NOUVEAUX RESULTATS
Book Synopsis ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS by : Roland Coratger (physicien)
Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS written by Roland Coratger (physicien) and published by . This book was released on 1991 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DEUX PROTOTYPES DE MICROSCOPES A EFFET TUNNEL ONT ETE MIS AU POINT POUR OBTENIR LA RESOLUTION ATOMIQUE AVEC UNE BONNE REPRODUCTIBILITE. L'ANALYSE DES IMAGES EST REALISEE GRACE A UN TRAITEMENT D'IMAGE SPECIFIQUE. LES DIVERSES ETUDES THEORIQUES EFFECTUEES PERMETTENT DE RELIER LES IMAGES OBTENUES A LA STRUCTURE ELECTRONIQUE DES MATERIAUX OBSERVES. DANS LE CAS DE SURFACES DE GRAPHITE ET DE MOLYBDENITE, CETTE PROPRIETE CONDUIT A DES RESULTATS TRES CARACTERISTIQUES: LES IMAGES REPRESENTENT UNE CARTOGRAPHIE DE LA DENSITE ELECTRONIQUE DE SURFACE. DE NOMBREUX ECARTS A CE MODELE THEORIQUE SONT TOUTEFOIS OBSERVABLES. ILS SONT ALORS LIES SOIT A LA FORME ATOMIQUE DE LA POINTE, SOIT A LA FORCE D'INTERACTION ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE. LA DEFORMATION SIGNIFICATIVE DES SURFACES OBSERVEES JUSTIFIE L'AMPLITUDE DE LA CORRUGATION EXPERIMENTALE. LES EFFETS D'UN BOMBARDEMENT IONIQUE SUR CES MEMES SURFACES DE GRAPHITE SE TRADUISENT PAR L'APPARITION DE PROTUBERANCES LIEES AUX CONTRAINTES LORS DU DEVELOPPEMENT DE LA CASCADE. DE NOMBREUX DEFAUTS REVELENT EGALEMENT DES CHANGEMENTS DE STRUCTURE A L'ECHELLE ATOMIQUE INDUITS PAR DES PHENOMENES DE TREMPE LOCALE DU SUBSTRAT. CES PHENOMENES REMETTENT EN CAUSE LES MECANISMES CLASSIQUES D'INTERACTION ION-SUBSTRAT A CETTE ECHELLE. LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL A ETE EGALEMENT UTILISEE DANS UN GRAND NOMBRE D'APPLICATIONS. L'OBSERVATION DE MOLECULES D'ADN EST UNE DE CES APPLICATIONS ET A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LES EFFETS DE LA FIXATION D'UNE PROTEINE NON SEULEMENT SUR L'ORGANISATION DES MOLECULES ENTRE ELLES MAIS AUSSI SUR LA TAILLE DES MOLECULES ISOLEES
Book Synopsis Etude des fonctions d'asservissement d'un microscope à effet tunnel optique. Application à l'imagerie de caractérisation de composants électroniques nanométriques by : Ari Santoso
Download or read book Etude des fonctions d'asservissement d'un microscope à effet tunnel optique. Application à l'imagerie de caractérisation de composants électroniques nanométriques written by Ari Santoso and published by . This book was released on 1999 with total page 276 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM POUR ATOMIC FORCE MICROSCOPE) ET LE MICROSCOPE SNOM (SCANNING NEARFIELD OPTICAL MICROSCOPE) PERMETTENT D'OBTENIR RESPECTIVEMENT DES IMAGES DE LA TOPOGRAPHIE ET DU CHAMP PROCHE OPTIQUE D'UNE SURFACE. AVANT D'APPLIQUER UNE BOUCLE D'ASSERVISSEMENT A UN SYSTEME (MICROSCOPE) IL EST NECESSAIRE D'EN CARACTERISER LES DIFFERENTS ELEMENTS. L'OBJECTIF DE CE TRAVAIL EST DE REALISER LES COMMANDES (LOGICIEL D'ASSERVISSEMENT PID ET PI-FLOUE) D'UN DISPOSITIF PERMETTANT D'OBTENIR SIMULTANEMENT DES IMAGES AFM ET PSTM.
Book Synopsis Mise au point de deux microscopes à effet tunnel électronique, l'un dans l'air et l'autre dans l'ultravide destinés à la caractérisation de substrats pour matériaux biologiques, application à l'etude de l'ADN en ultravide et de l'ARN en solution by : Eric Lesniewska
Download or read book Mise au point de deux microscopes à effet tunnel électronique, l'un dans l'air et l'autre dans l'ultravide destinés à la caractérisation de substrats pour matériaux biologiques, application à l'etude de l'ADN en ultravide et de l'ARN en solution written by Eric Lesniewska and published by . This book was released on 1991 with total page 213 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail présente la mise au point de deux microscopes à effet tunnel STM fonctionnant l'un dans l'air et en solution, et l'autre dans l'ultravide. Nous nous posons le problème de la signification des images et des différents essais d'interprétation. Dans le domaine de la biologie, nous montrons l'importance des différents paramètres (nature des sondes, nature des substrats, environnement) et présentons quelques méthodes de préparation utilisables pour deux échantillons: l'ARN et l'ADN. Trois méthodes ont été utilisées pour déposer l'ADN: microgoutte, dépôt par pulvérisation, électrodéposition. Ces expérimentations conduites dans l'ultravide ont démontré que l'observation STM (topographie et spectroscopie dI/dV) de molécules biologiques passait par la caractérisation des substrats et par la suppression des processus de formations d'agrégats. La seconde étude concerne l'observation par microscopie à effet tunnel en solution des structures secondaires et tertiaires de molécules d'acide ribonucléique (ARN). La réalisation d'un dispositif d'étude électrochimique comprenant des pointes isolées et une cellule spécifique, nous a permis d'éviter le problème de dénaturation et d'agrégation et nous a montre qu'il était possible de continuer l'observation des molécules en solution aqueuse. Nous avons pu caractériser les molécules d'ARNr par leurs paramètres structuraux et comparer ces valeurs a celles obtenues par EM et STEM et mis en évidence l'altération du substrat et le phénomène de conductance ionique en solution.
Book Synopsis Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur) by : Sonia Mechken
Download or read book Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur) written by Sonia Mechken and published by . This book was released on 1993 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Nous avons étudié des agrégats de palladium déposés sur silices (sio2 et siox), mica, carbone amorphe, graphite et kci (100) par jets atomiques de vapeurs condensés sous ultra-vide. Cette méthode permet de contrôler la taille des agrégats en faisant varier le temps du dépôt métallique. Les taux de recouvrement en palladium sont quantifiés ex-situ par retro diffusion d'ions (r.b.s.). L'utilisation in situ de la spectroscopie d'électrons (x.p.s.) montre que le comportement particulier des plus petits agregats de palladium peut être associé à la mesure d'un déplacement des niveaux de cœur du métal vers les hautes énergies de liaison. D'autre part, l'observation ex situ à l'air, par microscopie à effet tunnel, avec la résolution atomique, montre que les agrégats de moins de trente atomes ont une structure bidimensionnelle. Il y a corrélation entre ces deux phénomènes et le fait qu'on observe une chute de l'activité catalytique vis a vis de la réaction d'hydrogénation du butadiène 1,3 pour ces petits agrégats. Dans le cas du système pd/siox, nous avons montré la présence d'une sélectivité en butène 1 inversant la séquence trouvée sur le système pd/sio2
