Analyse Et Caractérisation Des Couplages Substrat Et de la Connectique Dans Les Circuits 3D

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Publisher : Editions Publibook
ISBN 13 : 2753903298
Total Pages : 178 pages
Book Rating : 4.7/5 (539 download)

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Book Synopsis Analyse Et Caractérisation Des Couplages Substrat Et de la Connectique Dans Les Circuits 3D by : Fengyuan Sun

Download or read book Analyse Et Caractérisation Des Couplages Substrat Et de la Connectique Dans Les Circuits 3D written by Fengyuan Sun and published by Editions Publibook. This book was released on 2016 with total page 178 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The proposal of doubling the number of transistors on an IC chip (with minimum costs and subtle innovations) every 24 months by Gordon Moore in 1965 (the so-called called Moore's law) has been the most powerful driver for the emphasis of the microelectronics industry in the past 50 years. This law enhances lithography scaling and integration, in 2D, of all functions on a single chip, increasingly through system-on-chip (SOC). On the other hand, the integration of all these functions can be achieved through 3D integrations . Generally speaking, 3D integration consists of 3D IC packaging, 3D IC integration, and 3D Si integration. They are different and mostly the TSV (through-silicon via) separates 3D IC packaging from 3D IC/Si integrations since the latter two uses TSVs, but 3D IC packaging does not. TSV (with a new concept that every chip or interposer could have two surfaces with circuits) is the heart of 3D IC/Si integrations. Continued technology scaling together with the integration of disparate technologies in a single chip means that device performance continues to outstrip interconnect and packaging capabilities, and hence there exist many difficult engineering challenges, most notably in power management, noise isolation, and intra and inter-chip communication. 3D Si integration is the right way to go and compete with Moore's law (more than Moore versus more Moore). However, it is still a long way to go. In this book, Fengyuan SUN proposes new substrate network extraction techniques. Using this latter, the substrate coupling and loss in IC's can be analyzed. He implements some Green/TLM (Transmission Line Matrix) algorithms in MATLAB. It permits to extract impedances between any number of embedded contacts or/and TSVS. He does investigate models of high aspect ratio TSV, on both analytical and numerical methods electromagnetic simulations. This model enables to extract substrate and TSV impedance, S parameters and parasitic elements, considering the variable resistivity of the substrate. It is full compatible with SPICE-like solvers and should allow an investigation in depth of TSV impact on circuit performance.

Power, Thermal, Noise, and Signal Integrity Issues on Substrate/Interconnects Entanglement

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Publisher : CRC Press
ISBN 13 : 0429680074
Total Pages : 226 pages
Book Rating : 4.4/5 (296 download)

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Book Synopsis Power, Thermal, Noise, and Signal Integrity Issues on Substrate/Interconnects Entanglement by : Yue Ma

Download or read book Power, Thermal, Noise, and Signal Integrity Issues on Substrate/Interconnects Entanglement written by Yue Ma and published by CRC Press. This book was released on 2019-03-08 with total page 226 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: As demand for on-chip functionalities and requirements for low power operation continue to increase as a result of the emergence in mobile, wearable and internet-of-things (IoT) products, 3D/2.5D have been identified as an inevitable path moving forward. As circuits become more and more complex, especially three-dimensional ones, new insights have to be developed in many domains, including electrical, thermal, noise, interconnects, and parasites. It is the entanglement of such domains that begins the very key challenge as we enter in 3D nano-electronics. This book aims to develop this new paradigm, going to a synthesis beginning between many technical aspects.

Caractérisation et modélisation électrique des phénomènes de couplage par les substrats de silicium dans les empilements 3D de circuits intègrés

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Total Pages : 0 pages
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Book Synopsis Caractérisation et modélisation électrique des phénomènes de couplage par les substrats de silicium dans les empilements 3D de circuits intègrés by : Elie Eid

Download or read book Caractérisation et modélisation électrique des phénomènes de couplage par les substrats de silicium dans les empilements 3D de circuits intègrés written by Elie Eid and published by . This book was released on 2012 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Afin d'améliorer les performances électriques dans les circuits intégrés en 3D, une large modélisation électromagnétique et une caractérisation haute fréquence sont requises. Cela a pour but de quantifier et prédire les phénomènes de couplage par le substrat qui peuvent survenir dans ces circuits intégrés. Ces couplages sont principalement dus aux nombreuses interconnexions verticales par unité de volume qui traversent le silicium et que l'on nomme « Through Silicon Vias » (TSV).L'objectif de cette thèse est de proposer des règles d'optimisation des performances, à savoir la minimisation des effets de couplage par les substrats en RF. Pour cela, différentes configurations de structures de test utilisées pour analyser le couplage sont caractérisées.Les caractérisations sont effectuées sur un très large spectre de fréquence. Les paramètres d'analyse sont les épaisseurs du substrat, les architectures des vias traversant (diamètres, densités, types de barrières), ainsi que la nature des matériaux utilisés. Des modèles électriques permettant de prédire les phénomènes de couplage sont extraits. Différents outils pour l'analyse de ces effets, sont développés dans notre laboratoire. Parallèlement un important travail de modélisation 3D est mené de façon à confronter mesure et simulation et valider nos résultats. Des stratégies d'optimisation pour réduire ces phénomènes dans les circuits 3D ont été proposées, ce qui a permis de fournir de riches informations aux designers.

Caractérisation et analyse du couplage substrat entre le TSV et les transistors MOS dans les circuits intégrés 3D.

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Book Synopsis Caractérisation et analyse du couplage substrat entre le TSV et les transistors MOS dans les circuits intégrés 3D. by : Mélanie Brocard

Download or read book Caractérisation et analyse du couplage substrat entre le TSV et les transistors MOS dans les circuits intégrés 3D. written by Mélanie Brocard and published by . This book was released on 2013 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ces dernières années ont vu l'émergence d'un nouveaux concept dans le domaine de la microélectronique pour répondre aux besoins grandissant en termes de performances et taille des puces et trouver une alternative au loi de Moore et de More than Moore qui atteignent leur limites. Il s'agit de l'intégration tridimensionnelle des circuits intégrés. Cette innovation de rupture repose sur l'empilement de puces aux fonctionnalités différentes et la transmission des signaux au travers des substrats de silicium via des TSV (via traversant le silicium). Très prometteurs en termes de bande passante et de puissance consommée devant les circuits 2D, les circuits intégrés 3D permettent aussi d'avoir des facteurs de forme plus agressifs. Des points clés par rapport aux applications en vogue sur le marché (téléphonie, appareils numériques) Un prototype nommé Wide I/O DRAM réalisé à ST et au Leti a démontré ses performances face à une puce classique POP (Package on Package), avec une bande passante multipliée par huit et une consommation divisée par deux. Cependant, l'intégration de plus en plus poussée, combinée à la montée en fréquence des circuits, soulève les problèmes des diaphonies entre les interconnexions TSV et les circuits intégrés, qui se manifestent par des perturbations dans le substrat. Ces TSV doivent pouvoir véhiculer des signaux agressifs sans perturber le fonctionnement de blocs logiques ou analogiques situés à proximité, sensibles aux perturbations substrat. Cette thèse a pour objectif d'évaluer ces niveaux de diaphonies sur une large gamme de fréquence (jusqu'à 40 GHz) entre le TSV et les transistors et d'apporter des solutions potentielles pour les réduire. Elle repose sur de la conception de structure de test 3D, leur caractérisation, la modélisation des mécanismes de couplage, et des simulations.

The Science of Metals

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ISBN 13 :
Total Pages : 492 pages
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Book Synopsis The Science of Metals by : Zay Jeffries

Download or read book The Science of Metals written by Zay Jeffries and published by . This book was released on 1924 with total page 492 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Ballistic missile defense glossary

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Publisher : DIANE Publishing
ISBN 13 : 1428981349
Total Pages : 323 pages
Book Rating : 4.4/5 (289 download)

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Book Synopsis Ballistic missile defense glossary by :

Download or read book Ballistic missile defense glossary written by and published by DIANE Publishing. This book was released on 1997 with total page 323 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Lightning Protection Guidelines for Aerospace Vehicles

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ISBN 13 :
Total Pages : 52 pages
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Book Synopsis Lightning Protection Guidelines for Aerospace Vehicles by : C. C. Goodloe

Download or read book Lightning Protection Guidelines for Aerospace Vehicles written by C. C. Goodloe and published by . This book was released on 1999 with total page 52 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Scientific Canadian Mechanics' Magazine and Patent Office Record

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ISBN 13 :
Total Pages : 1070 pages
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Book Synopsis Scientific Canadian Mechanics' Magazine and Patent Office Record by : Canada. Patent Office

Download or read book Scientific Canadian Mechanics' Magazine and Patent Office Record written by Canada. Patent Office and published by . This book was released on 1966-03 with total page 1070 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

American Fertilizers

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Total Pages : 26 pages
Book Rating : 4.:/5 (31 download)

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Book Synopsis American Fertilizers by : Perry Eugene Howard

Download or read book American Fertilizers written by Perry Eugene Howard and published by . This book was released on 1932 with total page 26 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: In this publication is given a brief description of the production of commercial fertilizer. It is believed that this description, which complex technical discussion and statistics are avoided, will be of use to students, as well as farmers and gardeners.