Analyse De Signature Des Circuits Integres Complexes Par Test Aleatoire Utilisant Les Methodes De Traitement Du Signal

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Analyse de signature des circuits intégrés complexes par test aléatoire utilisant les méthodes de traitement du signal

Author : Jean-Luc Gasser
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 162 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)

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Book Synopsis Analyse de signature des circuits intégrés complexes par test aléatoire utilisant les méthodes de traitement du signal by : Jean-Luc Gasser

Download or read book Analyse de signature des circuits intégrés complexes par test aléatoire utilisant les méthodes de traitement du signal written by Jean-Luc Gasser and published by . This book was released on 1986 with total page 162 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ON PRESENTE UNE METHODE DE TEST DES COMPOSANTS A TRES HAUTE DENSITE D'INTEGRATION (VLSI), ET SON APPLICATION AU MICROPROCESSEUR 6809 (THOMSON-EFCIS). UNE STRATEGIE DE TEST ALEATOIRE EST PROPOSEE: ON SOUMET LE COMPOSANT A ANALYSER A UNE SEQUENCE DE VECTEURS ALEATOIRES, QUI N'EST PAS FORCEMENT REPRODUCTIBLE, ET ON ANALYSE SA REPONSE PAR DES METHODES DE TRAITEMENT DU SIGNAL. AUCUN MODELE DU COMPOSANT ET TRES PEU D'HYPOTHESES DE PANNE SONT ELABORES. ON RAPPELLE LES PRINCIPES DE DEUX METHODES PERMETTANT DE SIMULER DES PANNES OU DE TESTER LA RESISTANCE DES COMPOSANTS AUX RAYONNEMENTS COSMIQUES: L'UTILISATION DES LASERS ET CELLE DE SOURCES RADIOACTIVES. LES RESULTATS EXPERIMENTAUX DE L'IRRADIATION ELECTRONIQUE D'UN LOT DE SIX 6809 METTENT EN EVIDENCE DES POINTS FAIBLES DE CE COMPOSANT. ON ETABLIT UNE STATISTIQUE DES PANNES EN TENANT COMPTE DE SA STRUCTURE INTERNE. LA SIGNATURE PARTIELLE DU MICROPROCESSEUR EST OBTENUE PAR UNE METHODE D'ANALYSE D'HISTOGRAMME. L'APPLICATION DES FONCTIONS DE WALSH-RADEMACHER PERMET L'ELABORATION D'UN ESTIMATEUR DU COMPORTEMENT INDIVIDUEL DE CHAQUE BIT DU BUS DU COMPOSANT, DONT LES PROPRIETES THEORIQUES ET NUMERIQUES SONT DECRITES. ON EN DEDUIT LA DISTRIBUTION DE LA SEQUENCE A ANALYSER QUI AUTORISE LA PROBABILITE DE DETECTION DE PANNE MAXIMALE. ON EFFECTUE L'ANALYSE SPECTRALE DE L'ESTIMATEUR PAR LES METHODES CLASSIQUES (FFT) ET PAR LA MODELISATION AUTOREGRESSIVE (AR). LA MOYENNE DE L'ESTIMATEUR EST UN PARAMETRE SIGNIFICATIF, ET SON ANALYSE SPECTRALE MET EN EVIDENCE CERTAINES PROPRIETES DU SIGNAL, MAIS EGALEMENT DES PROBLEMES DE NON-STATIONARITE QUI N'ONT PAS ETE RESOLUS A CAUSE DES LIMITATIONS DUES A L'IMPLANTATION MATERIELLE. DES SOLUTIONS A CES PROBLEMES SONT PROPOSEES, ET ON EXAMINE LES APPLICATIONS DE LA METHODE DE TEST A D'AUTRES COMPOSANTS OU A DES SYSTEMES LOGIQUES PLUS COMPLEXES

Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels

Author : Margot Karam
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 338 pages
Book Rating : 4.:/5 (537 download)

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Book Synopsis Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels by : Margot Karam

Download or read book Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels written by Margot Karam and published by . This book was released on 1991 with total page 338 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE CONCERNE L'UTILISATION DE MODELES FONCTIONNELS DANS LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES. DANS LA PREMIERE PARTIE, DES VECTEURS DE TEST SONT GENERES POUR LES AUTOMATES D'ETATS FINIS A PARTIR DE LEURS SPECIFICATIONS DE SYNTHESE. UN PREMIER ENSEMBLE DE VECTEURS DE TEST EST CALCULE EN PARCOURANT TOUS LES ARCS DU GRAPHE DE CONTROLE. LES VALEURS D'ENTREES NON SPECIFIEES SUR LES TRANSITIONS SONT FIXEES AFIN D'ACCROITRE LA COUVERTURE. IL EST MONTRE QUE CE TEST A UNE EXCELLENTE COUVERTURE PAR RAPPORT A SA LONGUEUR. LES FAUTES RESIDUELLES SONT DETECTEES PAR UNE METHODE DE DISTINCTION SUR LES MODELES MACHINE JUSTE MACHINE FAUSSE. LA DEUXIEME PARTIE EST CONSACREE AU TEST HIERARCHISE DE CIRCUITS COMPLEXES. LES VECTEURS DE TEST LOCAUX AUX BLOCS SONT JUSTIFIES VERS LES ENTREES PRIMAIRES ET PROPAGES EN AVANT VERS LES SORTIES PRIMAIRES EN UTILISANT DES VARIABLES SYMBOLIQUES ET DES MODELES FONCTIONNELS POUR LES BLOCS TRAVERSES. DES TECHNIQUES ORIGINALE DE PROPAGATION RETARDEE PERMETTENT DE RESTREINDRE LE NOMBRE D'ECHECS DES PROPAGATIONS. UN PROTOTYPE EN PROLOG A ETE EXPERIMENTE

Traitement numérique des signaux

Author : Murat Kunt
Publisher : EPFL Press
ISBN 13 : 2880743524
Total Pages : 420 pages
Book Rating : 4.8/5 (87 download)

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Book Synopsis Traitement numérique des signaux by : Murat Kunt

Download or read book Traitement numérique des signaux written by Murat Kunt and published by EPFL Press. This book was released on 1996-01-01 with total page 420 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La transformation de Fourier (Vol. IV et VI) est un outil très précieux en traitement des signaux, elle intervient en particulier dans l'analyse spectrale, qui en est une application fondamentale. Avec les méthodes classiques, le calcul de cette transforma- tion par voie numérique nécessite un temps de calcul prohibitif. L'algorithme de cal- cul rapide - connu sous le nom de transformation de Fourier rapide (en anglais : Fast Fourier Transform ou FFT) — a permis de réduire considérablement ce temps de calcul. Plusieurs méthodes, en particulier un certain nombre de traitements non linéaires déve- loppés préalablement sur le plan théorique, ont pu être appliquées avec succès grâce à cet algorithme. Le traitement numérique des signaux bidimensionnels — c'est-à-dire des images — a également bénéficié très fortement de cet algorithme, dont l'introduction dans cette discipline a constitué un tournant. Les progrès technologiques continus dans le domaine des circuits intégrés, surtout à large échelle, ont permis la réduction des prix et des dimensions des systèmes numéri- ques, tout en permettant la conception de circuits de plus en plus complexes. C'est ainsi qu'on est passé des ordinateurs aux mini-ordinateurs, dont l'architecture peut être conçue de manière à optimiser les traitements numériques. Actuellement, des organes périphériques spécialisés, de complexité croissante, se développent pour augmenter la vitesse tout en maintenant un coût économiquement admissible. Le développement relativement récent des microprocesseurs a permis une miniaturisation plus grande tout en gardant l'avantage de la souplesse. Parallèlement, des circuits intégrés spécialisés, moins souples mais rapides, ont été développés permettant l'élaboration de systèmes de traitements numériques complexes qui travaillent en temps réel. Aujourd'hui, une gran- de partie des systèmes modernes de transmission de parole, de radar et de sonar sont entièrement numériques. Grâce aux progrès mentionnés précédemment, le traitement numérique de signaux est devenu, de nos jours, une discipline à part entière dont l'im- portance ne fait que croître. C'est pour les raisons citées ci-dessus que le volume XX s'insère dans le Traité d'Electricité, afin de couvrir le volet complémentaire du volume VI, tout en signalant les concepts similaires. Hormis quelques notions fondamentales sur la décomposition en série de Fourier — introduites dans le volume IV et développées dans le volume VI — la lecture du présent volume ne nécessite comme connaissances préalables, que les bases élémentaires de la théorie des probabilités, des fonctions complexes et du calcul matriciel.

Contribution au test autonome des circuits VLSI

Author : Pierre Thorel
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 143 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)

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Book Synopsis Contribution au test autonome des circuits VLSI by : Pierre Thorel

Download or read book Contribution au test autonome des circuits VLSI written by Pierre Thorel and published by . This book was released on 1987 with total page 143 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES CMOS A HAUTE DENSITE SE HEURTE A DEUX DIFFICULTES. D'UNE PART, LA COMPLEXITE CROISSANTE ET LA RELATIVE STABILITE DU NOMBRE DE BROCHES LIMITENT LEUR COMMANDABILITE ET LEUR OBSERVABILITE. D'AUTRE PART, LEUR TEST REALISTE SE DOIT DE PRENDRE EN COMPTE CERTAINS DEFAUTS PROPRES A LA TECHNOLOGIE CMOS ET SUSCEPTIBLES DE DONNER A UN DISPOSITIF COMBINATOIRE UN COMPORTEMENT SEQUENTIEL. L'APPROCHE DE TEST AUTONOME INTEGRE PROPOSEE DANS CETTE THESE OFFRE UNE REPONSE SUR CES DEUX POINTS, TANT POUR LE TEST DE FIN DE FABRICATION QUE LE TEST IN SITU. LA METHODE CHOISIE EST BASEE SUR LE TEST ALEATOIRE. ELLE CONDUIT A UN RESULTAT DE TYPE "BON/PAS BON" (SANS LOCALISATION DE DEFAUTS). LE CIRCUIT DISPOSE DE DEUX MODES DE FONCTIONNEMENT DISTINCTS : UN MODE NORMAL ET UN MODE TEST. EN MODE NORMAL, LE CIRCUIT REMPLIT SA FONCTION NOMINALE. EN MODE TEST, LE CIRCUIT EST EXCITE PAR UN GENERATEUR PSEUDO-ALEATOIRE INTEGRE, SES REPONSES ETANT COMPACTEES EN UNE SIGNATURE. APRES UNE DUREE DE TEST PRE-ETABLIE, LA SIGNATURE AINSI OBTENUE EST COMPAREE A CELLE D'UN CIRCUIT CORRECT. CETTE APPROCHE EST MISE EN OEUVRE SUR UN CIRCUIT REALISE AU CNET-CNS : UN MICROPROCESSEUR 16 BITS "MTI". LA GENERALISATION DES SOLUTIONS UTILISEES DANS "MTI" EST EGALEMENT ABORDEE

TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES

Author : JAIME.. VELASCO MEDINA
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 207 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)

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Book Synopsis TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES by : JAIME.. VELASCO MEDINA

Download or read book TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES written by JAIME.. VELASCO MEDINA and published by . This book was released on 1999 with total page 207 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.

Test des Circuits Integres Numeriques

Author :
Publisher : Ed. Techniques Ingénieur
ISBN 13 :
Total Pages : 15 pages
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Book Synopsis Test des Circuits Integres Numeriques by :

Download or read book Test des Circuits Integres Numeriques written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 15 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes

Author : Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 233 pages
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Book Synopsis Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes by : Mohamed Abid (professeur d'électronique).)

Download or read book Validation des séquences de test des circuits intégrés complexes written by Mohamed Abid (professeur d'électronique).) and published by . This book was released on 1989 with total page 233 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES

Application de méthodes de traitement du signal au test aléatoire de microprocesseurs

Author : Marc Fornoff
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 128 pages
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Book Synopsis Application de méthodes de traitement du signal au test aléatoire de microprocesseurs by : Marc Fornoff

Download or read book Application de méthodes de traitement du signal au test aléatoire de microprocesseurs written by Marc Fornoff and published by . This book was released on 1983 with total page 128 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: APPLICATION DES METHODES MODERNES DE TRAITEMENT DU SIGNAL A L'ANALYSE DES SIGNAUX ISSUS D'UN MICROPROCESSEUR SOUS TEST ALEATOIRE EN VUE DE LA DETECTION DES PANNES

Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse

Author : Joseph Bulone
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 240 pages
Book Rating : 4.:/5 (488 download)

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Book Synopsis Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse by : Joseph Bulone

Download or read book Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse written by Joseph Bulone and published by . This book was released on 1994 with total page 240 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette thèse propose une extension des méthodes classiques de chemins de «scan». On utilise des opérateurs combinatoires plus généraux à la place des multiplexeurs à une seule sortie. Ils peuvent comporter des entrées et des sorties multiples. Ils peuvent boucler sur eux-mêmes par l'intermédiaire d'une ou plusieurs bascules. Lorsqu'ils vérifient certaines propriétés de bijectivité et qu'ils forment une structure propageant de l'information, alors cette structure est aussi utile que les chaînes du «scan» complet et s'utilise de manière semblable. Elle permet aussi une approche hiérarchique du test des circuits. On montre comment tirer profit de cette méthode plus générale pour réduire l'impact de la méthode de «scan» complet sur les performances de circuits complexes implantant des fonctions mathématiques courantes ou des séquenceurs. Des résultats sont donnés pour le cas réel d'un circuit CMOS, très rapide, spécifique pour le réseau numérique large bande et pour lequel les contraintes en vitesse étaient primordiales

SYNTHESE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES DEDIEES A DES APPLICATIONS DE TRAITEMENT DU SIGNAL

Author : BRUNO.. GRIMAL
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 219 pages
Book Rating : 4.:/5 (49 download)

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Book Synopsis SYNTHESE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES DEDIEES A DES APPLICATIONS DE TRAITEMENT DU SIGNAL by : BRUNO.. GRIMAL

Download or read book SYNTHESE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES DEDIEES A DES APPLICATIONS DE TRAITEMENT DU SIGNAL written by BRUNO.. GRIMAL and published by . This book was released on 1994 with total page 219 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: POUR CONCEVOIR DES CIRCUITS INTEGRES DE PLUS EN PLUS COMPLEXES SATISFAISANT A DES CONTRAINTES DE TEMPS REEL FORTES, DES OUTILS DE SYNTHESE D'ARCHITECTURES ONT ETE MIS AU POINT, NOTAMMENT DANS LE DOMAINE DES APPLICATIONS DE TRAITEMENT DU SIGNAL SOUS CONTRAINTE TEMPS REEL. NOUS ETUDIONS ICI, UNE VOIE COMPLEMENTAIRE A LA SYNTHESE DE HAUT NIVEAU, QUI EST LA SYNTHESE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES DEDIEES A DES APPLICATIONS DE TRAITEMENT DU SIGNAL. NOTRE APPROCHE NOUS A AMENES A DEFINIR UN MODELE GENERIQUE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES, UN MODELE DE CALCUL DU TAUX DE COUVERTURE DES ERREURS ET A DEVELOPPER UNE METHODOLOGIE DE CONCEPTION AUTOMATIQUE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES. NOUS NOUS INTERESSONS A LA SYNTHESE D'ARCHITECTURES DEVANT FONCTIONNER SOUS CONTRAINTE DE TEMPS REEL. NOUS AVONS RETENU, COMME TECHNIQUE D'AUTOTEST, LA TECHNIQUE BASEE SUR LE CODAGE DES NOMBRES PAR CODES SEPARABLES. CETTE TECHNIQUE REPOND PARFAITEMENT A LA DEFINITION D'UN MODELE GENERIQUE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES ET AU CONTROLE DU SURCOUT PAR L'UTILISATION D'UNE CONTRAINTE DE TAUX DE COUVERTURE. NOUS AVONS DEFINI UN MODELE DE CALCUL DU TAUX DE COUVERTURE DES ERREURS DANS UNE ARCHITECTURE DE TRAITEMENT DU SIGNAL. NOTRE MODELE INTEGRE LA VARIATION DE LA CAPACITE DE DETECTION DES ERREURS EN FONCTION DU TYPE DE CODAGE. IL PREND AUSSI EN COMPTE LES DIFFERENTES COMPLEXITES DES OPERATEURS POUVANT ETRE UTILISES DANS LES ARCHITECTURES SYNTHETISEES. GRACE A UNE RECHERCHE OPTIMALE DES TECHNIQUES DE CODAGE, NOTRE MODELE PERMET UNE MINIMISATION DE LA SURFACE DU CIRCUIT INTEGRE. ENFIN, NOUS AVONS DEVELOPPE UNE METHODOLOGIE DE CONCEPTION D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES. CETTE METHODOLOGIE INTEGRE DEUX NOTIONS CONTRADICTOIRES QUI SONT LA SYNTHESE SOUS CONTRAINTES DE TEMPS REEL ET DE TAUX DE COUVERTURE, ET LA SYNTHESE D'UNE ARCHITECTURE DONT LA SURFACE EST MINIMALE. CETTE ETUDE NOUS A AMENES A REDEFINIR L'ETAPE DE L'OPTIMISATION DE L'ARCHITECTURE (FUSION DES REGISTRES) DE MANIERE A Y INTEGRER LES NOUVELLES CONTRAINTES INTRODUITES PAR L'AUTOTEST. CES ETUDES ONT DEBOUCHE SUR LE DEVELOPPEMENT D'UN OUTIL DE SYNTHESE D'ARCHITECTURES AUTOTESTABLES POUR DES APPLICATIONS TEMPS REEL, DEVELOPPE EN LANGAGE C SUR STATIONS DE TRAVAIL DE TYPE SUN. DES RESULTATS EN SYNTHESE SUR DES PROGRAMMES TESTS RECONNUS DANS LE DOMAINE DU TRAITEMENT DU SIGNAL AINSI QUE SUR DES ALGORITHMES D'ANNULATION D'ECHO ACOUSTIQUE ONT PERMIS D'EVALUER LES PERFORMANCES DE NOTRE OUTIL

Test et test intégré de pannes temporelles

Author : Véronique Moreda
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 161 pages
Book Rating : 4.:/5 (494 download)

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Book Synopsis Test et test intégré de pannes temporelles by : Véronique Moreda

Download or read book Test et test intégré de pannes temporelles written by Véronique Moreda and published by . This book was released on 1998 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: AVEC L'EVOLUTION DE LA COMPLEXITE ET DES PERFORMANCES DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES, LE TEST DE CES CIRCUITS DEVIENT DE PLUS EN PLUS DIFFICILE. UNE DES SOLUTIONS ACTUELLEMENT ENVISAGEE POUR PALLIER CE PROBLEME CONSISTE A INTEGRER SUR LE CIRCUIT UNE STRUCTURE DE TEST, C'EST-A-DIRE, UN GENERATEUR DE VECTEURS DE TEST ET UN ANALYSEUR DE SIGNATURE. DANS LE CADRE DE CETTE THESE, NOUS NOUS SOMMES PLUS PARTICULIEREMENT INTERESSES AUX STRUCTURES DE GENERATION DE VECTEURS DE TEST INTEGREES. UN CERTAIN NOMBRE DE STRUCTURES ONT ETE DEVELOPPEES SPECIFIQUEMENT POUR GENERER LES VECTEURS DE TEST DE MANIERE INTERNE. TOUTEFOIS, PEU D'ENTRE ELLES ONT ETE REALISEES EN CONSIDERANT LES SPECIFICITES DES PANNES TEMPORELLES, LEUR EFFICACITE AYANT EN EFFET ETE ANALYSEE SURTOUT PAR RAPPORT AU MODELE DE PANNES DE COLLAGE. LE BUT DE CETTE THESE EST DE CONCEVOIR UNE STRUCTURE DE GENERATION INTEGREE PERMETTANT DE TESTER LES PANNES TEMPORELLES. APRES AVOIR PRESENTE TOUTES LES NOTIONS FONDAMENTALES SUR LES PANNES TEMPORELLES, NOUS AVONS ENSUITE ABORDE LE PROBLEME DE GENERATION INTEGREE DE VECTEURS DANS LE CADRE DU TEST DE PANNES TEMPORELLES. COMPTE TENU DE LA DIFFICULTE A PRODUIRE DES PAIRES DE VECTEURS DE TEST EFFICACES, NOUS AVONS PROPOSE UNE NOUVELLE ARCHITECTURE DE GENERATION DE VECTEURS DEDIEE A LA DETECTION DE PANNES TEMPORELLES DANS LES CIRCUITS COMBINATOIRES. NOUS AVONS ENSUITE ADAPTE CETTE SOLUTION AU TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS DANS UN ENVIRONNEMENT SCAN. L'ANALYSE DES RESULTATS A MONTRE L'INTERET DES STRUCTURES PROPOSEES PAR RAPPORT AUX AUTRES METHODES, AUSSI BIEN EN TERMES DE SURFACE D'IMPLANTATION QUE DE TEMPS DE TEST.

Contribution a l'etude du test aleatoire des circuits sequentiels et des memoires

Author : P.. THEVENOD FOSSE
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 325 pages
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Book Synopsis Contribution a l'etude du test aleatoire des circuits sequentiels et des memoires by : P.. THEVENOD FOSSE

Download or read book Contribution a l'etude du test aleatoire des circuits sequentiels et des memoires written by P.. THEVENOD FOSSE and published by . This book was released on 1978 with total page 325 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléatoire de circuits séquentiels. Étude du test aléatoire de circuits séquentiels intègres (SSI, MSI). Exemples d'influence des probabilités des entrées sur la largeur de la séquence de test.

Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique

Author : Mustapha Remmach
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 0 pages
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Book Synopsis Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique by : Mustapha Remmach

Download or read book Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique written by Mustapha Remmach and published by . This book was released on 2009 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'émission de lumière est une puissante technique de localisation dans le domaine de l'analyse de défaillance des circuits intégrés. Depuis plusieurs années, elle est utilisée comme une technique capable de localiser et d'identifier des défauts émissifs, tels que les courants de fuites, en fonctionnement statique du composant. Cependant, l'augmentation d'intégration et des performances des circuits actuels implique l'apparition d'émissions de défauts dynamiques dus à l'utilisation de fréquences de fonctionnement de plus en plus élevées. Ces contraintes imposent une adaptation de la technique d'émission de lumière qui doit donc évoluer en même temps que l'évolution des circuits intégrés. C'est dans ce contexte que de nouveaux modes de détection, liés à l'émission de lumière, est apparu : PICA et TRE. Ainsi, les photons sont collectés en fonction du temps donnant ainsi une place importante à la technique par émission de lumière dynamique pour le debbug et l'analyse de défaillance en procédant à une caractérisation précise des défauts issus des circuits intégrés actuels. Pour répondre aux exigences dues à l'analyse du comportement dynamique des circuits intégrés, des méthodes ont été identifiées à travers la technique PICA et la technique d'émission en temps résolu connue sous le nom de technique mono-point TRE. Cependant, les techniques PICA et TRE sont exposées à un défi continu lié à la diminution des technologies et donc des tensions d'alimentation. Pour analyser des circuits de technologies futures à faible tension d'alimentation, il est nécessaire de considérer différentes approches afin d'améliorer le rapport signal sur bruit. Deux solutions sont présentées dans ce document : un système de détection optimisé et des méthodes de traitement de signal.

Localisation de défauts dans les circuits intégrés complexes dont le dessin des masques est inconnu

Author : Romain Desplats
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 264 pages
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Book Synopsis Localisation de défauts dans les circuits intégrés complexes dont le dessin des masques est inconnu by : Romain Desplats

Download or read book Localisation de défauts dans les circuits intégrés complexes dont le dessin des masques est inconnu written by Romain Desplats and published by . This book was released on 1998 with total page 264 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE MEMOIRE PRESENTE DES METHODES ET TECHNIQUES INNOVANTES POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES DONT LE DESSIN DES MASQUES EST INCONNU. LES AVANCEES PROPOSEES REPONDENT A UN BESOIN RENCONTRE POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS COMMERCIAUX ET PROGRAMMABLES. UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART DES TECHNIQUES DE LOCALISATION PAR CONTRASTE DE POTENTIEL A MIS EN EVIDENCE L'ABSENCE DE TECHNIQUES OU METHODES POUR REPONDRE EFFICACEMENT ET DANS DES DELAIS BREFS A CE DEFI DE LOCALISATION. LE LOGICIEL IMAGE FAULT ANALYSIS (IFA) IMPLANTE SUR LES TESTEURS PAR FAISCEAU D'ELECTRONS IDS 5000 OFFRE LES BASES D'UNE METHODE DE LOCALISATION PAR COMPARAISON D'IMAGES ENTRE UN CIRCUIT DEFAILLANT ET UN CIRCUIT DE REFERENCE. EN S'APPUYANT SUR IFA, NOUS AVONS EVALUE DE FACON PRATIQUE ET THEORIQUE LA DUREE DE LOCALISATION ET LES PARAMETRES MIS EN JEUX, TELS QUE LA SURFACE DU CIRCUIT, LE NOMBRE DE VECTEURS ET LE TEMPS DE CHANGEMENT DE CIRCUITS. BASEES SUR CETTE ETUDE, NOUS AVONS DEVELOPPE DEUX APPROCHES : IFA DICHOTOMIE QUI RAMENE LA DUREE DE LOCALISATION DE PLUSIEURS MOIS AVEC IFA AUTOMATIQUE (METHODE DE BASE SUR L'IDS) A MOINS D'UNE SEMAINE (28 H MACHINE) POUR UN CIRCUIT PROGRAMMABLE FPGA D'UNE TAILLE DE 1 CM#2 ET IFA BACKTRACING QUI REDUIT CETTE DUREE A MOINS DE HUIT HEURES POUR LE MEME CIRCUIT DANS LE CAS D'UN FONCTIONNEMENT MARGINAL (LE MEME CIRCUIT PEUT ETRE MIS DANS UNE CONFIGURATION DEFAILLANTE OU FONCTIONNELLE). POUR ALLER PLUS LOIN ET REDUIRE ENCORE LA DUREE DE LA LOCALISATION, DES INFORMATIONS SUPPLEMENTAIRES ONT ALORS ETE INJECTEES PERMETTANT LE DEVELOPPEMENT D'APPROCHES NOVATRICES TELLES QUE : - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LE TEST I#D#D#Q, - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LA SIMULATION ELECTRIQUE POUR LE TEST INTERNE, - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LA GENERATION D'UN PSEUDO-LAYOUT. CETTE DERNIERE APPROCHE, DANS LE CAS D'UN CIRCUIT A1280 PERMET, GRACE A LA TECHNIQUE DE LA SELECTION DE SIGNAUX (QUE NOUS AVONS IMPLANTEE SUR L'IDS), DE S'AFFRANCHIR DE LA CONTRAINTE DU MODE IMAGE POUR ACCEDER AUX OUTILS DE NAVIGATION, SIMULATION ET MESURE COMME POUR UN ASIC POUR LEQUEL LE DESSIN DES MASQUES EST ACCESSIBLE.

Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes

Author : Catherine Bellon
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 253 pages
Book Rating : 4.:/5 (489 download)

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Book Synopsis Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes by : Catherine Bellon

Download or read book Le test fonctionnel de circuits intégrés complexes written by Catherine Bellon and published by . This book was released on 1984 with total page 253 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une approche fonctionnelle du test est nécessaire pour les circuits intégrés complexes. Dans une première partie, on propose une génération multi-niveaux des séquences de test, en partant de l'ensemble des activations fonctionnelles du circuit, tout en prenant en compte la structure fine des modules composant le circuit. Les méthodes proposées s'apparentent aux méthodes de test de logiciel et aux méthodes d'identification d'automates. Dans une deuxième partie, le test fonctionnel «usager» de microprocesseurs est étudié; on propose une méthode de test originale, qui prend en compte les signaux d'entrée asynchrones, et qui permet la génération automatique des programmes de test. Le testeur spécialisé et le système de génération des programmes de test sont présentés

Étude de la pertinence de modélisation paramétrique de signaux pour le test aléatoire des microprocesseurs

Author : Wei-Ming Ye
Publisher :
ISBN 13 :
Total Pages : 154 pages
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Book Synopsis Étude de la pertinence de modélisation paramétrique de signaux pour le test aléatoire des microprocesseurs by : Wei-Ming Ye

Download or read book Étude de la pertinence de modélisation paramétrique de signaux pour le test aléatoire des microprocesseurs written by Wei-Ming Ye and published by . This book was released on 1987 with total page 154 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES METHODES D'ANALYSE DE SIGNATURE DES SIGNAUX DE MICROPROCESSEURS EN TEST ALEATOIRE PERMETTENT DE DETECTER LES PANNES INTERNES SOUS UNE CONTRAINTE SPATIALE. L'ANALYSE EST EFFECTUEE A LA SORTIE SOUS LA FORME D'AUTOCORRELATION, D'ETUDE SPECTRALE, DE DISTANCES CEPSTRALES

Analyse des signaux analogiques et numériques

Author : Frédéric Cohen-Tenoudji
Publisher : Ellipses Marketing
ISBN 13 : 9782729875367
Total Pages : 387 pages
Book Rating : 4.8/5 (753 download)

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Book Synopsis Analyse des signaux analogiques et numériques by : Frédéric Cohen-Tenoudji

Download or read book Analyse des signaux analogiques et numériques written by Frédéric Cohen-Tenoudji and published by Ellipses Marketing. This book was released on 2012 with total page 387 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le livre expose l'architecture de la théorie du signal et fournit les outils d'applications. Chaque concept y est introduit et expliqué pas à pas de manière didactique, les outils mathématiques indispensables étant intégrés de façon accessible et intuitive. Les systèmes et signaux analogiques sont d'abord utilisés pour établir les bases de l'analyse du signal. Puis les traitements des signaux numériques sont exposés dans une deuxième partie, en montrant leurs avantages déterminants. La troisième partie est consacrée aux signaux aléatoires, à l'estimation spectrale et à la modélisation paramétrique. Pour le traitement des signaux certains, sont développés les séries et les transformations de Fourier analogiques et numériques, les transformations de Laplace, de Hilbert, en z, les filtrages analogique et numérique. Sont en outre exposés les transformations en ondelettes, l'analyse multirésolution, le filtrage inverse, la déconvolution, le cepstrum complexe et la modélisation paramétrique, Ces méthodes sont ensuite étendues pour le traitement des signaux aléatoires. A l'heure d'Internet et de l'océan d'informations qu'il fournit (souvent excellentes, mais parcellaires), ce livre apporte une compréhension théorique solide. Il permet d'accéder à la maîtrise des applications les plus récentes dans des domaines aussi variés que l'analyse acoustique, la géophysique ou la compression de données.