Book Synopsis ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL ET DIFFRACTION D'ELECTRONS DE LA CROISSANCE DE COUCHES METALLIQUES PAR EPITAXIE MOLECULAIRE by : DAVID.. ATLAN
Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL ET DIFFRACTION D'ELECTRONS DE LA CROISSANCE DE COUCHES METALLIQUES PAR EPITAXIE MOLECULAIRE written by DAVID.. ATLAN and published by . This book was released on 1995 with total page 153 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES PROPRIETES MAGNETIQUES DE COUCHES MINCES DEPENDENT ESSENTIELLEMENT DES CONDITIONS DE CROISSANCE. EN GENERAL, LA QUALITE DE LA CROISSANCE EST VERIFIEE PAR DIFFRACTION RASANTE A HAUTE ENERGIE (RHEED) QUI NE DONNE D'INFORMATION QUE DANS L'ESPACE FOURIER. AFIN D'INTERPRETER CES DONNEES AVEC PRECISION, IL EST NECESSAIRE DE CORRELER CES OBSERVATIONS AVEC UNE IMAGERIE DANS L'ESPACE REEL: LE MICROSCOPE A EFFET TUNNEL (STM) S'IMPOSE. LORS DE MON SEJOUR A L'UNIVERSITE SIMON FRASER J'AI EU L'OCCASION DE FAIRE CROITRE DES WHISKERS DE FER UTILISES COMME SUBSTRATS PAR CROISSANCE EN PHASE VAPEUR (CVD). LES ETUDES D'EPITAXIE DES COUCHES MINCES DEPOSEES SUR CES WHISKERS SONT EFFECTUEES DANS UNE INSTALLATION QUI REGROUPE DANS UNE MEME CELLULE ULTRA-VIDE TROIS TECHNIQUES COMPLEMENTAIRES: UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL (STM), UN SYSTEME DE DIFFRACTION A HAUTE ENERGIE (RHEED), AINSI QU'UN SYSTEME D'EPITAXIE MOLECULAIRE (MBE). CETTE CONFIGURATION NOUS PERMET DE REALISER ET D'ETUDIER IN-SITU UNE EPITAXIE PAR JET MOLECULAIRE A L'INTERIEUR D'UN STM ET SOUS CONTROLE RHEED. DEUX SYSTEMES ONT ETE ETUDIES. D'UNE PART, LA DEPOSITION DU FER SUR UN CRISTAL DE CU(1 1 13) DANS LE DOMAINE DES TAUX DE RECOUVREMENT INFERIEURS A UNE COUCHE MONOATOMIQUE, SYSTEME INTERESSANT DE PAR SES PROPRIETES MAGNETIQUES, MAIS OU LES PHENOMENES DE NUCLEATION SONT ENCORE TRES PEU CONNUS ; ET D'AUTRE PART, LA CROISSANCE DE STRUCTURES EN COUCHES MINCES AG/FE(100)WHISKER, STRUCTURES QUI SONT IMPORTANTES POUR LES ETUDES DE L'EFFET DE MAGNETO-RESISTANCE GEANTE. NOTRE ETUDE MONTRE QU'UNE TRES PETITE QUANTITE DE FER SUR LE CU INDUIT UNE RUGOSITE DE LA SURFACE, QUI SE TRADUIT PAR UNE DISPARITION DE LA STRUCTURE REGULIERE DE MARCHES ATOMIQUES SUR LA SURFACE DU CU(1 1 13). LORS DE LA DEPOSITION D'ARGENT A LA TEMPERATURE AMBIANTE SUR DU FE(100), L'IMAGE RHEED SE DETERIORE RAPIDEMENT ET LES OBSERVATIONS EN STM MONTRENT QUE LA CROISSANCE SE FAIT AU MOINS SUR DEUX A TROIS COUCHES SIMULTANEMENT. CECI NOUS A CONDUIT A EFFECTUER UN RECUIT DE LA COUCHE D'ARGENT, AMELIORANT AINSI GRANDEMENT LA QUALITE DE LA SURFACE: LE SUBSTRAT NE PRESENTE ALORS PLUS QUE DES MARCHES ATOMIQUES ESPACEES DE QUELQUES CENTAINES DE NM
Book Synopsis EMISSION PHOTONIQUE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A L'ETUDE DE NANO-CONTACTS METAL/SEMICONDUCTEUR by : ANNE.. CARLADOUS
Download or read book EMISSION PHOTONIQUE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A L'ETUDE DE NANO-CONTACTS METAL/SEMICONDUCTEUR written by ANNE.. CARLADOUS and published by . This book was released on 2000 with total page 226 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA JONCTION POINTE-SURFACE D'UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL (STM) EST, DE PART SA GEOMETRIE SINGULIERE, LE SIEGE D'UN GRAND NOMBRE DE PHENOMENES PHYSIQUES ELEMENTAIRES QUI ELARGISSENT LE DOMAINE D'APPLICATION DE CE DISPOSITIF. DEPUIS QUELQUES ANNEES, PLUSIEURS TECHNIQUES EXPERIMENTALES DERIVEES ONT VU LE JOUR AUTOUR DU STM ET FONT DE CET OUTIL DE CARACTERISATION UN SUJET DE RECHERCHE FONDAMENTALE. NOUS AVONS AINSI MENE UNE ETUDE DES DIFFERENTS PROCESSUS RADIATIFS POUVANT AVOIR LIEU AU SEIN DE LA JONCTION TUNNEL D'UN STM DANS L'AIR. TOUT D'ABORD, UNE EMISSION DE PHOTONS A ETE DETECTEE SUR DES SURFACES SEMICONDUCTRICES D'ARSENIURE DE GALLIUM PASSIVEES A L'HUILE DE PARAFFINE. LES SPECTRES DE LA LUMIERE EMISE PERMETTENT D'IDENTIFIER CLAIREMENT L'EMISSION PHOTONIQUE OBSERVEE : ELLE PROVIENT DE RECOMBINAISONS RADIATIVES DE PAIRES ELECTRON-TROU DANS LE SEMICONDUCTEUR MASSIF. UNE EMISSION DE PHOTONS DANS UN STM A AUSSI ETE DETECTEE DANS L'AIR SUR DES SURFACES D'AU. PAR COMPARAISON AVEC LES RESULTATS PRECEDENTS OBTENUS SOUS ULTRA VIDE (UHV) ET LES RECENTES AVANCEES THEORIQUES, CETTE EMISSION DE LUMIERE A ETE ATTRIBUEE A LA DESEXCITATION RADIATIVE DE PLASMONS LOCALISES ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE, CES MODES ETANT EXCITES PAR LES ELECTRONS TUNNELS INELASTIQUES. DES MOLECULES D'ALCANETHIOLS AINSI QUE DES NANOTUBES DE CARBONE ONT ETE DEPOSES SUR CES SURFACES METALLIQUES. UNE EMISSION LUMINEUSE A ALORS ETE OBSERVEE. LE ROLE DES MOLECULES ET DES NANO-OBJETS DANS L'EMISSION LUMINEUSE A ENSUITE ETE DISCUTE. ENFIN, PAR UN PROCESSUS DE CROISSANCE DE TYPE VOLMER-WEBER, DES ILOTS D'OR TRIDIMENSIONNELS ONT ETE FABRIQUES PAR DEPOT DE FILMS MINCES METALLIQUES SUR UN SUBSTRAT DE MOLYBDENITE. DES PROPRIETES SURPRENANTES DE L'EMISSION PHOTONIQUE ONT ALORS ETE MISES EN EVIDENCE SUR CES ECHANTILLONS OUVRANT LA VOIE A UNE NOUVELLE APPLICATION DE L'EMISSION DE PHOTONS DANS UN STM. PAR L'INTERMEDIAIRE DE L'ANALYSE SPECTRALE DE LA LUMIERE EMISE, IL EST POSSIBLE D'ACCEDER A LA CARACTERISTIQUE COURANT-TENSION DE L'INTERFACE AU/MOS 2. DES DIFFERENCES DANS LA NATURE DU CONTACT METAL/SEMICONDUCTEUR SONT ALORS APPARUES ENTRE PLUSIEURS ECHANTILLONS : UNE RESISTANCE A L'INTERFACE AU/MOS 2 A ETE MISE EN EVIDENCE AINSI QU'UNE DIODE SCHOTTKY.
Book Synopsis Etude et réalisation d'un nouvel ensemble microscopique à effet tunnel et microscope à force atomique by : Claude Lavigne
Download or read book Etude et réalisation d'un nouvel ensemble microscopique à effet tunnel et microscope à force atomique written by Claude Lavigne and published by . This book was released on 1993 with total page 249 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: C'est en 1981 que, pour la première fois, l'équipe du Dr Bennig a obtenu l'image d'une surface à l'aide d'un microscope à effet tunnel. Ces microscopes permettent d'observer avec une résolution atomique pratiquement tous les matériaux conducteurs. Quelques années plus tard, en 1986, un nouveau principe sera utilisé pour accroitre le champ d'application de ces microscopes aux matériaux non conducteurs en utilisant les forces de répulsion inter-atomiques. Nous aurons ainsi la naissance du microscope à force atomique. Depuis de nombreuses années, en métrologie, on peut obtenir des mesures d'une précision supérieure au micron sur des surfaces de plusieurs millimètres. Le but de cette étude sera de concevoir un instrument de mesure nous permettant de combler le vide entre ces nouveaux microscopes et la métrologie classique. Nous essaierons de construire un microscope permettant d'obtenir une résolution atomique sur des surfaces allant de quelques nanomètres à quelques dixièmes de millimètres carrés.
Book Synopsis APPLICATIONS DE L'EFFET TUNNEL A L'ETUDE DES SURFACES by : Sébastien Gauthier
Download or read book APPLICATIONS DE L'EFFET TUNNEL A L'ETUDE DES SURFACES written by Sébastien Gauthier and published by . This book was released on 1987 with total page 283 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ETUDES MENEES PAR SPECTROMETRIE PAR EFFET TUNNEL INELASTIQUE: CARACTERISATION DE LA COUCHE ISOLANTE DE JONCTION ALUMINIUM-OXYDE-PLOMB; ADSORPTION DE NO SUR DU RHODIUM SUPPORTE SUR ALUMINE. OBTENTION, PAR MICROSCOPIE TUNNEL A BALAYAGE D'IMAGES A L'ECHELLE ATOMIQUE DE LA SURFACE DU GRAPHITE
Book Synopsis Simulations de microscopie à effet tunnel by : Mathieu Dubois
Download or read book Simulations de microscopie à effet tunnel written by Mathieu Dubois and published by . This book was released on 2004 with total page 192 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail se situe dans le cadre général des nanotechnologies. Après avoir présenté les enjeux et les challenges dans ce nouveau domaine, nous présentons le microscope à effet tunnel (STM) et nous montrons les possibilités offertes par cet outil pour les nanotechnologies. Largement utilisé pour l'étude des surfaces ainsi que pour celle de l'adsorption de molécules organiques, les résultats expérimentaux ne sont pas toujours suffisants pour comprendre parfaitement les phénomènes mis en jeu. Cette thèse propose donc une modélisation du courant tunnel permettant ainsi la simulation d'images et de courbes de spectroscopie obtenues en STM. Le courant est obtenu dans un formalisme de diffusion utilisant les fonctions de Green. L'ensemble des calculs des structures électroniques est effectué dans le cadre de l'approximation des liaisons fortes. Les perturbations électroniques à l'intérieur de la molécule. (interactions électron-électron) seront décrites à l'aide d'une théorie dérivée de la théorie orthodoxe.
Book Synopsis Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnées by : Philippe Dumas
Download or read book Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnées written by Philippe Dumas and published by . This book was released on 1988 with total page 132 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE EST CONSACREE A L'ETUDE DE SURFACES ORDONNEES DE SILICIUM (111) ET DES SURSTRUCTURES INDUITES PAR LA PRESENCE D'ATOMES D'OR ET DE BORE EN SURFACE. LA PREMIERE PARTIE TRAITE DU PRINCIPE DE LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL ET DE LA REALISATION D'UN MICROSCOPE (STM). ELLE DECRIT ENSUITE LES RENSEIGNEMENTS QUE CETTE TECHNIQUE PEUT APPORTER AU PHYSICIEN DES SURFACES. DANS LA SECONDE PARTIE, APRES QUELQUES RAPPELS SUR LA DIFFRACTION D'ELECTRONS LENTS (LEED) ET LA SPECTROSCOPIE AUGER, NOUS ETUDIONS PAR CES TECHNIQUES CONJOINTES (STM, LEED, AUGER) LES SYSTEMES SUIVANTS: LE SILICIUM (111) RECONSTRUIT 7 X 7, L'INTERFACE AU/SI(111) RAC3 X RAC3 R30**(O) ET LE B-SI(111) RAC3 X RAC3 R30**(O). CES ETUDES NOUS PERMETTENT DE CONFRONTER NOS RESULTATS AUX MODELES EXISTANTS ET DE PROPOSER, POUR LE DERNIER SYSTEME, UN NOUVEAU MODELE DE LA STRUCTURE RAC3
Book Synopsis Microscopie électronique à effet tunnel by : Miléna Veleva
Download or read book Microscopie électronique à effet tunnel written by Miléna Veleva and published by . This book was released on 1996 with total page 196 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le but de ce travail, a ét de comprendre l'influence de divers paramètres sur la résolution et les interactions entre la pointe et l'échantillon (tension de la polarisation V en effet tunnel et en effet de champ, distance pointe-échantillon D et forme de l'apex de la pointe). L'approche utilisée est basée sur un modèle semi-classique qui permet de déterminer l'évolution de la barrière de potentiel, du champ électrique, de la distribution spatiale du courant tunnel et son intensité. L'étude du champ électrique montre qu'il est très localisé à l'apex de la pointe relativement délocalisé à la surface de l'échantillon. [...] La résolution latérale d'ordre atomique apparaît impossible sans la présence d'une protubérance de taille atomique à l'apex de la pointe. La résolution verticale est de 0.01nm (résolution supposée sur le courant tunnel de 0.1nA) pour D=1nm et V-100mV et se détériore lorsque V et D augmentent. Un potentiel image PIm, adapté à la géométrie de la pointe, est introduit dans les calculs. Il dépend de la courbure locale de la pointe seulement dans les cas où celle-ci est très faible (en présence d'une protubérance atomique). Les résultats obtenus sur l'étude du contrastet d'une marche atomique par modélisation, en bon accord avec l'expérience, mettent en évidence les effets imprtants de convolution entre la pointe et l'échantillon en imagerie. Sur des surfaces d'or étudiées par STM à l'air et à température ambiante (J=1nA, V=100mV), nous avons observé une diffusion très importante de la couche atomique superficielle sous le champ électrique de la pointe qui se manifeste par la formation de "festons" périodiques orientés dans le sens du balayage. Le coefficient de diffusion déterminé sous champ éléctrique es D=10-13cm2/s comparé à 10-15cm2/s en conditions normales. Des études de champ électrique en nanolithographie sont également réalisées.
