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Author :
Publisher : Ed. Techniques Ingénieur
ISBN 13 :
Total Pages : 15 pages
Book Rating : 4./5 ( download)
Download or read book Test des Circuits Integres Numeriques written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 15 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Jacques Caillat
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 134 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)
Download or read book Contribution au test des circuits intégrés logiques written by Jacques Caillat and published by . This book was released on 1976 with total page 134 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Ahmed Elleuch
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 348 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Contribution au test des circuits intégrés written by Ahmed Elleuch and published by . This book was released on 1989 with total page 348 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'APPROCHE PSEUDO-ALEATOIRE ET L'APPROCHE PREDETERMINEE, MAJORITAIREMENT UTILISEES POUR LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES LOGIQUES, ONT RECOURS A UNE LISTE DE FAUTES HYPOTHETIQUES. UNE FAUTE HYPOTHETIQUE EST ENTIEREMENT DEFINIE PAR LA DONNEE D'UN MODELE LOGIQUE DE FAUTE ASSOCIE A UNE LOCALISATION DANS LE CIRCUIT. LE BUT DE CE TRAVAIL EST D'AFFINER LA LISTE DE FAUTES PRISES EN COMPTE, TANT AU NIVEAU DE LA MODELISATION QU'AU NIVEAU DE LA LOCALISATION. EN CE QUI CONCERNE LA LOCALISATION, UNE METHODOLOGIE BASEE SUR LA PRISE EN COMPTE DE LA DESCRIPTION TOPOLOGIQUE EST PRESENTEE. UN OUTIL LOGICIEL PERMET L'EXTRACTION AUTOMATIQUE DE LA DESCRIPTION DU CIRCUIT ET DE LA LISTE DE FAUTES A PARTIR DU DESSIN DES MASQUES. EN CE QUI CONCERNE LA MODELISATION DES FAUTES, DES CIRCUITS INTEGRES CONTENANT DES TRANSISTORS EN CONFIGURATION DE GRILLE FLOTTANTE ONT ETE REALISES ET CARACTERISES. CETTE ETUDE A PERMIS D'ETABLIR DE NOUVEAUX MODELES LOGIQUES DE FAUTES POUR CE TYPE DE DEFAILLANCE. DE PLUS, UNE METHODOLOGIE GENERALE POUR LA MODELISATION DES FAUTES DEPENDANTES DE LA TOPOLOGIE ET DE LA TECHNOLOGIE A ETE ETABLIE
Author : Pierre Thorel
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 143 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book Contribution au test autonome des circuits VLSI written by Pierre Thorel and published by . This book was released on 1987 with total page 143 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES CMOS A HAUTE DENSITE SE HEURTE A DEUX DIFFICULTES. D'UNE PART, LA COMPLEXITE CROISSANTE ET LA RELATIVE STABILITE DU NOMBRE DE BROCHES LIMITENT LEUR COMMANDABILITE ET LEUR OBSERVABILITE. D'AUTRE PART, LEUR TEST REALISTE SE DOIT DE PRENDRE EN COMPTE CERTAINS DEFAUTS PROPRES A LA TECHNOLOGIE CMOS ET SUSCEPTIBLES DE DONNER A UN DISPOSITIF COMBINATOIRE UN COMPORTEMENT SEQUENTIEL. L'APPROCHE DE TEST AUTONOME INTEGRE PROPOSEE DANS CETTE THESE OFFRE UNE REPONSE SUR CES DEUX POINTS, TANT POUR LE TEST DE FIN DE FABRICATION QUE LE TEST IN SITU. LA METHODE CHOISIE EST BASEE SUR LE TEST ALEATOIRE. ELLE CONDUIT A UN RESULTAT DE TYPE "BON/PAS BON" (SANS LOCALISATION DE DEFAUTS). LE CIRCUIT DISPOSE DE DEUX MODES DE FONCTIONNEMENT DISTINCTS : UN MODE NORMAL ET UN MODE TEST. EN MODE NORMAL, LE CIRCUIT REMPLIT SA FONCTION NOMINALE. EN MODE TEST, LE CIRCUIT EST EXCITE PAR UN GENERATEUR PSEUDO-ALEATOIRE INTEGRE, SES REPONSES ETANT COMPACTEES EN UNE SIGNATURE. APRES UNE DUREE DE TEST PRE-ETABLIE, LA SIGNATURE AINSI OBTENUE EST COMPAREE A CELLE D'UN CIRCUIT CORRECT. CETTE APPROCHE EST MISE EN OEUVRE SUR UN CIRCUIT REALISE AU CNET-CNS : UN MICROPROCESSEUR 16 BITS "MTI". LA GENERALISATION DES SOLUTIONS UTILISEES DANS "MTI" EST EGALEMENT ABORDEE
Author : Laurent Guilbert (ingénieur électronicien).)