Book Synopsis Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante by : Hervé Wioland
Download or read book Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante written by Hervé Wioland and published by . This book was released on 2000 with total page 174 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE CONFIGURATION ORIGINALE DE MICROSCOPE OPTIQUE EN CHAMP PROCHE A SONDE PERTURBATIVE EN MODE TRANSMISSION A ETE DEVELOPPEE. ELLE ASSOCIE UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE COMMERCIAL TRAVAILLANT EN MODE RESONANT ET UN MICROSCOPE OPTIQUE INVERSE ASSURANT L'ECLAIRAGE DE L'ECHANTILLON ET LA COLLECTION D'UNE PARTIE DU SIGNAL DIFFUSE. LA POINTE AFM JOUE UN DOUBLE ROLE: ELLE PERMET NON SEULEMENT LA DETECTION DES FORCES INTER-ATOMIQUES PRESENTES ENTRE L'EXTREMITE DE LA POINTE ET LA SURFACE MAIS ELLE AGIT COMME UNE PARTICULE DIFFUSANTE DE RAYLEIGH POUR PERTURBER LE CHAMP PROCHE OPTIQUE PRESENT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON. CETTE CONFIGURATION PERMET L'ACQUISITION SIMULTANEE DE L'IMAGE AFM (TOPOGRAPHIE) ET DE L'IMAGE SNOM (OPTIQUE). LES PREMIERS RESULTATS OBTENUS SUR UN RESEAU DE PLOTS D'ALUMINIUM (PAS DE 400 NM) DEPOSE SUR UN SUBSTRAT DE VERRE NOUS ONT AMENE A NOUS INTERROGER SUR LES ARTEFACTS QUE CETTE ARCHITECTURE ENGENDRE DANS LA FORMATION DE L'IMAGE OPTIQUE, EN PARTICULIER, LA PRESENCE DU LEVIER AFM A UNE FAIBLE DISTANCE DE LA SURFACE ET LES VARIATIONS DE DISTANCE SONDE-SURFACE INDUITES PAR LES INSTABILITES DE L'OSCILLATEUR (LE LEVIER AFM). L'APPLICATION CONCERNE L'ETUDE D'ECHANTILLONS MAGNETIQUES (GRENATS SUBSTITUES) PAR DES EFFETS MAGNETO-OPTIQUES EN CHAMP PROCHE (FARADAY ET DICHROIQUE CIRCULAIRE MAGNETIQUE). LES IMAGES OBTENUES MONTRENT D'UNE PART, UN DECOUPLAGE ENTRE L'INFORMATION TOPOGRAPHIQUE ET LA DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON ET D'AUTRE PART UNE DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION EN SURFACE PLUS COMPLEXE QUE CELLE DE VOLUME.
Book Synopsis MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL by : SYLVIE.. ROUSSET
Download or read book MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL written by SYLVIE.. ROUSSET and published by . This book was released on 1989 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ON DEVELOPPE UN MODELE D'ELECTRONS LIBRES QUI MONTRE COMMENT CERTAINS DEFAUTS SUR LA SURFACE (DEFAUT GAUSSIEN, MARCHE) APPARAISSENT SUR L'IMAGE TUNNEL. INFLUENCE DU PROFIL DE LA POINTE SUR LES IMAGES TUNNEL. ETUDE EXPERIMENTALE DU GRAPHITE ET DE SES COMPOSES D'INSERTION. ETUDE DE L'ADSORPTION DU SOUFRE SUR LES FACES RICINALES (11, 1, 1) ET (8, 1, 0) DU CUIVRE (100) POUR UN TAUX DE RECOUVREMENT DE 0,25
Book Synopsis Microscopie optique en champ proche sans ouverture by : Sébastien Ducourtieux
Download or read book Microscopie optique en champ proche sans ouverture written by Sébastien Ducourtieux and published by . This book was released on 2001 with total page 163 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