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : pages
Book Rating : 4.:/5 (493 download)
Download or read book Contribution a des outils de conception de circuits integres written by Laurent Guilbert (ingénieur électronicien).) and published by . This book was released on 1990 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Alain Peyrard
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 250 pages
Book Rating : 4.:/5 (495 download)
Download or read book Test de circuits intégrés logiques written by Alain Peyrard and published by . This book was released on 1986 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Raoul Velazco
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 250 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)
Download or read book Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables written by Raoul Velazco and published by . This book was released on 1990 with total page 250 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author : Christophe ECOLAN
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 123 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Etude des différentes techniques de conception de test pour les circuits intégrés written by Christophe ECOLAN and published by . This book was released on 1993 with total page 123 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Jacques Galiay
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 151 pages
Book Rating : 4.:/5 (251 download)
Download or read book Conception de circuits à large échelle d'intégration facilement testables written by Jacques Galiay and published by . This book was released on 1978 with total page 151 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La présente étude concerne le test fonctionnel hors ligne de circuits intégrés a grande échelle. Etude des défauts pouvant affecter un circuit intégré afin de déterminer des hypothèses de panne suffisantes pour le test des circuits a large achelle d'intagration. Description et évaluation des principales techniques existantes visant a l'amelioration de la testabilité. méthode de génération de séquences de tests permettant de prendre en compte les courts-circuits et les coupures de connexion du circuit étudié. Présentation d'un certain nombre de règles de conception permettant d'améliorer la testabilité des circuits par action au niveau de l'implantation. techniques de conception permettant d'améliorer l'observabilité et la commandabilité des divers blocs constituant le circuit
Author : Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 233 pages
Book Rating : 4.:/5 (636 download)
Download or read book Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes written by Mohamed Abid (professeur d'électronique).) and published by . This book was released on 1989 with total page 233 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES
Author : Jean-Paul Caisso
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ISBN 13 :
Total Pages : 187 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)
Download or read book Contribution à la vérification des circuits intégrés dans un environnement multivalué written by Jean-Paul Caisso and published by . This book was released on 1987 with total page 187 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le but de cette thèse est de spécifier des outils de simulation, de simulation de pannes et de génération de vecteurs de test, utilisables sur des circuits v.l.s.i. décrits sous forme de réseaux de transistors. Un transistor MOS (interrupteur) est par nature bi-directionnel, et il est impossible de prévoir le sens des courants qui le traversent sans appliquer aux réseaux de transistors un traitement préliminaire, qui reconnait les boucles et les transistors de transmission, et définit le sens de propagation des signaux. Ce traitement préliminaire, bien qu'il permette à la vérification proprement dite d'être plus rapide, ne respecte par le concept de réseau bi-directionnel. On a donc choisi de vérifier les réseaux de transistors de façon directe, en créant des outils qui pallient l'ignorance des courants. En outre, l'algèbre des états représentant les signaux qui circulent dans les réseaux, doit être choisie de façon a pouvoir modéliser tous les comportements spécifiques de ce niveau de description. Cette algèbre est multivaluée, et comporte des couples (valeur, force) décrivant la tension et l'intensité des signaux
Author : Damien Boroch
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ISBN 13 :
Total Pages : 138 pages
Book Rating : 4.:/5 (758 download)
Download or read book Simulation du test électrique de circuits intégrés mixtes written by Damien Boroch and published by . This book was released on 1997 with total page 138 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : A. Verdillon
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 50 pages
Book Rating : 4.:/5 (66 download)
Download or read book Test des circuits integres VLSI written by A. Verdillon and published by . This book was released on 1988 with total page 50 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Sofiane Ellouz
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 128 pages
Book Rating : 4.:/5 (69 download)
Download or read book Techniques innovantes pour la testabilité des circuits intégrés radio-fréquence written by Sofiane Ellouz and published by . This book was released on 2006 with total page 128 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés radio-fréquence subissent différents tests industriels pour vérifier leur conformité aux spécifications du client. Pour réduire l’impact économique du test, il est nécessaire de développer de nouvelles méthodes de tests. La notion de signature a été utilisée pour estimer des performances RF d’un CI à partir de la mesure de courants et tensions continus et en basse fréquence. Le manuscrit détaille tout d’abord une méthode de quantification de la pertinence d’un test. Il décrit ensuite la méthode innovante proposée, qui fait appel à la mise en œuvre des réseaux de neurones. Le manuscrit décrit des blocs de stabilité qui ont pour but d’augmenter la pertinence des mesures et leurs corrélations avec les grandeurs RF. Enfin le manuscrit décrit un flot de conception intégrant la stabilité. Des vérifications expérimentales ont été menées sur des CI industriels et sur un grand nombre de pièces
Author : Djilali Belkadi
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)
Download or read book Contribution à la modélisation et à la simulation des circuits intégrés analogiques written by Djilali Belkadi and published by . This book was released on 1997 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : Jean-Paul Caisso
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)
Download or read book Contribution à la vérification des circuits intégrés dans un environnement multivalué written by Jean-Paul Caisso and published by . This book was released on 1987 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
Author : École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 225 pages
Book Rating : 4.:/5 (113 download)
Download or read book Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité written by École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique and published by . This book was released on 1994 with total page 225 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:
